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材料分析方法答案

發布時間:2022-01-16 18:05:02

Ⅰ 材料分析方法

材料分析方法:
1、化學分析:化學分析又稱經典分析,包括滴定分析和重量分析兩部分,是根據樣品的量、反應產物的量或所消耗試劑的量及反應的化學計量關系,經計算得待測組分的含量。化學分析是鑒別材料中附加成分的種類、含量,是剖析材料組成、准確定量的必要手段。
2、差熱分析:熱分析是研究熱力學參數或物理參數與溫度變化關系分析的方法,可分性材料晶型轉變、熔融、吸附、脫水、分解等物理性質,在物理、化學、化工、冶金、地質、建材、燃料、輕紡、食品、生物等領域得到廣泛應用。通過熱分析技術的綜合應用可以判斷材料種類、材料組分含量、篩選目標材料、對材料加工條件、 使用條件做出准確的預判,是材料分析過程中非常重要的組成部分。
3、元素分析:元素分析是研究被測元素原子的中外層電子由基態向激發態躍遷時吸收或者放出的特徵譜線的一種分析手段,通過特徵譜線的分析可了解待測材料的元素組成、化學鍵、原子含量及相對濃度。元素分析針對材料中非常規組分進行前期元素分析,輔助和佐證色譜分析,是材料分析中必不可少的環節。
4、光譜分析:光譜分析是通過對材料的發射光譜、吸收光譜、熒光光譜等特徵光譜進行研究以分析物質結構特徵或含量的方法,光譜分析根據光的波長分為可見、紅外、紫外、X射線光譜分析。利用光譜分析可以精確、迅速、靈敏的鑒別材料、分析材料分子結構、確定化學組成和相對含量。是材料分析過程中對材料進行定性分析首要步驟。
5、色譜分析:是材料不同組分分子在固定相和流動相之間分配平衡的過程中,不同組分在固定相上相互分離,已達到對材料定性分析、定量的目的。根據分離機制,色譜分析可以分為吸附色譜、分配色譜、離子交換色譜、凝膠色譜、親和色譜等分析類別,通過各種色譜技術的綜合運用,可實現各種材料的組分分離、定量、定性分析。
6、聯用(介面)技術:通過不同模式和類型的熱分析技術與色譜、光譜、質譜聯用(介面)技術實現對多組分復雜樣品體系的分析,可完成組分多樣性、體系多樣性的材料精確、靈敏、快捷的組分、組成測試,是非常規材料剖析過程中不可或缺分析方法。

Ⅱ 求 材料現代分析方法 課後題答案(北京工業大學出版社)!

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Ⅲ 材料近代分析測試方法習題答案,求詳解

近代材料分析測試方法習題 1.Ariy 斑如何形成? 任一光源通過凸透鏡成像在像平面上,假設凸透鏡由無數個孔組成,若取兩個孔,其 余擋住,則光在通過兩個小孔時發生衍射形成...

Ⅳ 現代材料分析方法課後習題答案

8. 什麼是弱束暗場像什麼是弱束暗場像什麼是弱束暗場像什麼是弱束暗場像????與中心暗場像有何不同與中心暗場像有何不同與中心暗場像有何不同與中心暗場像有何不同????試用試用試用試用Ewald圖解說明圖解說明圖解說明圖解說明。。。。 答:弱束暗場像是通過入射束傾斜,使偏離布拉格條件較遠的一個衍射束通過物鏡光闌,透射束和其他衍射束都被擋掉,利用透過物鏡光闌的強度較弱的衍射束成像。 與中心暗場像不同的是,中心暗場像是在雙光束的條件下用的成像條件成像,即除直射束外只有一個強的衍射束,而弱束暗場像是在雙光闌條件下的g/3g的成像條件成像,採用很大的偏離參量s。中心暗場像的成像衍射束嚴格滿足布拉格條件,衍射強度較強,而弱束暗場像利用偏離布拉格條件較遠的衍射束成像,衍射束強度很弱。採用弱束暗場像,完整區域的衍射束強度極弱,而在缺陷附近的極小區域內發生較強的反射,形成高解析度的缺陷圖像。 圖:PPT透射電子顯微技術1頁 10. 透射電子顯微成像中透射電子顯微成像中透射電子顯微成像中透射電子顯微成像中,,,,層錯層錯層錯層錯、、、、反相疇界反相疇界反相疇界反相疇界、、、、疇界疇界疇界疇界、、、、孿晶界孿晶界孿晶界孿晶界、、、、晶界等衍襯像有何異同晶界等衍襯像有何異同晶界等衍襯像有何異同晶界等衍襯像有何異同????用什用什用什用什麼辦法及根據什麼特徵才能將它們區分開來么辦法及根據什麼特徵才能將它們區分開來么辦法及根據什麼特徵才能將它們區分開來么辦法及根據什麼特徵才能將它們區分開來???? 答:由於層錯區域衍射波振幅一般與無層錯區域衍射波振幅不同,則層錯區和與相鄰區域形成了不同的襯度,相應地出現均勻的亮線和暗線,由於層錯兩側的區域晶體結構和位相相同,故所有亮線和暗線的襯度分別相同。層錯衍襯像表現為平行於層錯面跡線的明暗相間的等間距條紋。 孿晶界和晶界兩側的晶體由於位向不同,或者還由於點陣類型不同,一邊的晶體處於雙光束條件時,另一邊的衍射條件不可能是完全相同的,也可能是處於無強衍射的情況,就相當於出現等厚條紋,所以他們的衍襯像都是間距不等的明暗相間的條紋,不同的是孿晶界是一條直線,而晶界不是直線。 反相疇界的衍襯像是曲折的帶狀條紋將晶粒分隔成許多形狀不規則的小區域。 層錯條紋 平行線 直線 間距相等 反相疇界 非平行線 非直線 間距不等 孿晶界條紋 平行線 直線 間距不等 晶界條紋 平行線 非直線 間距不等 11.什麼是透射電子顯微像中的質厚襯度什麼是透射電子顯微像中的質厚襯度什麼是透射電子顯微像中的質厚襯度什麼是透射電子顯微像中的質厚襯度、、、、衍射襯度和相位襯度衍射襯度和相位襯度衍射襯度和相位襯度衍射襯度和相位襯度。。。。形成衍射襯度像和相位襯形成衍射襯度像和相位襯形成衍射襯度像和相位襯形成衍射襯度像和相位襯度像時度像時度像時度像時,,,,物鏡在聚焦方面有何不同物鏡在聚焦方面有何不同物鏡在聚焦方面有何不同物鏡在聚焦方面有何不同????為什麼為什麼為什麼為什麼???? 答:質厚襯度:入射電子透過非晶樣品時,由於樣品不同微區間存在原子序數或厚度的差異,導致透過不同區域落在像平面上的電子數不同,對應各個區域的圖像的明暗不同,形成的襯度。 衍射襯度:由於樣品中的不同晶體或同一晶體中不同部位的位向差異導致產生衍射程度不同而形成各區域圖像亮度的差異,形成的襯度。 相位襯度:電子束透過樣品,試樣中原子核和核外電子產生的庫倫場導致電子波的相位發生變化,樣品中不同微區對相位變化作用不同,把相應的相位的變化情況轉變為相襯度,稱為相位襯度。 物鏡聚焦方面的不同:透射電子束和至少一個衍射束同時通過物鏡光闌成像時,透射束和衍射束相互干涉形成反應晶體點陣周期的條紋成像或點陣像或結構物象,這種相位襯度圖像的形成是透射束和衍射束相乾的結果,而衍射襯度成像只用透射束或者衍射束成像。

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