分析方法樣品要求

① 高效液相色譜法對測試樣品有什麼要求

含量=[（濃度X稀釋倍數）/供試品稱樣量]X100%

首先確定樣品成分，獲取該成分的純品（對照品），將對照品溶液配製成與樣品成分濃度相當的濃度（比如樣品濃度是10mg/ml左右，對照品溶液就配製成10mg/ml）。

對照品溶液和供試品溶液分別進樣，進行色譜分析，獲得對照品成分峰面積與供試品溶液峰面積

此時已知對照溶液峰面積，對照溶液濃度，求供試品溶液濃度，因為成分在液相中響應值不變，故對照品溶液濃度/對照品溶液峰面積=F（即響應因子）=供試品溶液濃度/供試品溶液峰面積，求得供試品溶液濃度。

高效液相色譜法有「四高一廣」的特點：

1、高壓：流動相為液體，流經色譜柱時，受到的阻力較大，為了能迅速通過色譜柱，必須對載液加高壓。

2、高速：分析速度快、載液流速快，較經典液體色譜法速度快得多，通常分析一個樣品在15～30分鍾，有些樣品甚至在5分鍾內即可完成，一般小於1小時。

3、高效：分離效能高。可選擇固定相和流動相以達到最佳分離效果，比工業精餾塔和氣相色譜的分離效能高出許多倍。

4、高靈敏度：紫外檢測器可達0.01ng，進樣量在μL數量級。

5、應用范圍廣：百分之七十以上的有機化合物可用高效液相色譜分析，特別是高沸點、大分子、強極性、熱穩定性差化合物的分離分析，顯示出優勢。

② X射線衍射分析的粉末樣品時的要求是什麼

1. 粉末樣品的制備
雖然很多固體樣品本身已處於微晶狀態，但通常卻是較粗糙的粉末顆粒或是較大的集結塊，更多數的固體樣品則是具有或大或小晶粒的結晶織構或者是可以辨認出外形的粗晶粒，因此實驗時一般需要先加工成合用的細粉末。因為大多數固體顆粒是易碎的，所以最常用的方法是研磨和過篩，只有當樣品是十分細的粉末，手摸無顆粒感，才可以認為晶粒的大小已符合要求。持續的在研缽或在球磨中研磨至<360 目的粉末，可以有效的得到足夠細的顆粒。制備粉末需根據不同的具體情況採用不同的方法。對於一些軟而不便研磨的物質（無機物或者有機物），可以用乾冰或液態空氣冷卻至低溫，使之變脆，然後進行研磨。若樣品是一些具有不同硬度和晶癖的物質的混合物，研磨時較軟或易於解理的部分容易被粉化而包裹較硬部分的顆粒，因此需要不斷過篩，分出已粉化的部分，最後把全部粉末充分混合後再製作實驗用的試樣。樣品中不同組分在各粒度級分中可能有不同的含量，因此對多相樣品不能只篩取最細的部分來制樣（除非是進行分級研究）。如果樣品是塊狀而且是由高度無序取向的微晶顆粒組成的話，例如某些岩石、金屬以及蠟和皂類樣品，在粉末照相法中可以直接使用，在衍射儀中也可以直接使用，不過需加工出一個平面。金屬和合金樣品常可碾壓成平板使用，但是在這種冷加工過程中常會引起擇優取向，需要考慮適當的退火處理。退火的時間和溫度，以僅發生復原過程為原則。過高的退火溫度有可能導致重結晶過程的發生，某些揮發性組分的損失以及其它的物理化學的變化。岩石以及金屬或合金塊內常常可能存在織構，為了結果的可靠，還是應該磨成粉末或銼成細屑。銼制金屬細屑可以用細的整形銼刀，銼刀要清潔，銼時銼程要小，力量要輕，避免樣品發熱，製得的銼屑還應考慮退火處理以消除銼削過程冷加工帶來的點陣應力。
樣品粉末的制備方法還可以根據樣品的物理化學性質來設計，例如NaCl 粉末可以利用酒精使NaCl 從它的飽和溶液中析出的辦法製得，由此得到的樣品衍射分析效果極佳。
一些樣品本身的性質會影響衍射的圖譜，工作時亦應予以注意。例如，有些軟的晶態物質經長時間研磨後會造成點陣的某些破壞，導致衍射峰的寬化，此時可採用退火處理；有的樣品在空氣中不穩定，易發生物理化學變化（例如易潮解、風化、氧化、揮發等），則需有專門的制樣器具和必要的保護、預防措施；對於一些各向異性的晶粒，採用混入各向同性物質的方法，同時還可進行內標。

2. 製作粉末衍射儀試片的技巧
粉末衍射儀要求樣品試片具有一個十分平整的平面，而且對平面中的晶粒的取向常常要求是完全無序的，不存在擇優取向（在粘土分析中有時又要求製作定向的試片）。 製作合乎要求的衍射儀試片常用的方法。
通常很細的樣品粉末（手摸無顆粒感），如無顯著的各相異性且在空氣中又穩定，則可以用「壓片法」來製作試片。先把衍射儀所附的制樣框用膠紙固定在平滑的玻璃片上（如鏡面玻璃，顯微鏡載玻片等），然後把樣品粉末盡可能均勻地灑入（最好是用細篩子—360 目篩入）制樣框的窗口中，再用小抹刀的刀口輕輕剁緊，使粉末在窗孔內攤勻堆好，然後用小抹刀把粉末輕輕壓緊，最後用保險刀片（或載玻片的斷口）把多餘凸出的粉末削去，然後，小心地把制樣框從玻璃平面上拿起，便能得到一個很平的樣品粉末的平面。此法所需樣品粉末量較多，約需0.4cm3。
「塗片法」所需的樣品量最少。把粉末撒在一片大小約 25×35×1mm3 的顯微鏡載片上（撒粉的位置要相當於制樣框窗孔位置），然後加上足夠量的丙酮或酒精（假如樣品在其中不溶解），使粉末成為薄層漿液狀，均勻地塗布開來，粉末的量只需能夠形成一個單顆粒層的厚度就可以，待丙酮蒸發後，粉末粘附在玻璃片上，可供衍射儀使用，若樣品試片需要永久保存，可滴上一滴稀的膠粘劑。
上述兩種方法很簡便，最常用，但仍很難避免在樣品平面中晶粒會有某種程度的擇優取向。
制備幾乎無擇優取向樣品試片的專門方法：
噴霧法。把粉末篩到一隻玻璃燒杯里，待杯底蓋滿一薄層粉末後，把塑料膠噴成霧珠落在粉末上，這樣，塑料霧珠便會把粉末顆粒斂集成微細的團粒，待乾燥後，把這些細團粒自燒杯掃出，分離出細於115 目的團粒用於製作試片，試片的製作類似上述的塗片法，把製得的細團粒撒在一張塗有膠粘劑的載片上，待膠干後，傾去多餘的顆粒。用噴霧法製得的粉末細團粒也可以用常規的壓片法製成試片。或者直接把樣品粉末噴落在傾斜放置的塗了膠粘劑的載片上，得到的試片也能大大地克服擇優取向，粉末取向的無序度要比常規的塗片法好得多。 塑合法。把樣品粉末和可溶性硬塑料混合，用適當的溶劑溶解後，使其干固，然後再磨碎成粉。所得粉末可按常規的壓片法或塗片法製成試片。
無擇優取向粘土試片的製作方法，可參考C.S.Huthison，1974《Laboratory Handbook of Petrographic Techniques》P226，上面介紹了四種重現性較好的方法。I.Bajwa 和D.Jenkins 的壓濾法（Clay Minerals，1978，13，127）效果很好，省時、快捷，制備一個樣品通常只需五分鍾，但需用一個特製的壓濾器。上述這些方法也可參考用於製作其它具有強烈擇優取向物質的試片。

③ 樣品採集和分析方法

9.1.1 樣品採集

樣品採集遵循兩個原則：一是從已知到未知的原則，即以已知的呷村礦床為參考；二是以地質為基礎的原則，即在礦床礦化和蝕變分帶特徵的基礎上，進行原生暈地球化學測量。

根據以上原則，首先在呷村礦床坑道中重點挑選兩條有代表性的穿脈進行系統采樣，其中4100m中段11線穿脈西礦帶發育良好，東礦帶出露低品位的礦體；4050m中段6線穿脈西礦帶不發育，但東礦帶發育良好。采樣間距10～20m，每樣重1～2kg。礦體附近適當加密，按礦化和結構不同分別採集。采樣目的是確定是否存在隱伏礦化體的前緣暈（或邊緣暈），建立隱伏礦原生暈的判別標志，為有熱礦區地球化學測量提供參考標尺。

在此基礎上，對有熱礦區鑽孔進行系統的全孔樣品採集，無礦地段采樣間距放稀至30～50m（其結果可以作為參考背景值），但含礦層位采樣間距仍然為10～20m，礦體附近也需要加密，按礦化和結構不同分別採集。單個樣品由基本等距的8～10塊岩礦石組成，以保證代表性。

本次工作共採集樣品412個，重復樣19個。

9.1.2 分析方法

所采岩石樣品在野外粗加工到120目左右的粉末樣（由礦山實驗室承擔），再送澳實分析檢測（廣州）有限公司（ALS Chemex（Guangzhou）Co Ltd）進行進一步的樣品制備。首先將粗加工好的粉末樣品在63℃左右低溫乾燥，然後用無污染缽在振動研磨機上將樣品重新研磨達到約75μm（200目）。樣品制備加工損失率控制在＜2%，縮分誤差控制在＜3%。最後對制備好的樣品進行分析，由於對Ba的分析要求質量較高，因此分別採用兩種方法進行分析。

9.1.2.1 微量多元素分析（王水消解、等離子質譜測試，方法代碼：mE－MS41）

（1）檢測儀器：電感耦合等離子體質譜儀、電感耦合等離子體發射光譜儀。

（2）方法描述：試樣用王水消解，待溶液冷卻後，用去離子水定容，搖勻，然後用電感耦合等離子體發射光譜儀檢測；若Bi、Hg、Mo、Ag等含量較高，需要做相應稀釋；對於結果較低的元素，再用等離子體質譜儀檢測。元素之間的光譜干擾得到矯正後，即是最後分析結果。

（3）主要測試目標及檢出限：該方法的目標主要是Ag、As、Bi、Cu、Mo、Ni、Pb、Zn等成礦元素及微量元素Hg、Cd、Sr等；適用於岩石樣品及土壤樣品，但不適用於含碳高的樣品。對於目標元素，該方法的檢出下限基本上低於1：50 000化探所要求的檢出限，完全可以滿足1：50 000化探規范的要求。

該方法可檢測的元素及檢測范圍如表9.1所示，帶∗號的元素可能消解不完全，僅供參考：

表9-1mE-MS41方法檢測元素及檢測范圍w（B）/10^-6

註：Al、Ca、Fe、K、Mg、Na、S、Ti檢出限單位為%，其他為10^-6。

該方法檢出下限及要求檢出下限如表9.2所示，可見方法檢出下限大大低於1：50 000化探所要求的檢出下限。

表9.2mE-MS41方法檢出下限w（B）/10^-6

（4）質量控制：首先，測試過程有空白樣、標准樣、重復樣控制過程質量。其次，在系統設定上，方法的精密度按「相對標准偏差（RSD）＜10%」來控制，准確度按「相對誤差（RE）＜10%」來控制，實際的數據更小，根據不同的元素及含量水平有所差別。

該批樣品主要元素的精密度控制即「相對標准偏差（RSD）」和准確度控制即「相對誤差（RE）」實際數據如表9.3所示，兩者均小於1：50 000化探規范所要求的允許值。

表9.3 相對標准偏差（RSD）和相對誤差（RE）實際值一覽表單位：%

（5）報出率：該方法採用精密的儀器來測試，且若有失敗，必須重測。故對所有元素，在目標范圍內，報出率均是100%。對於低於方法檢出限的，由於方法檢出限已經低於規范要求的檢出限，不再用其他方法繼續測試；而對於高出方法檢出上限的，也不再進一步檢測。

9.1.2.2 微量鋇元素分析——製片X 熒光光譜定量（方法代碼：Ba－XRF05）

（1）檢測儀器：波長色散X射線熒光光譜儀。

（2）方法描述：將制好的粉末樣品（200目）在鋁模中壓實製片，用熒光光譜儀直接測試目標元素。

（3）主要測試目標及檢出限：Ba分析（微量），檢出范圍10×10^-6～10000×10^-6，檢出下限10×10^-6，要求檢出下限60×10^-6，可見該方法檢出下限大大低於1：50 000化探所要求的檢出下限。

（4）質量控制：同9.1.2.1 節的mE-MS41 方法。該批樣品精密度控制即「相對標准偏差（RSD）」實際值為0.65%，允許值為＜25%；准確度控制即「相對誤差（RE）」實際值為0.39%，允許值為＜35%。可見兩者均小於1：50 000化探規范所要求的允許值。

（5）報出率：同9.1.2.1節的ME-MS41方法。

9.1.3 分析質量

本次工作利用重復采樣及分析對化驗室的化驗質量進行監控。採取重復樣19件，通過利用兩次分析結果統計其相對偏差

，所有元素要求RE≤50～66.6。通過統計（表9.4），發現除了Ge、Na、Se、Ta超差數相對偏多，合格率無法滿足要求外（合格率≥80%為合格），其餘元素合格率滿足分析要求。

同時，化驗室在本批樣品分析過程中利用空白-標准樣按「相對標准偏差（RSD）」和准確度控制即「相對誤差（RE）」進行了監控，經過統計（見表9.3）表明兩者均小於1：50 000化探規范所要求的允許值，說明本次分析質量較為可靠。

表9.4 重復樣相對偏差統計表

④ 分析測試方法的通用要求

地球化學找礦是通過對各種載體中的元素含量的測定、評價來獲知異常，尋找礦床的，而各種載體中元素的含量通常是微量(10^{－ 6})或痕量(10^{－ 9})級的。顯然要獲取這些元素的含量採用常規的分析測試手段是無法得到的，加之地球化學找礦樣品所需測定的元素眾多(如 1∶ 20 萬化探掃面就要求分析 39 種元素)，這些對應用於化探樣品測試的方法提出了較高的要求，而對一種分析測試方法能否滿足地球化學找礦分析測試要求的標準是: 是否具有合乎規范要求的檢出限、精密度和准確度。

1.檢出限

檢出限為某特定分析方法在給定的置信度內可從樣品中檢出待測物質的最小濃度或最小量。所謂 「檢出」是指定性檢出，即判定樣品中存有濃度高於空白的待測物質。檢出限除了與分析中所用試劑和水的空白有關外，還與儀器的穩定性及雜訊水平有關。國際分析化學相關組織規定: 重復分析(10 次以上)元素含量產生的訊號相當於 10 倍雜訊水平的試樣(或試液)，其標准偏差 3 倍對應的元素的量，定義為該方法的檢出限。檢出限與靈敏度之間的關系為: 檢出限越低，靈敏度越高。地球化學找礦樣品分析測試方法的檢出限應滿足表 6 1 的要求。

表6-1 1∶5 萬和 1∶20 萬化探樣品元素檢出限要求

表中的檢出限是指一般要求，由於不同的 1∶ 5 萬和 1∶ 20 萬圖幅元素背景值不一樣，有的呈現為低背景，因此所選用的分析方法的檢出限除了應滿足上述要求外，還應以該圖幅各元素的報出率來衡量其檢出限能否滿足要求，凡能報出全圖幅 90% 以上試樣分析數據(置信水平 95%)的，說明所用方法的檢出限滿足要求; 凡能報出全圖幅 80% 以上試樣分析數據(置信水平 95%)的，說明檢出限基本滿足要求; 低於 80% 時，說明檢出限尚不能滿足要求，應採取有效措施降低方法檢出限或選擇其他更有效的分析方法。

2.精密度

精密度就是在規定條件下，相互獨立的測試結果之間的一致程度。實際工作中常採用兩次分析結果的相對偏差(RE)來表示分析數據的精密度:

地球化學找礦方法

式中: c1，c2分別代表第一和第二次的分析結果。

當分析次數較多時，精密度也常採用標准偏差(σ)和相對標准偏差(RSD)的方法來表示:

地球化學找礦方法

式中: c_i為第 i 次分析結果; c為分析結果的平均值; N 為分析次數。

3.准確度

准確度是指測定結果與樣品中真實含量接近的程度。在實際工作中通常是採用對標准樣品進行多次測定後與其推薦值相比較而得的，而這一量化過程通常是採用相對誤差(RE)(當誤差成正態分布時)，或對數偏差平均值(Δlgc)(當誤差呈對數正態分布時)來表示:

地球化學找礦方法

式中: c_s為標准樣品推薦值，其餘各項含義與前面相同。

地球化學分析測試方法除了對檢出限、精密度和准確度的要求外，還要求分析測試方法盡可能快速、簡便、經濟和便捷。一個化探掃面分析測試樣品經常是上千件，有時會達到萬件以上，而分析測試周期常常又要求在一個月左右完成，這都必然要求化探分析測試方法的快速與簡便，這常常通過分析測試方法的優化來獲得，如: 多元素的同時測定、各種分析測試手段的不同組合、分析前處理的簡化等。

⑤ 用電子能譜進行表面分析對樣品有何一般要求有哪些清潔表面的常用制備方法

由於電子能譜測量要在超高真空中進行，測量從樣品表面出射的光電子或俄歇電子。所以對檢測的試樣有一定的要求：即樣品在超高真空下必須穩定，無腐蝕性，無磁性，無揮發性。另外在樣品的保存和傳送過程中應盡量避免樣品表面被污染。在任何時候，對被分析樣品的表面都應盡量少地接觸和處理。
常用清潔表面的制備方法有：真空解理、斷裂，稀有氣體離子濺射，真空刮削，高溫蒸發，真空制備薄膜等。

⑥ 一般熱分析法對樣品有什麼要求為什麼

固體樣品，在所檢測的溫度范圍內不會分解或升華，也無揮發物產生。
樣品量：單次檢測無機或有機材料不少於 20mg ，葯物不少於5mg 。
送樣時請註明檢測條件（包括檢測溫度范圍，升、降溫速率，恆溫時間等）。

⑦ 測定紅外光譜時對樣品有什麼要求

（1）樣品必須預先純化，以保證有足夠的純度；
（2）樣品須預先除水乾燥，避免損壞儀器，同時避免水峰對樣品譜圖的干擾；
（3）易潮解的樣品，應放置在乾燥器內；
（4）對易揮發、升華、對熱不穩定的樣品，請用帶密封蓋或塞子的容器盛裝並蓋緊，同時必須註明；
（5）對於有毒性和腐蝕性的樣品，用戶必須用密封容器裝好。送樣時必須分別在樣品瓶標簽的明顯位置上註明。