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北京相噪分析儀使用方法

發布時間:2022-09-29 01:02:14

『壹』 網路分析儀使用方法什麼

這個是網上搜的,我覺得還比較有用,雖然我們公司不是安捷倫的,不過都差不多,希望對你有幫助吧,~~

要想學會測試step,首先要學會calibration(校準)
1. Agilent校驗過程
按prest → 選ok → start(設定起頻0.5G or 2G) → stop(設定始頻2.5G or 3G 6G 8.5G) → sweep(掃描?) setup → points → 輸入效驗點數(201x1 401x1 901x1)→ Display→ Num of Traces(1-8)選擇 →Allocate Traces(選擇顯示界面) → Format → Tr1 SWR Tr2 SWR →MeasTr1 s11 Tr2 s22 → Cal → Correction(on) →Calibrate → 2-port cal或4-port cal →Reflection → port1(open) →port1(short) →port1(load) →Return → Transmission(對接) →port 1-2 Thru → Return →Reflection →port2open) →port2short) →port2(load) →Return →Done(完成效驗) →Save/Recall → Save State →選擇State01-08的任意一個將驗好的波形保存在裡面。

2.Agilent(設定規格)
選擇需設定規格的窗口 Tr1 Tr2 or Tr3 Tr4 → Analysis → Limit Test →Limit Test(on) →Limit Line(on)

『貳』 光譜分析儀的使用方法

不同公司生產的,不同型號的操作都不一樣的吧。
便攜的很好用的,基本上照一下就出來了。
科研用的大型光譜儀有專門的售後指導的,使用起來也很復雜。
基本上就是光源出光,照到樣品上,或反射或透射接收後同過軟體分析得出結果。
主要有紅外、拉曼、熒光三種光譜儀,每一種的操作也都不一樣。

『叄』 光譜分析儀的使用方法

使用方法:開機步驟

1、開光譜儀電源

2、開計算機電源

3、在文件管理器中用滑鼠指按UV WinLab圖標,此時出現UV WinLab的應用窗口,儀器已准備好,可選用適當方法進行分析操作。

一、方法:在分析中必須對分光光度計設定一些必要的參數,這些參數的組合就形成一個「方法」。Lambda系列UV WinLab軟體預設四類常用方法

1)掃描(SCAN),用以進行光譜掃描。

2)時間驅動(TIME DRIVER),用以觀察一定時間內某種特定波長處縱坐標值的變化,如酶動力學。

3)波長編程(WP)用以在多個波長下測定樣品在一定時間內的縱坐標值變化,並可以計算這些縱坐標值的差或比值。

4)濃度(CONC)用以建立標准曲線並測定濃度。

2.1 進入所需方法,在方法窗口中選擇所需方法的文件名。

二、方法的設定

掃描、波長編程及時間驅動各項方法可根據顯示的參數表,逐項按需要選用或填入,並可參考提示。

濃度

濃度方法窗口下方標簽較多,說明做濃度測定時需要參數較多。用滑鼠指按每一標簽,可翻出下頁,其上有一些需要測定的參數。必須逐頁設定。

三、工具條

1)SETUP

當所需的各項參數都已在參數中設好後,必須用滑鼠指按SETUP,才能將儀器調整到所設狀態。

2)AUTOZERO 用滑鼠指按此鍵,分光光度計即進行調零(在光譜掃描中則進行基線校正)。

3)START 用滑鼠指按此鍵,光度計即開始運行所設定的方法。

四、方法運行

1)掃描,時間驅動,波長編程方法選好後,先放入參比溶液,按AUTOZERO鍵,進行自自動校零或背景校正結束後再放入樣品,按START,分光光度計即開始進行,同時屏幕上出現圖形窗口,將結果顯示出來。

2)濃度

3)制訂標准曲線

(1)方法選好後,確認各項數據正確,特別是REFS頁中第一行要選中右上角的「edit mode」。再放入參比溶液,按AUTOZERO鍵自動校零或背景校正。

(2)按setup,待該圖標消失後,再按「start」,按提示依次放入標准色列的各管溶液,每次都按提示進行操作。

(3)標准色列測定完畢後,屏幕上出現calibgraphwindow,顯示擬合的標准線,並標出各項標准管的位置,屏幕下方還有一條ConcentraTIon mode的對話框,可以用來修改擬合的曲線類型(按 change calbraTIon),或修改標准溶液的任何一管(replace),或取消某一管(delete),或增加標准溶液管數(add)。如過已經滿意,則按analyse sample鍵,進入樣品測定窗口。

(4)標准曲線有關的各項數據,均在calibresultwindow中,可用滑鼠將其調出觀察。其中包括每個標准溶液的具體數據,標准曲線的回程方程式,相關系數,殘差。

五、樣品濃度測定

剛制定好的標准曲線接著進行樣品濃度測定時

1)只需在concentraTIon mode對話框按analyse sample鍵,進入樣品測定窗口。

2 )按設定的樣品順序放入各樣品管,每次按提示進行操作。

3 )屏幕上出現結果窗口,結果數據將依次顯示在樣品表中的相應位置。

(1)利用原有的標准曲線接著進行樣品濃度測定時

(2)調出所測定樣品的濃度方法文件,首先調出refs頁,將原設edit mode選項取消,改設左上角的using exiting calibration。重新將方法存檔,則今後再調用時即不需再作修改。

(3) 在sample頁中按要求重設各種樣品名稱機樣品信息。

(4)按工具條中setup鍵,將主機設到該方法所設定的條件。

(5)將參比溶液放入比色室,按autozero鍵做背景校零。

(6) 按start鍵,按設定的樣品順序放入各樣品管,每次按提示進行操作。

(7) 屏幕上出現結果窗口,結果數據將依次顯示在樣品表中相應位置。

六、關機

1)將方法及數據存檔

2)關閉方法窗

3)退出UV WinLab

4) 取出樣品及參比溶液

5)清潔光譜儀,特別是樣品室

6)關閉光譜電源

7)關閉計算機電源
根據現代光譜儀器的工作原理,光譜儀可以分為兩大類:經典光譜儀和新型光譜儀。經典光譜儀器是建立在空間色散原理上的儀器:新型光譜儀器是建立在調制原理上的儀器.經典光譜儀器都是狹縫光譜儀器。調制光譜儀是非空間分光的,它採用圓孔進光根據色散組件的分光原理,光譜儀器可分為:棱鏡光譜儀,衍射光柵光譜儀和干涉光譜儀.光學多道OMA(Optical Multi-channel Analyzer)是近十幾年出現的採用光子探測器(CCD)和計算機控制的新型光譜分析儀器,它集信息採集,處理,存儲諸功能於一體。由於OMA不再使用感光乳膠,避免和省去了暗室處理以及之後的一系列繁瑣處理,測量工作,使傳統的光譜技術發生了根本的改變,大大改善了工作條件,提高了工作效率:使用OMA分析光譜,測盆准確迅速,方便,且靈敏度高,響應時間快,光譜解析度高,測量結果可立即從顯示屏上讀出或由列印機,繪圖儀輸出.目前,它己被廣泛使用於幾乎所有的光譜測量,分析及研究工作中,特別適應於對微弱信號,瞬變信號的檢測。
光譜分析儀的分析原理是將光源輻射出的待測元素的特徵光譜通過樣品的蒸汽中待測元素的基態原子所吸收,由發射光譜被減弱的程度,進而求得樣品中待測元素的含量,它符合郎珀-比爾定律 A= -lg I/I o= -LgT = KCL 式中I為透射光強度,I0為發射光強度,T為透射比,L為光通過原子化器光程由於L是不變值所以A=KC。

物理原理

任何元素的原子都是由原子核和繞核運動的電子組成的,原子核外電子按其能量的高低分層分布而形成不同的能級,因此,一個原子核可以具有多種能級狀態。

能量最低的能級狀態稱為基態能級(E0=0),其餘能級稱為激發態能級,而能最低的激發態則稱為第一激發態。正常情況下,原子處於基態,核外電子在各自能量最低的軌道上運動。

如果將一定外界能量如光能提供給該基態原子,當外界光能量E恰好等於該基態原子中基態和某一較高能級之間的能級差E時,該原子將吸收這一特徵波長的光,外層電子由基態躍遷到相應的激發態,而產生原子吸收光譜。

電子躍遷到較高能級以後處於激發態,但激發態電子是不穩定的,大約經過10^-8秒以後,激發態電子將返回基態或其它較低能級,並將電子躍遷時所吸收的能量以光的形式釋放出去,這個過程稱原子發射光譜。可見原子吸收光譜過程吸收輻射能量,而原子發射光譜過程則釋放輻射能量。

『肆』 使用頻譜儀測試相位雜訊的操作步驟

使用頻譜儀測試相位雜訊測量不需要按步驟完成,只需要注意以下事項:

應盡量選用本底雜訊低的分析儀,因為所測量的相位雜訊下限取決於分析儀的本底雜訊。分析儀作為一種超外差的分析設備,最終的測量結果是外部輸入信號同本機內部本振信號疊加的結果,如果外部輸入信號的相位雜訊指標高於分析儀本身的指標,測量的結果實際是分析儀的相位雜訊。

只有外部信號的相位雜訊指標要比分析儀指標差時(差3dB以上),測量的結果才是正確的。直接頻譜法不適合於更低噪底的高性能晶振或者直接式頻綜的測試。

不論是使用分析儀的相位雜訊選件還是頻譜分析功能下手動測量,分析儀均不能把調幅雜訊和調頻雜訊區分開來,所以測量結果是調幅和調頻雜訊的總和。為了精確測量相位雜訊,一般要求被測信號的調幅雜訊要比調頻雜訊小得多(小10dB以上),測量結果基本為相位雜訊。

動態范圍代表了分析儀的測量范圍,其下限取決於分析儀自身靈敏度和相位雜訊,其上限取決於1dB壓縮點。在偏離載波較近處能達到的動態范圍的下限主要取決於分析儀自身的相位雜訊,在偏離載波較遠處分析儀自身的相位雜訊很低,動態范圍的下限主要取決於分析儀的靈敏度。

由於分析儀無載波抑制功能,測量的動態范圍受限,尤其是測量偏離載波較遠處的相噪時,需要判斷測量是否受限於分析儀的動態范圍,以免測量結果產生錯誤。

信號的頻譜漂移會給相噪量結果帶來很大的誤差,甚至無法測量。被測設備和測量儀器在測量進行前都需要充分預熱使其達到穩定的工作狀態,分析儀的預熱時間通常要求大於10分鍾。

儀器連接要牢固,盡量避免振動,測量時最好把儀器放置在能吸收振動的防振墊上,減少或者消除振顫雜訊。為了減少外界環境對測量結果的影響,有條件的地方最好在屏蔽室內測量。

(4)北京相噪分析儀使用方法擴展閱讀:

常用的相位雜訊測量方法主要有直接頻譜分析儀法、相位檢波器法、鑒頻器法和雙通道互相關法等。應該指出,在不同場合對相位雜訊的要求不同,測量方法也有所不同。

典型的相位雜訊測量可以由專業相位雜訊測試系統完成,但這些專業設備的價格相當昂貴,而頻譜分析儀或者新一代的儀是相對常用的儀器,對一些相位雜訊指標要求不是很嚴格的場合,可以用信號/頻譜分析儀進行相位雜訊指標的測量。

通過譜分析進行相位雜訊測量的方法稱為直接頻譜分析儀法。該方法不僅能在分析儀上直接顯示相位雜訊的測量值,而且還可以同時准確地顯示是否有其他離散信號,具有簡單、靈活易用的特點。被測信號可以直接加到分析儀的射頻輸入口後,由分析儀直接進行分析測量;

也可以現將被測信號與相位雜訊指標更好的參考信號混頻後,得到一合適中頻信號,再由分析儀對這一中頻信號進行分析。

『伍』 怎樣使用頻譜分析儀、前置放大器和信號發生器測量雜訊系數

只用頻譜分析儀和前置放大器,就能作許多雜訊系數測量。只需用頻譜分析儀、前置放大器和信號發生器,就能覆蓋被測器件的頻率。這種方法的精度低於需要經校準雜訊源的Y 因素技術,與所關注頻率的分析儀幅度精度相當。具體測量步驟為:1. 把信號發生器和頻譜分析儀設置為所測雜訊系數的頻率,測量器件的增益。把該值標為Gain(D)。2. 同樣方法測量前置放大器增益。把該值標為Gain(P)。3. 斷開頻譜分析儀的任何輸入,把輸入衰減器設置為0dB。前置放大器輸入沒有任何連接。把它的輸出接到頻譜分析儀輸入。在作這一連接時,您會看到分析儀顯示的平均雜訊級的增加。4. 把被測器件的輸入接至其特性阻抗,把輸出接到前置放大器輸入。此時分析儀顯示的雜訊級應增加。5. 把頻譜分析儀視頻帶寬(VBW)設置為解析度帶寬的1%或更低。按標記功能(MKR FCTN)鍵,然後按Noise Marker On 軟鍵。把標記放置在所要測雜訊系數的頻率上。讀以dBm/Hz 為單位的標記雜訊功率密度讀數,把它標為Noise(O)。6. 然後計算被測器件的雜訊系數NFig:NFig = Noise(O) - Gain(D) - Gain(P) + 174 dBm/Hz

『陸』 音頻分析儀使用方法

音頻是多媒體中的一種重要媒體。SYS-2722音頻分析儀我們能夠聽見的音頻信號的頻率范圍大約是20Hz-2OkHz,其中語音大約分布在300Hz-4kHz之內,而音樂和其他自然聲響是全范圍分布的。聲音經過模擬設備記錄或再生,成為模擬音頻,再經數字化成為數字音頻。這里所說的音頻分析就是以數字音頻信號為分析對象,以數字信號處理為分析手段,提取信號在時域、頻域內一系列特性的過程。各種特定頻率范圍的音頻分析有各自不同的應用領域。例如,對於300-4kHz之間的語音信號的分析主要應用於語音識別,其用途是確定語音內容或判斷說話者的身份;而對於20-20kHz之間的全范圍的語音信號分析則可以用來衡量各類音頻設備的性能。所謂音頻設備就是將實際的聲音拾取到將聲音播放出來的全部過程中需要用到的各類電子設備,例如話筒、功率放大器、揚聲器等,衡量音頻設備的主要技術指標有頻率響應特性、諧波失真、信噪比、動態范圍等。

『柒』 0TN綜合分析儀使用方法

咨詢記錄 · 回答於2021-10-23

『捌』 如何使用頻譜儀測量時鍾信號相位雜訊

首先,測相噪的頻譜儀本身應有比被測要好的相噪指標。在測量信號源的相噪時,測量載頻和一定頻偏處的電平差就行了,再將測量結果減去10lgRBW。

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