光纖分析方法

❶ 為何幾何光學分析方法不適合用於分析單模光纖中光的傳播

因為單模光纖中光的傳播涉及波的傳播還有光纖效應，其結構給了光很多的變數

❷ 光纖測溫原理和國內都有什麼方法

你好澈澈44G1，光纖溫度感測器工作原理為: 在低溫區（400℃以下）, 輻射信號較弱, 系統開啟發光二極體(LED)使熒光測溫系統工作。 發光二極體發射調制的激勵光, 經聚光鏡耦合到Y型光纖的分支端, 由Y型光纖並通過光纖耦合器耦合到光纖溫度感測頭。 光纖感測頭端部受激勵光激發而發射熒光, 熒光信號由光纖導出, 並通過光纖耦合器從Y型光纖的另一分支端射出, 由光電探測器接收。 光電探測器輸出的光信號經放大後由熒光信號處理系統處理, 計算熒光壽命並由此得到所測溫度值。 而在高溫區（400℃以上）, 輻射信號足夠強, 輻射測溫系統工作, 發光二極體關閉。 輻射信號通過藍寶石光纖並通過Y型光纖輸出, 由探測器轉換成電信號, 系統通過檢測輻射信號強度計算得到所測溫度。
光纖感測頭端部由Cr3+離子摻雜, 實現光激勵時的熒光發射。 摻雜部分光纖長度為8～10 mm。 端部光纖的外表面同時鍍覆黑體腔, 用於輻射測溫。 (這時,光纖黑體腔長度與直徑之比大於10,可以滿足黑體腔表觀輻射率恆定的要求)。 值得注意的是, 避免或減少熒光發射部分與熱輻射部分的相互干擾, 對保證整個系統的性能十分重要。
經過分析, 可以發現這種干擾主要表現為:
1) 熒光信號中輻射背景信號對熒光壽命檢測精度的影響,
2) 光纖表面鍍覆對熒光強度的影響,
3) 光纖內Cr3+離子摻雜對黑體腔熱輻射信號的影響。

❸ 簡要說明對光纖熔接連接質量有哪些評價方法

外觀目測檢查、連接損耗估測、張力測定。

光纖塗面層的剝除，要掌握平、穩、快三字剝纖法。「平」，即持纖要平。左手拇指和食指捏緊光纖，使之成水平狀，所露長度以5cm為宜，余纖在無名指、小拇指之間自然打彎，以增加力度，防止打滑。

「穩」，即剝纖鉗要握得穩。「快」，即剝纖要快，剝纖鉗應與光纖垂直，上方向內傾斜一定角度，然後用鉗口輕輕卡住光纖，右手隨之用力，順光纖軸向平推出去，整個過程要自然流暢，一氣呵成。

(3)光纖分析方法擴展閱讀：

熔接前根據光纖的材料和類型，設置好最佳預熔主熔電流和時間及光纖送入量等關鍵參數。熔接過程中還應及時清潔熔接機「V」形槽、電極、物鏡、熔接室等，隨時觀察熔接中有無氣泡、過細、過粗、虛熔、分離等不良現象。

注意OTDR跟蹤監測結果，及時分析產生上述不良現象的原因，採取相應的改進措施。如多次出現虛熔現象，應檢查熔接的兩根光纖的材料、型號是否匹配，切刀和熔接機是否被灰塵污染，並檢查電極氧化狀況，若均無問題，則應適當提高熔接電流。

❹ 光纖光譜儀的操作步驟和使用方法

據我所用過的高利通的光纖光譜儀的使用方法：

開機步驟

1 開光譜儀電源

2 開計算機電源

3 在文件管理器中用滑鼠指到對應圖標，此時出現應用窗口，儀器已准備好，可選用適 當方法進行分析操作

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❺ 光纖測試的步驟是什麼

對光纖參數的測試方法參照國標中相關的試驗方法進行，下面列舉出一些光纖基本參數的測試方法。光纖的特性參數中，幾何特性參數對光纖的包層直徑、包層不圓度、芯/包層同心度誤差的測試方法做出相關說明；光學特性參數對模場直徑、單模光纖的截止波長、成纜單模光纖的截止波長的測試方法做出相關說明；傳輸特性參數對光纖的衰減、波長色散的測試方法做出相關說明。2.1、光纖幾何特性參數測試光纖的折射率分布、包層直徑、包層不圓度、芯/包層同心度誤差的測試方法。測量包層直徑、包層不圓度、芯/包層同心度誤差的測試方法是折射近場法、橫向干涉法和近場光分布法（橫截面幾何尺寸測定）。光纖的折射率分布、包層直徑、包層不圓度、芯/包層同心度誤差的測試方法有三種。●折射近場法折射近場法是多模光纖和單模光纖折射率分布測定的基準試驗方法（RTM），也是多模光纖尺寸參數測定的基準試驗方法和單模光纖尺寸參數測定的替代試驗方法（ATM）。折射近場測量是一種直接和精確的測量。它能直接測量光纖（纖芯和包層）橫截面折射率變化，具有高解析度，經定標可給出折射率絕對值。由折射率剖面圖可確定多模光纖和單模光纖的幾何參數及多模光纖的最大理論數值孔徑。●橫向干涉法橫向干涉法是折射率剖面和尺寸參數測定的替代試驗方法（ATM）。橫向干涉法採用干涉顯微鏡，在垂直於光纖試樣軸線方向上照明試樣，產生干涉條紋，通過視頻檢測和計算機處理獲取折射率剖面。●近場光分布法這種方法是多模光纖幾何尺寸測定的替代試驗方法（ATM）和單模光纖幾何尺寸（除模場直徑）測定的基準試驗方法（RTM）。通過對被測光纖輸出端面上近場光分布進行分析，確定光纖橫截面幾何尺寸參數。可以採用灰度法和近場掃描法。灰度法用視頻系統實現兩維（x-y）近場掃描，近場掃描法只進行一維近場掃描。由於纖芯不圓度的影響，近場掃描法與灰度法得出的纖芯直徑可能有差別。纖芯不圓度可以通過多軸掃描來確定。一般商用儀表折射率分布的測試方法是折射近場法。測試中使用的儀表是光纖幾何參數和折射率分布測量儀。測試步驟如下：①試樣制備時應注意試樣端面清潔、光滑並垂直於光纖軸。②測量包層時，端面傾斜角應小於1°。控制端面損傷，使其對測量精度的影響最小。③注意避免光纖的小彎曲。④將被測光纖剝除被覆層，用專用光纖切割刀切割出平整的端面, 放入光纖樣品盒中，樣品盒中注入折射率稍高於光纖包層折射率的折射率匹配液。⑤將光纖樣品盒垂直放在光纖折射率分布測量儀的光源和光探測器之間，進行x-y方向的掃描測試。⑥通過分析得到光纖折射率分布、包層直徑、包層不圓度、芯/包層同心度誤差的測試數據。2.2、光纖光學特性參數測試(1)單模光纖模場直徑的測試方法模場直徑是單模光纖基模（LP01）模場強度空間分布的一種度量，它取決於該光纖的特性。模場直徑（MFD）可在遠場用遠場光強分布Pm(θ)、互補孔徑功率傳輸函數α(θ)和在近場用近場光強分布f2(r)來測定。模場直徑定義與測量方法嚴格相關。單模光纖模場直徑的測試方法有三種。●直接遠場掃描法直接遠場掃描法是測量單模光纖模場直徑的基準試驗方法（RTM）。它直接按照柏特曼（Petermann）遠場定義，通過測量光纖遠場輻射圖計算出單模光纖的模場直徑。●遠場可變孔徑法遠場可變孔徑法是測量單模光纖模場直徑的替代試驗方法（ATM）。它通過測量光功率穿過不同尺寸孔徑的兩維遠場圖計算出單模光纖的模場直徑，計算模場直徑的數學基礎是柏特曼遠場定義。●近場掃描法近場掃描法是測量單模光纖模場直徑的替代試驗方法（ATM）。它通過測量光纖徑向近場圖計算出單模光纖的模場直徑，計算模場直徑的數學基礎是柏特曼遠場定義。一般商用儀表模場直徑測試方法是遠場變孔徑法(VAFF)。測試中使用的儀表是光纖模場直徑和衰減譜測量儀。測試步驟如下：●准備2m（±0.2m）的光纖樣品，兩端剝除被覆層，放在光纖夾具中，用專用光纖切割刀切割出平整的端面。●將被測光纖連接入測量儀的輸入和輸出端，檢查光接收端的聚焦狀態，如果曲線不在屏幕的正中央或光纖端面不夠清晰，則需要進行位置和焦距的調整。●在光源的輸出端保持測試光纖的注入條件不變，打一個半徑30mm的小環，濾除LP11模的影響，進行模場直徑的測試。通過分析得到光纖模場直徑的測試數據。（2）單模光纖截止波長和成纜單模光纖截止波長的測試方法測量單模光纖的截止波長和成纜單模光纖的截止波長的測試方法是傳輸功率法。當光纖中的模大體上被均勻激勵情況下，包括注入較高次模在內的總光功率與基模光功率之比隨波長減小到規定值（0.1dB）時所對應的較大波長就是截止波長。傳輸功率法根據截止波長的定義，在一定條件下，把通過被測光纖（或光纜）的傳輸功率與參考傳輸功率隨波長的變化相比較，得出光纖（或光纜）的截止波長值。一般商用儀表模場直徑測試方法是傳輸功率法。測試中使用的儀表是光纖模場直徑和衰減譜測量儀。測試步驟如下：①在樣品制備時，單模光纖的截止波長的測試使用2m（±0.2m）的光纖樣品，成纜單模光纖的截止波長的測試使用22m的已成纜單模光纖。②將測試光纖的兩端剝除被覆層, 放在光纖夾具中，用專用光纖切割刀切割出平整的端面。③將被測光纖連接入測量儀的輸入和輸出端, 檢查光接收端的聚焦狀態, 如果曲線不在其屏幕的正中央或光纖端面不夠清晰, 則需要進行位置和焦距的調整。④先在測試光纖不打小環的情況下，測試參考傳輸功率。⑤再將測試光纖在注入端打一個半徑30mm的小環，濾除LP11模的影響，測試此時的傳輸功率。⑥將兩條傳輸功率測試曲線相比較，通過數據分析處理，得到光纖（或光纜）的截止波長值。2.3、光纖傳輸特性參數測試(1)衰減的測試方法衰減是光纖中光功率減少量的一種度量，它取決於光纖的性質和長度，並受測量條件的影響。衰減的主要測試方法如下：●截斷法截斷法是測量光纖衰減特性的基準試驗方法（RTM），在不改變注入條件時測出通過光纖兩橫截面的光功率，從而直接得到光纖衰減。●插入損耗法插入損耗法是測量光纖衰減特性的替代試驗方法（ATM），原理上類似於截斷法，但光纖注入端的光功率是注入系統輸出端的出射光功率。測得的光纖衰減中包含了試驗裝置的衰減，必須分別用附加連接器損耗和參考光纖段損耗對測量結果加以修正。●後向散射法後向散射法是測量光纖衰減特性的替代試驗方法（ATM），它測量從光纖中不同點後向散射至該光纖始端的後向散射光功率。這是一種單端測量方法。一般商用儀表衰減的測試方法是截斷法和後向散射法。截斷法測試中使用的儀表是光纖模場直徑和衰減譜測量儀。測試步驟如下：①准備不短於1km或更長一些（一般一個光纖盤長：25km）的光纖樣品，兩端剝除被覆層, 放在光纖夾具中，用專用光纖切割刀切割出平整的端面。②將測試光纖盤的外端光纖通過專用夾具連接儀表的發射端，將測試光纖盤的內端光纖通過專用夾具連接儀表的接收端，檢查光接收端的聚焦狀態, 如果曲線不在屏幕的正中央或光纖端面不夠清晰, 則需要進行位置和焦距的調整。③在光纖注入端打一個半徑30mm的小環，濾除LP11模的影響，測試此時的傳輸功率。④保持光源的注入狀態不變（在光纖注入端打一個半徑30mm的小環），將測試光纖樣品截斷為2m的試樣，光纖通過專用夾具連接儀表的接收端，檢查光接收端的聚焦狀態, 如果曲線不在屏幕的正中央或光纖端面不夠清晰，則需要進行位置和焦距的調整。測試此時的傳輸功率。將兩條傳輸功率測試曲線相比較，通過數據分析處理，得到光纖在1310nm和1550nm波段的衰減譜特性。後向散射法測試中使用的儀表是光時域反射計。測試步驟如下：①將測試光纖盤的外端通過熔接光纖連接器或裸纖適配器，接入光時域反射計進行測試。②測試中光時域反射計使用最小二乘法（LSA）計算光纖的衰減，此方法可忽略光纖中可能的熔接或接頭損耗對光纖鏈路測試造成的影響。③如需分段測試光纖鏈路的衰減可使用兩點法進行測試。④光纖衰減測試中，應選擇光纖測試曲線中的線性區域，避開測試曲線近端的飽和區域和末端的反射區域，測試兩點間的光纖衰減（dB/km）。⑤更改光時域反射計的測試波長，分別對1310nm和1550nm波長處的光纖衰減特性進行測試分析。實際測試中，可以通過截斷法和後向散射法兩種測試方法驗證光纖衰減的測試數據。對於帶有光纖連接器的測試光纖樣品，為了不破壞已安裝的光纖連接器，則只能使用後向散射法進行單端非破壞性測試。（2）波長色散的測試方法波長色散是由組成光源譜的不同波長的光波以不同群速度傳輸引起的光纖中每單位光源譜寬的光脈沖展寬，用ps/nm表示。它取決於該光纖的特性和長度。波長色散的主要測試方法如下：●相移法相移法是測量光纖波長色散的基準試驗方法（RTM）。它在頻域中通過檢測、記錄和處理不同波長正弦調制信號的相移來測量不同波長信號的群時延，從而推導出光纖波長色散。●脈沖時延法脈沖時延法是測量光纖波長色散的替代試驗方法（ATM）。它在時域中通過直接檢測、記錄和處理不同波長脈沖信號的群時延，從而推導出光纖波長色散。●微分相移法微分相移法是測量光纖波長色散的替代試驗方法（ATM）。它在1000nm~1700nm波長范圍內由兩個相近波長間的微分群時延來測量特定波長上的波長色散系數。一般商用儀表波長色散的測試方法是相移法。測試中使用的設備是色散測量儀。測試步驟如下：①測試光纖樣品應不短於1km。光纖兩端做好光纖連接器。②在色散測試時應先用兩根標准光纖跳線分別連接色散測量儀的輸入端和輸出端，通過法蘭盤連接兩根光纖跳線的另一端，將色散測量儀自環，測試此時的參考值。③再將測試光纖通過法蘭盤接入光纖環路。④根據測試光纖樣品，設定光纖類型；數據擬合方式；光纖測試中的群折射率；測試光纖長度；；測試波長范圍；波長間隔等。⑤測試光纖的零色散波長、零色散斜率和色散系數等。通過對測試數據的分析處理得到光纖的色散特性。光纖參數測試中的不確定度評定方法：光纖參數測試中的不確定度評定一般參考下面提到的方法進行。主要考慮測量儀器引入的不確定度和測量重復性兩方面因素。3、光纖參數測試中普遍存在的問題以單模光纖B1.1類（即非色散位移單模光纖）、B1.3類（即波長段擴展的非色散位移單模光纖）和B4類（即非零色散位移單模光纖）為例說明光纖參數測試中普遍存在的問題。光纖參數測試中普遍存在的問題是單模光纖的截止波長指標超標的問題。

根據國內光纖光纜標准，截止波長可分為光纜截止波長λCC、光纖截止波長λC和跳線光纜截止波長λCj，光纖光纜的截止波長指標應符合表二中的相應規定。光纜使用長度不小於22m時應符合表二中λCC規定，使用長度小於22m但不小於2m時應符合表二中λCj規定，使用長度小於2m時應符合表二中 λC規定，以防止傳輸時可能產生的模式雜訊。

❻ 怎樣檢測光纖線

• 方法：

1. 安排兩個工作人員，分別在確定故障的光纖的兩端，一段的人帶上光筆，另外一段無須攜帶東西；

2. 攜帶光筆的工作人員，先將光筆與光纖跳線（如圖所示）對應的兩個頭接上。然後打開光電源開關；

   

3. 如果不出現紅光，還可以在夜晚，光線比較暗的時候，順著光纖尋線，發現線上哪裡有紅光，就可以找出斷點。
   

❼ 光纖檢測缺陷原理

光纖是光導纖維的簡寫，是一種由玻璃或塑料製成的纖維，可作為光傳導工具。

傳輸原理是「光的全反射」。

前香港中文大學校長高錕和George A. Hockham首先提出光纖可以用於通訊傳輸的設想，高錕因此獲得2009年諾貝爾物理學獎。

微細的光纖封裝在塑料護套中，使得它能夠彎曲而不至於斷裂。通常，光纖的一端的發射裝置使用發光二極體（light emitting diode,LED）或一束激光將光脈沖傳送至光纖，光纖的另一端的接收裝置使用光敏元件檢測脈沖。

在日常生活中，由於光在光導纖維的傳導損耗比電在電線傳導的損耗低得多，光纖被用作長距離的信息傳遞。

通常光纖與光纜兩個名詞會被混淆。多數光纖在使用前必須由幾層保護結構包覆，包覆後的纜線即被稱為光纜。光纖外層的保護層和絕緣層可防止周圍環境對光纖的傷害，如水、火、電擊等。

光纜分為：纜皮、芳綸絲、緩沖層和光纖。光纖和同軸電纜相似，只是沒有網狀屏蔽層。中心是光傳播的玻璃芯。

在多模光纖中，芯的直徑是50μm和62.5μm兩種， 大致與人的頭發的粗細相當。而單模光纖芯的直徑為8μm~10μm，常用的是9/125μm。芯外麵包圍著一層折射率比芯低的玻璃封套， 俗稱包層，包層使得光線保持在芯內。再外面的是一層薄的塑料外套，即塗覆層，用來保護包層。光纖通常被紮成束，外面有外殼保護。 纖芯通常是由石英玻璃製成的橫截面積很小的雙層同心圓柱體，它質地脆，易斷裂，因此需要外加一保護層。

說明：9/125μm指光纖的纖核為9μm，包層為125μm，9/125μm是單模光纖的一個重要的特徵，50/125μm指光纖的纖核為50μm，包層為125μm，50/125μm是多模光纖的一個重要的特徵。

其中金磚國家光纜計劃是直接連通5個金磚國家的海底光纜項目，將於2014年初開工，2015年中啟用。該項目總長3.4萬千米，其中直接連通5個金磚國家的海底光纜長約2.4萬千米。

2013年，全球100G光纖的收入預計將首次超過10億美元。該公司分析了2013年一季度全球光網路市場的財務結果，發現了一些趨勢，包括一個令人失望的趨勢，即市場的總體增長仍然是困難的，只有日本的富士公司利潤逐年增長。

雖然光纖市場在第一季度出現衰退的情況並不少見，但這次下降令人擔憂是因為這已經是連續第五個季度市場有所下降，並且季度收入達到六年來的最低值。

100G光纖的情況較為樂觀，不管環比、同比都表現出強勁增長。2013年一季度，100G光纖的出貨量較2012年四季度增長了41%，收入較2012年四季度增長了24%。以此計算，年收入有望首次超過10億美元。2013年一季度，有20家供應商出售100G光纖，將有更多的廠商加入市場競爭。供應商持謹慎樂觀的態度，短期訂單量看漲，長期訂單量並不樂觀。

❽ 光纖怎樣測量

用寬頻光源和光譜分析儀測損耗

❾ 光纖中SPR的分析

討論了光纖表面等離子體波感測器的工作原理, 並對將其用於監測以甲基橙為代表的環境污水降解過程的可行性進行了探討。 用光纖SPR感測器監測了50 mL初始濃度為30 mg?L-1的甲基橙原溶液在降解過程濃度的變化, 對降解過程中光纖SPR感測器的光譜進行了詳細的分析； 同時採用紫外-分光光度計對降解過程中溶液濃度的變化進行了監測, 並對2種方法所測的數據進行了分析對比。 結果表明, 光纖SPR同常規方法的測量結果一致, 隨著降解時間的增加, 甲基橙溶液的吸光度和濃度逐漸減小, 光纖SPR感測器的共振波長逐漸發生藍移, 同初始標定的甲基橙原溶液共振光譜比較, 說明甲基橙逐漸被降解, 且在2 h內降解率達到73%, 說明用光纖SPR感測器監測污水降解過程是完全可行的。 研究結果不僅為環境污水降解過程提供了一種新的監測方法, 同時促進了我國SPR感測技術與環保監測研究結合, 為光纖SPR技術走向實用, 並最終實現產業化積累了經驗。