線輪廓度計算方法

『壹』 誰看得懂面輪廓度計算公式，基值是不是圖紙上給的理論數啊 供參考; 極值-基值）X 2

是得，基值就是圖紙上的基本尺寸，加方框的那種。幾何公差輪廓度給的是一個公差帶，0.4的輪廓度，即在基本尺寸的位置向兩邊各放0.2的寬度，加上長度方向延伸，成為一條寬頻，然後實際測量的線或面的位置在這條寬頻之內，就合格，之外就超公差。這是簡單判定。但測量報告中是要有數值的。所以拿實際測量值到理論值的距離（極值-基值），這應該是個絕對值。
比方：基本尺寸10，輪廓度0.4，公差帶-9.8~+10.2。實際測量位置9.85，那麼9.85-10=0.15，,0.15*2是實際公差帶=0.3，是合格的。
如果實際測量位置9.75,9.75-10=0.25,0.25*2=0.5，那麼這個公差帶已經超出0.4輪廓度的范圍了就不合格。
乘2的作用應該理解了吧。

『貳』 請教輪廓度計算方法

輪廓度手動無法計算。

輪廓度是一種較難定義的幾何要素，它不像一般規則幾何要素那樣，能用少量的參數給出精確定義，所以自由曲面加工精度的檢驗也變得較為復雜，主要表現在無法直接利用被測曲面本身作為測量基準，從而使測量結果中包含由於測量坐標系與設計坐標系不重合而造成的系統性誤差。

(2)線輪廓度計算方法擴展閱讀：

線輪廓度傳統誤差檢測方法：

傳統的面輪廓度測量誤差的測量方法包括仿形裝置測量、截面輪廓樣板測量、光學跟蹤輪廓測量儀測量以及三坐標測量裝置測量等。前3種測量方法要求做出理論輪廓樣板後才能測量。由於理論輪廓樣板製作非常困難，因此該測量方法適合於一種零件大批量生產過程中的檢驗。

而採用三坐標測量裝置進行測量時無需輪廓樣板，只需要零件的CAD數學模型（零件的三維設計圖形），因此該測量方法可應用於任何場合且測量數據可靠。目前，用來採集物體表面三維坐標的測量設備和方法多種多樣，其原理也各不相同。

根據測量測頭是否和零件表面接觸可分為接觸式與非接觸式兩類。接觸測量法以三坐標測量為典型代表。三坐標測量機的測量精度高，對環境（如：溫度、濕度、防振等）要求也高。由於測量時測頭在工件上要逐點測量，所以測量速度較慢。

另外還要求被測零件的材質不能太軟、尺寸不宜過大且不易變形。非接觸測量法以結構光法為典型代表。該測量方法一次獲取物體表面的數據（點坐標）多，測量范圍大，對被測量物體的材質沒有要求，特別適合於面積大且易變形的覆蓋件類零件的測量。

『叄』 圖紙線輪廓度怎麼測量求高手解答，可以不要基準，說的好的給分

圖紙中要求測量的是線輪廓度，也就是這個件周長的一個輪廓度，首先後面要求基準ADE了， 就必須把基準評價進去，不然值是完全不一樣的。線輪廓度可以用SJ5700輪廓測量儀測量，該輪廓測量儀可測量工件的半徑、角度、坐標、距離、圓、圓截面。

常用的測量方法有：樣板檢驗法 樣板是量規的一種形式，有「對合」樣板與「疊合」樣板之分。

(3)線輪廓度計算方法擴展閱讀：

無基準的線輪廓誤差檢測-透光法注意：盡量採用自然光或光線柔和的日光燈光源以保證光隙的清晰度。測量的准確度與接觸面的粗糙度密切相關，應盡量選擇表面粗糙度較小的表面進行測量。由於是憑視覺觀察。

在經驗不足的情況下，可通過與標准光隙比較估讀誤差值的大小。將輪廓樣板按規定的方向放置在被測零件上，根據透過光線的強弱判斷間隙大小，取最大間隙作為該零件的線輪廓度誤差。

測量儀器：偏擺儀、百分表、數據採集儀。測量原理：數據採集儀會從百分表中自動讀取測量數據，然後由數據採集儀軟體里的計算軟體自動計算出所測產品的面輪廓度誤差。

最後數據採集儀會自動判斷所測零件的面輪廓度誤差是否在面輪廓度公差范圍內，如果所測面輪廓度誤差大於面輪廓度公差值，採集儀會自動發出報警功能，提醒相關操作人員該產品不合格。

『肆』 輪廓度的計算公式

輪廓度手動無法計算。

輪廓度是一種較難定義的幾何要素，它不像一般規則幾何要素那樣，能用少量的參數給出精確定義，所以自由曲面加工精度的檢驗也變得較為復雜，主要表現在無法直接利用被測曲面本身作為測量基準，從而使測量結果中包含由於測量坐標系與設計坐標系不重合而造成的系統性誤差。

(4)線輪廓度計算方法擴展閱讀：

線輪廓度傳統誤差檢測方法：

傳統的表面輪廓術誤差測量方法包括輪廓儀測量、剖面輪廓儀測量、光學跟蹤輪廓儀測量和三坐標測量。前三種測量方法在測量前需要一個理論輪廓模板。由於理論輪廓樣的製作比較困難，因此該測量方法適用於批量生產過程中對一類零件的檢驗。

該三維坐標測量裝置不需要輪廓模板，只需要CAD數學模型（零件的三維設計圖），測量方法適用於任何場合，測量數據可靠。目前，採集物體表面三維坐標的測量裝置和方法多種多樣，原理也各不相同。

根據探頭是否與零件表面接觸，可分為接觸型和非接觸型。接觸測量方法通常用三坐標測量機表示。CMM測量精度高，對環境（如：溫度、濕度、抗振動等）要求也高。由於探頭是在工件上逐點測量的，所以測量速度很慢。

另外，被測零件的材料不能太軟，尺寸不能太大，不能容易變形。非接觸測量通常用結構光來表示。該測量方法一次獲得物體表面的數據較多（點坐標），測量范圍大，對被測物體的材質沒有要求。特別適用於大面積易變形覆蓋件的測量。