偏位精度cpk計算方法

❶ CPK值如何計算

1. 計算Cpk除收集取樣數據外，還應知曉該品質特性的規格上下限(USL，LSL)，才可順利計算其值。

2. 首先可用Excel的「STDEV」函數自動計算所取樣數據的標准差(σ)，再計算出規格公差(T)，及規格中心值(U). 規格公差T=規格上限-規格下限;規格中心值U=(規格上限+規格下限)

3. 依據公式:Ca=(X-U)/(T/2) ， 計算出製程准確度:Ca值 (X為所有取樣數據的平均值)

4. 依據公式:Cp =T/6σ ， 計算出製程精密度:Cp值

5. 依據公式:Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 計算出製程能力指數:Cpk值

6. Cpk的評級標准:(可據此標准對計算出之製程能力指數做相應對策)

7. A++級 Cpk≥2.0 特優 可考慮成本的降低

8. A+ 級 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 優 應當保持之

9. A 級 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，狀態穩定，但應盡力提升為A+級

10. B 級 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 狀態一般，製程因素稍有變異即有產生不良的危險，應利用各種資源及方法將其提升為 A級

11. C 級 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 製程不良較多，必須提升其能力

12. D 級 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，應考慮重新整改設計製程。

13. CPK:Complex Process Capability index 的縮寫，是現代企業用於表示製程能力的指標。

14. 製程能力是過程性能的允許最大變化范圍與過程的正常偏差的比值。

15. 當我們的產品通過了GageR&R的測試之後，我們即可開始Cpk值的測試。

16. CPK值越大表示品質越佳。

17. Cpk--過程能力指數

18. CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]

19. Cpk的中文定義為:製程能力指數，是某個工程或製程水準的量化反應，也是工程評估的一類指標。

❷ CPK的計算方法

信息安全領域的定義：CPK是「Combined Public Key」的縮寫，即中文名為組合公鑰，是一種加密演算法，以很小的資源，生成大規模密鑰。
工程領域的定義：CPK是「Process Capability Index」 的縮寫。CPK的中文定義為：製程能力指數，是現代企業用於表示製程能力的指標，也即某個工程或製程水準的量化反應，也是工程評估的一類指標。
計算公式
CPK=Cp*（1-|Ca|）
Ca (Capability of Accuracy)：製程准確度；在衡量「實際平均值」與「規格中心值」之一致性。對於單邊規格，因不存在規格中心，因此不存在Ca；對於雙邊規格，Ca=(ˉx-U)/(T/2)。
Cp (Capability of Precision)：製程精密度；在衡量「規格公差寬度」與「製程變異寬度」之比例。對於單邊規格，只有上限和中心值，Cpu = | USL-ˉx | / 3σ 或 只有下限和中心值，Cpl = | ˉx -LSL | / 3σ；對於雙邊規格：Cp=(USL-LSL) / 6σ=T/6σ
注意: 計算Cpk時，取樣數據至少應有20組數據，而且數據要具有一定代表性。

❸ cpk計算公式

CPK的計算公式是CPK=Cp*（1-|Ca|）。
1.
CPK是「Combined
Public
Key」的縮寫，中文名為組合公鑰，是一種加密演算法，以很小的資源，生成大規模密鑰。
2.
特性
ECC特性
存儲量與密鑰規模
ECC遵從IEEE標准。
組合矩陣(Combining-matrix)分為私鑰矩陣和公鑰矩陣，分割密鑰序列(Separating-keysequence
)由一定數量的分割密鑰(Separating-key)構成，密鑰對用(ssk,
SPK)標記。
標識密鑰(Identity-key)由標識產生，用(isk,IPK)標記。
組合密鑰(Combined-key)由標識密鑰和分割密鑰復合而成，用(csk,CPK)標記。
復合特性
在橢圓曲線密碼ECC中，任意多對公、私鑰，其私鑰之和與公鑰之和構成新的公、私鑰對。
如果，私鑰之和為：(
r1
+
r2
+
…
+
rm
)
mod
n
=
r
則對應公鑰之和為：
R1
+
R2
+
…
+
Rm=
R
(點加)
那麼，r和R剛好形成新的公、私鑰對。
因為，R
=
R1
+
R2
+
…
+
Rm
=r1G
+
r2G
+…+
rmG
=
(r1
+r2
+…+
rm)
G
=
r
G
3.
分類：標識密鑰、分割鑰匙、組合鑰匙
4.
意義：製程水平的量化反映。製程能力指數：是一種表示製程水平高低的方便方法，其實質作用是反映製程合格率的高低。
5.
計算公式
CPK=Cp*（1-|Ca|）
Ca
(Capability
of
Accuracy)：製程准確度；在衡量「實際平均值」與「規格中心值」之一致性。對於單邊規格，因不存在規格中心，因此不存在Ca；對於雙邊規格，Ca=(ˉx-U)/(T/2)。
Cp
(Capability
of
Precision)：製程精密度；在衡量「規格公差寬度」與「製程變異寬度」之比例。對於單邊規格，只有上限和中心值，Cpu
=
|
USL-ˉx
|
/
3σ
或
只有下限和中心值，Cpl
=
|
ˉx
-LSL
|
/
3σ；對於雙邊規格：Cp=(USL-LSL)
/
6σ=T/6σ
參考資料
網路—CPK：https://ke..com/item/CPK/4333067?fr=aladdin#4_3

❹ CPK如何計算

CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ, (Mu - LSL)/3σ]

Cpk是指過程平均值與產品標准規格發生偏移（ε）的大小，常用客戶滿意的上限偏差值減去平均值和平均值減去下限偏差值中數值小的一個，再除以三倍的西格瑪的結果來表示。

Cpk=MIN(Tu-μ，μ-Tl）/（3*σ)

或者Cpk=（1-k）*Cp，其中k=ε/（T/2）

通常狀況下，質量特性值分布的總體標准差（σ）是未知的，所以應採用樣本標准差（s）來代替。

(4)偏位精度cpk計算方法擴展閱讀

應用

1 當選擇製程站別Cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對後製程的影響度。

2. 計算取樣數據至少應有20~25組數據，方具有一定代表性。

3. 計算Cpk除收集取樣數據外，還應知曉該品質特性的規格上下限(USL，LSL)，才可順利計算其值。

4. 首先可用Excel的「STDEV」函數自動計算所取樣數據的標准差(σ)，再計算出規格公差(T)，及規格中心值(u). 規格公差=規格上限－規格下限；規格中心值=（規格上限+規格下限）/2。

5. 依據公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 計算出製程准確度：Ca值 (x為所有取樣數據的平均值)。

6. 依據公式：Cp =T/6σ ， 計算出製程精密度：Cp值。

7. 依據公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 計算出製程能力指數：Cpk值。

❺ CPK的計算方法，舉例說明！

CPK：
Complex
Process
Capability
index
是現代企業用於表示製成能力的指標。

CPK=min（（X-LSL/3s），（USL-X/3s））

Cpk——過程能力指數

CPK=
Min[
(USL-
Mu)/3s,
(Mu
-
LSL)/3s]

Cpk應用講議

1.
Cpk的中文定義為：製程能力指數，是某個工程或製程水準的量化反應，也是工程評估的一類指標。

2.
同Cpk息息相關的兩個參數：Ca
,
Cp.

Ca:
製程准確度。
Cp:
製程精密度。

3.
Cpk,
Ca,
Cp三者的關系：
Cpk
=
Cp
*
(
1
-
｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp兩者的中和反應，Ca反應的是位置關系(集中趨勢)，Cp反應的是散布關系(離散趨勢)

4.
當選擇製程站別Cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對後製程的影響度。

5.
計算取樣數據至少應有20~25組數據，方具有一定代表性。

6.
計算Cpk除收集取樣數據外，還應知曉該品質特性的規格上下限(USL，LSL)，才可順利計算其值。

7.
首先可用Excel的「STDEV」函數自動計算所取樣數據的標准差(σ)，再計算出規格公差(T)，及規格中心值(u).
規格公差＝規格上限－規格下限；規格中心值＝（規格上限+規格下限）/2；

8.
依據公式：Ca=(X-U)/(T/2)
，
計算出製程准確度：Ca值

9.
依據公式：Cp
=T/6σ
，
計算出製程精密度：Cp值

10.
依據公式：Cpk=Cp(1-|Ca|)
，
計算出製程能力指數：Cpk值

11.
Cpk的評級標准：（可據此標准對計算出之製程能力指數做相應對策）

A++級
Cpk≥2.0
特優
可考慮成本的降低

A+
級
2.0
＞
Cpk
≥
1.67
優
應當保持之

A
級
1.67
＞
Cpk
≥
1.33
良
能力良好，狀態穩定，但應盡力提升為A＋級

B
級
1.33
＞
Cpk
≥
1.0
一般
狀態一般，製程因素稍有變異即有產生不良的危險，應利用各種資源及方法將其提升為
A級

C
級
1.0
＞
Cpk
≥
0.67
差
製程不良較多，必須提升其能力

D
級
0.67
＞
Cpk
不可接受
其能力太差，應考慮重新整改設計製程。
PPK：

Pp（Performance
Indies
of
Process）：過程性能指數，定義為不考慮過程有無偏移時，容差范圍除以過程性能。

（該指數僅用來與Cp及Cpk對比，或/和Cp、Cpk一起去度量和確認一段時間內改進的優先次序）

CPU：穩定過程的上限能力指數，定義為容差范圍上限除以實際過程分布寬度上限：

CPL：穩定過程的下限能力指數，定義為容差范圍下限除以實際過程分布寬度下限。

公式中的K是定義分布中心μ與公差中心M的偏離度，μ與M的偏離為ε=|
M-μ|

關於Cpk與Ppk的關系，這里引用QS9000中PPAP手冊中的一句話：「當可能得到歷史的數據或有足夠的初始數據來繪制控制圖時（至少100個個體樣本），可以在過程穩定時計算Cpk。對於輸出滿足規格要求且呈可預測圖形的長期不穩定過程，應該使用Ppk。」

所謂PPK，是進入大批量生產前，對小批生產的能力評價，一般要求≥1.67；而CPK，是進入大批量生產後，為保證批量生產下的產品的品質狀況不至於下降，且為保證與小批生產具有同樣的控制能力，所進行的生產能力的評價，一般要求≥1.33；一般來說，CPK需要藉助PPK的控制界限來作控制。

❻ cpk計算公式是什麼

CPK的計算公式：

Cpk=Cp(1-|Ca|)

Ca(CapabilityofAccuracy)：製程准確度。

Cp(CapabilityofPrecision):製程精密度。

注意:計算Cpk時，取樣數據至少應有20組數據，而且數據要具有一定代表性。

Cpk的意義：

製程水平的量化反映;（用一個數值來表達製程的水平） 製程能力指數：是一種表示製程水平高低的方便方法，其實質作用是反映製程合格率的高低。

❼ cpk計算公式詳細是什麼

cpk計算公式是：CPK=Cp*(1-|Ca|)。

分類：標識密鑰、分割鑰匙、組合鑰匙。是製程水平的量化反映。製程能力指數：是一種表示製程水平高低的方便方法，其實質作用是反映製程合格率的高低。

Ca(Capability of Accuracy)：製程准確度；在衡量實際平均值與規格中心值之一致性。對於單邊規格，因不存在規格中心，因此不存在Ca；對於雙邊規格，Ca=(ˉx-U)/(T/2)。

Cp(Capability of Precision)：製程精密度；在衡量規格公差寬度與製程變異寬度之比例。

過程能力指數：

過程能力指數是指過程能力滿足產品質量標准要求（規格範圍等）的程度。也稱工序能力指數，是指工序在一定時間里，處於控制狀態（穩定狀態）下的實際加工能力。

它是工序固有的能力，或者說它是工序保證質量的能力。這里所指的工序，是指操作者、機器、原材料、工藝方法和生產環境等五個基本質量因素綜合作用的過程，也就是產品質量的生產過程。

❽ cpk計算公式是什麼

計算公式：CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ，（Mu - LSL)/3σ］

過程能力指數（Process capability index）表示過程能力滿足技術標准（例如規格、公差）的程度，一般記為CPK。

cpk計算公式應用：

1、當選擇製程站別Cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對後製程的影響度。

2、計算取樣數據至少應有20~25組數據，方具有一定代表性。

3、計算Cpk除收集取樣數據外，還應知曉該品質特性的規格上下限(USL，LSL)，才可順利計算其值。

4、首先可用Excel的「STDEV」函數自動計算所取樣數據的標准差(σ)，再計算出規格公差(T)，及規格中心值(u). 規格公差=規格上限－規格下限；規格中心值=（規格上限+規格下限）/2。

5、依據公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 計算出製程准確度：Ca值 (x為所有取樣數據的平均值)。

6、依據公式：Cp =T/6σ ， 計算出製程精密度：Cp值。

7、依據公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 計算出製程能力指數：Cpk值。

❾ cpk怎麼計算

CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]
Cpk應用講議
1. Cpk的中文定義為：製程能力指數,是某個工程或製程水準的量化反應,也是工程評估的一類指標.
2. 同Cpk息息相關的兩個參數：Ca , Cp.
Ca: 製程准確度. Cp: 製程精密度.
3. Cpk, Ca, Cp三者的關系： Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜),Cpk是Ca及Cp兩者的中和反應,Ca反應的是位置關系(集中趨勢),Cp反應的是散布關系(離散趨勢)
4. 當選擇製程站別用Cpk來作管控時,應以成本做考量的首要因素,還有是其品質特性對後製程的影響度.
5. 計算取樣數據至少應有20~25組數據,方具有一定代表性.
6. 計算Cpk除收集取樣數據外,還應知曉該品質特性的規格上下限(USL,LSL),才可順利計算其值.
7. 首先可用Excel的「STDEV」函數自動計算所取樣數據的標准差(σ),再計算出規格公差(T),及規格中心值(u). 規格公差＝規格上限－規格下限；規格中心值＝（規格上限+規格下限）/2；
8. 依據公式： , 計算出製程准確度：Ca值
9. 依據公式：Cp = , 計算出製程精密度：Cp值
10. 依據公式：Cpk=Cp , 計算出製程能力指數：Cpk值
11. Cpk的評級標准：（可據此標准對計算出之製程能力指數做相應對策）
A++級 Cpk≥2.0 特優 可考慮成本的降低
A+ 級 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 優 應當保持之
A 級 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好,狀態穩定,但應盡力提升為A＋級
B 級 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 狀態一般,製程因素稍有變異即有產生不良的危險,應利用各種資源及方法將其提升為 A級
C 級 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 製程不良較多,必須提升其能力
D 級 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差,應考慮重新整改設計製程.

❿ cpk計算公式及解釋是什麼

過程能力指數（Process capability index）表示過程能力滿足技術標准（例如規格、公差）的程度，一般記為CPK。

計算公式：CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ，（Mu - LSL)/3σ］

1、雙側規格

雙側規格情形的過程能力指數，這時，過程能力指數CP的計算公式如下：式中，T為過程統計量的技術規格的公差幅度；TU、TL分別為上、下公差界限；σ為過程統計量的總體標准差，可以在過程處於穩態時得到。

式中，CPU為上單側過程能力指數。若μ≥TU，令CPU=0，表示過程能力嚴重不足，過程的不合格品率高達50%以上。