1. 測試技術和表徵方法有啥區別
首先是目的不同。測試技術是指一項具體的方法，其目的是把這項測試做完，得出結果；表徵方法是為了得到你要的結果，可以用多種測試方法。比如要量長度，用米尺量就是測試技術，而為了說明白其長短，可以用米尺量，也可以用手比劃，只要別人明白了就行，就是表徵方法。表徵方法可以包含多種測試技術。
再比如對一個化合物的分析，用紅外可以分析基本結構，這是測試技術。但是你為什麼要做紅外呢？要表達其結構可以用紅外、紫外、核磁、滴定等等，而要表達反應過程也可以用紅外。同一種測試技術可以做不同的表徵，而同一種表徵可以用多種測試。明白？
2. 簡述控制測量技術設計的程序和方法
一，觀測順序：
1，掌握四等水準測量觀測、記錄計算
2，掌握水準測量閉合差調整及求待定點高程
二，計劃與設備：
1，實驗數安排3實驗組由4 ~ 5組
2，實驗設備每組水準儀台水準尺2根尺墊2記錄板1塊測傘13．實驗場選擇條閉合水準路線間設置三堅固點A、B、C作水準點A點已知高程點假定高程10.000m 由A點發測定B、C點高程並測A點組閉合水準路線閉合差進行調整求待定點高程記錄計算實驗報告八每交份實驗報告
三、步驟：
1，已知點A發固定點A、B、C間設置若干轉點
2，每測站觀測程序：
（1）視黑面尺水準器氣泡居讀、、絲讀數
（2）前視黑面尺水準器氣泡居讀、、絲讀數
（3）前視紅面尺水準器氣泡居讀絲讀數
（4）視紅面尺水準器氣泡居讀絲讀數3．每測站各讀數按四等水準表格記錄
計算校核計算要求：
（1）視線≤100m
（2）前、視距差d ≤±5m
（3）紅、黑面讀數差≤±3mm
（4）h黑—h紅≤±5mm
（5）視距差累計值∑d ≤±10m
四、注意事項
1，每測站觀測完畢要立即進行計算校核符合要求搬站否則需要重測
2，本站∑d接近10m 站要調整前、視距使減少超5m 展開@_@水準儀使用操作基本程序安置儀器,粗略整平,瞄準水準尺讀數
方法與步驟：
1，水準儀的認識 DS3水準儀的外形和主要部件的名稱，應了解其作用及使用方法
2，安置腳架時，應使架頭大致水平，對泥土地面，應將三腳架的腳尖踩入土中，以防儀器下 沉,
3，對水泥地面，要採取防滑措施,
4，對傾斜地面，應將三腳架的一個腳安放在高處，另兩只腳安置在低處,
5，對於倒像望遠鏡，則是從上往下數。
3. 測量技術包括檢驗和
測量技術是在機械加工車間工作的機械加工工人必須掌握的技術，此外還有同名圖書《測量技術》。
中文名
測量技術
外文名
Measurement technology
類型
科技術語
用於
測量
快速
導航
測量分類
變換測量技術
減小不確定度
技術措施
測量介紹
測量中所採用的原理、方法和技術措施。電子測量的對象是材料、元件、器件、整機和系統的特徵電磁量。這些電磁量大致包括：①基本參量，如電壓、功率、頻率、阻抗、衰減和相移等;②綜合參量,如網路參量、信號參量、波形參量和晶體管參量等；③特殊頻段的參量，如激光頻率、光纖電特性、亞毫米波參量和甚低頻參量等。
對於某一測量對象，一般有多種測量技術可供選擇，而某一種測量技術又往往可用於不同的測量對象。用於同一測量對象，不同測量技術的效果可能大致相同，也可能大不相同。在電子測量中，對於不同參量、不同量程、不同頻段以至不同傳輸線形式，往往要採用不同的測量技術。
測量分類
按照測量的實測對象
按照測量的實測對象，測量技術可分為以下兩種。
①直接測量技術：在測量中，無需通過與被測量成函數關系的其他量的測量而直接取得被測量值。如用電壓表直接測量電壓。其測量不確定度主要取決於測量器具的不確定度，在一般測量中普遍採用。
測量技術圖書
②間接測量技術：在測量中, 通過對與被測量成函數關系的其他量的測量而取得被測量值。如通過測量電阻R 兩端的電壓υ和流經電阻R的電流I，然後利用R=υ/I 的關系求得電阻值。其測量不確定度分量的數目要多一些，一般在被測量不便於直接測量時採用。
按照測量的進行方式
按照測量的進行方式，測量技術可分為以下兩種。
①直接比較測量技術：在測量中，將被測量與已和其值的同一種量相比較。其測量不確定度主要取決於標准量值的不確定度和比較器的靈敏度和分辨力，它可克服由於測量裝置的動態范圍不夠和頻率響應不好所引入的非線性誤差。替代法、換位法等屬於這一類。
②非直接比較測量技術：不是將被測量的全值與標准量值相比較的比較測量。微差法、符合法、補償法、諧振法、衡消法等屬於這一類。
在建立計量標準的測量中，經常採用基本測量技術，即絕對測量技術。這是通過對有關的基本量的測量來確定被測量值。其測量不確定度一般是通過實驗、分析和計算得出，精度高，但所需裝置復雜。
按照測量對象的性質
按照測量對象的性質，測量技術可分為以下兩種。
①無源參量測量技術：無源參量表徵材料、元件、無源器件和無源電路的電磁特性，如阻抗、傳輸特性和反射特性等。它只在適當信號激勵下才能顯露其固有特性時進行測量。這類測量技術常稱為激勵與響應測量技術。由於測量時必需使用激勵源，它又稱為有源測量技術。
②有源參量測量技術：有源參量表徵電信號的電磁特性，如電壓、功率、頻率和場強等。它的測量可以採用無源測量技術，即讓被測的有源參量以適當方式激勵一個特性已知的無源網路，通過後者的響應求得被測參量的量值，如通過迴路的諧振測量信號頻率。有源參量的測量也可採用有源測量技術，即把作為標準的同類有源參量與它相比較，從而求得其量值。
4. 放射性同位素分析測定技術與方法
要利用放射性同位素體系測定岩石礦物的年齡就必須獲得准確的母體、子體的量。由於岩石礦物是幾乎含有周期表中83 個自然產出元素的復雜體系,盡管現代分析方法技術能較為精確地分析這些元素的含量,但一方面相對於年齡測定的准確度與精確度的要求來說,含量分析給出的精確度還是非常低的,另一方面這些元素分析給出的結果無法獲得有關子體同位素的准確量值。如果微量元素平行樣品分析最佳精確度≤10%,在放射性同位素定年中,以埃迪卡拉-寒武紀分界 542Ma 為例,年齡測定誤差在±54Ma,那麼測定的地質事件可能屬於寒武紀/奧陶紀邊界或新元代埃迪卡拉紀。顯然這種分析誤差在放射性同位素定年中是不可接受的。同時自然界一些放射成因子體存在同量異位素,它們疊加在一起將造成對放射成因子體的錯誤定量。
對岩石礦物的放射性定年,首先須將它們完全分解。對於硅酸鹽類礦物一般用氫氟酸+硝酸、硫化物與自然金屬類用硝酸或王水、碳酸鹽類用鹽酸,在聚四氟乙烯密封溶樣罐中加熱分解。由於即使是優級純的化學試劑本身也含有一定的雜質元素,為了降低這些雜質元素及其同位素對樣品結果的影響,所用試劑均應亞沸蒸餾為超純試劑。同時因為空氣中也含有低濃度的金屬元素,實驗室的空氣需進行過濾並保持較室外環境稍高的壓力。所用器皿多由純石英或聚四氟乙烯製成。完全分解後的樣品溶液根據測定對象的不同,要轉移到不同的離子交換樹脂上將待測元素與其他元素分離開,如 Rb-Sr與其他元素的分離由陽離子交換樹脂;Sm-Nd先由陽離子交換樹脂與其他元素分離,而後再由塗有己基二乙基磷酸氫 (HDEHP)的聚四氟乙烯粉末柱上由鹽酸淋洗將 Sm 與 Nd 分離開;Pb 由氫溴酸載入到陰離子交換樹脂上,通過鹽酸淋洗與其他元素分離。其他定年系統,依元素化學性質的不同而採用不同的分離方法,如 Re-Os 在 Carius 管中由鹽酸、硝酸分解樣品,使Os 轉化為 OsO4 由蒸餾而與 Re 分離;Re 則通過萃取與陽離子交換與其他元素分離(杜安道等,2001;屈文俊等,2003)。
為了准確獲得母體、子體元素含量,通過在樣品中定量加入人工富集某一同位素的相應元素稀釋劑後進行分離測定,這種方法稱為同位素稀釋法 (陳岳龍等,2005),由這種方法測得的母體、子體元素含量精確度可達千分之幾,遠較其他分析方法的精確度高。
此外,一些特別的同位素體系可以通過樣品先在反應堆中照射,將母體中的某一同位素轉換成同量異位素,從而將母體、子體的測定在一次處理中完成。如將鉀在反應堆中照射後,其中的39 K 轉變為39 Ar,由於在自然界中39 K、40 K 的豐度比是恆定的,測定出39 K的含量也就確定了40 K的含量。而39 Ar可與40 K 的放射成因40 Ar 子體在同一體系中完成測定。類似地還有Re-Os體系。
分離純化後的單個元素要准確獲得母體、子體元素的含量及子體中相應同位素的量就必須進行質譜分析。質譜分析就是將純化後的單一元素載入在質譜計離子源的燈絲上,這種燈絲一般為錸帶或鉭帶,通過增高燈絲電流使載入在其上的被分析元素發生電離形成帶電粒子。這些帶電粒子通過靜電分析系統後到達扇形磁場中,通過磁場將不同質/荷比的粒子分離開,在信號接收端由法拉第杯或光電倍增管、電子倍增器記錄不同質/荷比的離子流強度,即可得到相應同位素的量值。其原理如圖6-2、式 (6-11)所示。
圖6-2 扇形磁場質譜計基本結構示意圖
實心圓與空心圓分別代表元素的輕、重同位素
地球化學
式中:r為質荷比為m/e的帶電粒子運動半徑;H為磁場強度;V為靜電分析系統的電壓。
質譜計一般發射出來的是正離子,通常稱為熱離子質譜計 (TIMS)。某些難電離為正離子的元素,如鋨,形成氧化物後更容易電離為負離子。這種對負離子進行靜電分析的極性與熱離子質譜計相反,稱為負熱離子質譜計 (N-TIMS)。
離子源電離過程中,由於較輕的同位素相對於重同位素具較低的電離能,從而優先電離,造成測定過程隨時間輕同位素電離越來越少、重同位素越來越多,這就是儀器測定過程中的同位素分餾效應。這種效應不校正,將會造成同位素分析中高達 1%的不可接受誤差。這種分餾效應對於具有三個以上同位素,且其中兩個自地球形成以來沒有其他因素造成其同位素豐度發生變化的元素,可利用這兩個同位素的理論值與實際測定值之間的差別進行分餾校正,稱為內部分餾校正。以鍶為例,在自然界有84 Sr、86 Sr、87 Sr、88 Sr 這 4 個同位素,其中87 Sr由87 Rb 的衰變而造成豐度有變化,但自地球形成以來86 Sr、88 Sr 的豐度沒有其他因素使其增加或減少,因此86 Sr/88 Sr 是恆定的,國際上公認值為0.1194。將質譜測量中每次觀測到的86Sr/88Sr比值與0.1194的偏差再除以相應同位素的質量差即可得到分餾因子 (F),即:
地球化學
86 Sr、88 Sr的質量差為1.996 ,獲得86 Sr/88 Sr的觀測值即可計算出單位質量分餾因子F ,由實測的( 87 Sr/86 Sr) obs可由式(613)計算出真實的( 87 Sr/86 Sr) true ,式中86 Sr、87 Sr的質量差Δmass=1.000。
地球化學
這種分餾校正可使87 Sr/86 Sr比值的內部分析精確度從大約1%提高到優於0.01%。這種分餾校正方式稱為線性規律校正,對於一些更輕的同位素由指數分餾規律校正更為符合實際 (陳岳龍等,2005)。
對鉛同位素分析或銣同位素稀釋法測定無法使用內部分餾校正,這是因為鉛的4 個同位素中有3 個具放射成因組分的影響,而不具固定的同位素比值;而銣只有 2 個同位素,加入稀釋劑後這兩個同位素的比值不同於天然體系的。在這種情況下,必須使用外部分餾校正。外部校正有兩種方法,一是通過標准樣品;二是通過加入雙稀釋劑到樣品中達到間接的內部分餾校正。
由於同位素比值可以方便地校正測定過程中的同位素分餾影響,對於式 (6-10)在實際應用過程中均除以相應子體的某一穩定同位素而表示為同位素比值的關系。以 Sr 為例,可以表示為
地球化學
如果一組樣品 (3 個以上)是同時形成的且具共同來源,它們形成後直到分析測定時體系始終處於封閉狀態,它們在以母體/子體元素某同位素比值為橫坐標、放射成因子體同位素/子體元素某同位素比值為縱坐標的圖上應形成線性分布,該線性分布的斜率m (=eλt-1)即可解出這一組樣品的年齡,因此稱為等時線;截距即為它們共同的初始子體同位素比值。
5. 三維測量技術的方法及應用
光學主動式三維測量
目前，主動式光學三維測量測量技術已廣泛用於工業檢測、反求工程、生物醫學、機器視覺等領域。例如，復雜的葉輪和葉片的面形檢測，汽車車身的檢測，人類口腔牙型測量，整形外科效果評價，用於製鞋CAD的鞋楦三維數據採集，各種實物模型的三維信息記錄與仿形等。三維高速度、高精度測量技術將隨著測量方法的完善和信息獲取與處理技術的改進而進一步發展，在新的更加廣闊的研究和應用領域中發揮重要作用。
主動式光學非接觸測量技術大體上可分為飛行時間法、主動三角法、莫爾輪廓術、投影結構光法、自動聚焦法、離焦法、全息干涉測量法、相移測量法等。以下對幾種主要的方法進行以下簡單介紹。
3.2.1.飛行時間法
飛行時間法是基於三維面形對結構光束產生的時間調制，一般採用激光，通過測量光波的飛行時間來獲得距離信息，結合附加的掃描裝置使光脈沖掃描整個待測對象就可以得到三維數據。飛行時間法以對信號檢測的時間解析度來換取距離測量精度，要得到高的測量精度，測量系統必須要有極高的時間解析度，常用於大尺度遠距離的測量。
3.2.2.干涉法
干涉測量是將一束相干光通過分光系統分成測量光和參考光，利用測量光波與參考光波的相干疊加來確定兩束光之間的相位差，從而獲得物體表面的深度信息。這種方法測量精度高，但測量范圍受到光波波長的限制，只能測量微觀表面的形貌和微小位移，不適於大尺度物體的檢測。
3.2.3.主動三角法
光學三角法是最常用的一種光學三維測量技術，以傳統的三角測量為基礎，通過待測點相對於光學基準線偏移產生的角度變化計算該點的深度信息。根據具體照明方式的不同，光學三角法可分為兩大類：被動三角法和基於結構光的主動三角法。雙目視覺是典型的被動三維測量技術，它的優點在於其適應性強，可以在多種條件下靈活地測量物體的立體信息，缺點是需要大量的相關匹配運算以及較為復雜的空間幾何參數的校準等問題，測量精度低，計算量較大，不適於精密計量，常用於三維目標的識別、理解以及位形分析等場合，在航空領域應用較多。主動三維測量技術根據三維面形對於結構光場的調制方式不同，可分為時間調制和空間調制兩大類。飛行時間法是典型的時間調制方法，激光逐點掃描法、光切法和光柵投射法是典型的空間調制方法。
3.2.4.相移測量法
相移測量法是一種重要的三維測量方法，它採用正弦光柵投影和相移技術，投影在物體上的光柵，根據物體的高度而產生變形，變形的光柵圖像叫做條紋圖，它包含了三維信息。
相移法是一種在時間軸上的逐點運算，不會造成全面影響，計算量少。另外，這種方法具有一定抗靜態雜訊的能力。缺點是不能消除條紋中高頻雜訊引起的誤差。在傳統相移系統中，精確移動光柵的需要增加了系統的復雜性。而在數字相移系統中，用軟體控制精確地實現相位移動。某些應用場合不允許測量多幅圖像，但只要沒有以上限制，相移法仍然是首選方案。
6. 測量技術與儀器專業學什麼
測控技術與儀器專業主要課程:
精密機械與儀器設計、精密機械製造工程、模擬電子技術基礎、數字電子技術基礎，微型計算機原理與應用、控制工程基礎、信號分析與處理、精密測控與系統等。
測控技術與儀器專業主幹學科：光學工程、儀器科學與技術。
測控技術與儀器專業主要實踐性環節：包括軍訓、金工、電工、電子實習，認識實習，生產實習，社會實踐，課程設計，畢業設計（論文）等。
拓展資料：
測控技術與儀器專業培養具備精密儀器設計製造以及測量與控制方面基礎知識與應用能力，能在國民經濟各部門從事測量與控制領域內有關技術、儀器與系統的設計製造、科技開發、應用研究、運行管理等方面的高級工程技術人才。
測控技術與儀器專業培養學生學習精密儀器的光學、機械與電子學基礎理論，測量與控制理論和有關測控儀器的設計方法，受到現代測控技術和儀器應用的訓練，具有本專業測控技術及儀器系統的應用及設計開發能力。
7. 技術測量與先進測量技術區別 和 質量控制的方法與手段及其意義
BC是橋面,AD是橋墩,設計大橋時工程師要求斜拉的鋼繩AB等於AC，大橋建成後，工程技術人員要對大橋質量進行驗收，由於橋墩AD很高，無