光譜測量方法

Ⅰ 光譜儀基本測試操作

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光譜儀 操作方法
光譜儀操作方法
共享文檔 2018-01-26 2頁
光譜儀操作方法

1、 首先打開氬氣瓶閥門，再把壓力表調壓閥調至壓力大約為0.5pa；

2、 打開儀器電源開關，此時會顯示「3.5EO」，只要是後邊位數顯示「0」都可以，證明真空已抽完，否則要抽真空一會；

3、 待確認顯示「0」後，按下綠色電源按鈕，一個是「檢測」、一個是「光源」。（關機時與上述相反）；

4、 打開電腦桌面「光譜儀分析程序」，點選「合金鋼」後按確認；

5、 選用一個沒用的樣品放入儀器火花口，點選電腦光譜分析程序裡面的「測量」菜單選項；

6、 然後點光譜分析程序中的「顯示選擇」點選「強度」，如：出現60000（6萬）左右數值代表樣品已激發；（註：按「測量」菜單看FeR，FeR（鐵）一般接近80000（8萬）強度值）；

7、 待確認試樣已激發後，關閉退出「光譜儀分析程序」軟體；

8、 然後，打開電腦桌面中的「光譜儀描跡」程序軟體，點擊「條件設置」、再點擊「讀電機位置」，此時會顯示「4460」位置，在對話框中設置起始位置數減去150的值輸入到起始位置中;

9、 按「復位到原點」選確認，把樣品T10放入儀器火花口，按「開始」選項，待激發完成後方可選通道6；（剛開始預定電機的起始點4500，終止點4800（直接輸入）；

10、 對照軟體屏幕顯示出的波形圖，看最高點數值，比如：4600話，再從新選擇「條件設置」選項，然後再選「復位到原點選項（4600）」再點選「指定的起始位置」，再點選「讀電機位置」選項；此時，看彈出的顯示值是否一致，一致後點「OK」退出，關閉「描跡軟體」；

11、 從新打開「光譜儀分析程序」點「標准化」菜單，此時，系統默認「C25」按「是」確認；

12、 然後放入「C25」試樣到儀器火花口，點選軟體中的「測量」菜單，待測量完成後，從新拿出試樣換一個點位放好做第2次的「測量」（因一個試樣至少測2個點位）註：進行第2次測量不需要設置，直接按「測量」完成；

13、 當完成第2次測量後，點「平均+偏差」菜單選項，此時，電腦屏幕會彈出一系列數據表，查看「RSD」一行中的測量值看是否＜3，＜3以下方可，否則需從測；

14、 如出現某一元素＞3時，應從新放入剛才試樣，按軟體中「測量」選項，此時，會顯示3次的測量數據，挑選一個相差大的一組刪除，保留2組（次）數據即可；註：刪除是游標放入某一組中，按下鍵盤「Dele」鍵刪除；

15、 此時，再次從新點「平均+偏差」看RSD一行數據是否＜3；

16、 待確認＜3後，點「下一個試樣」，電腦屏幕下方會顯示「T10」，此時，應放入T10試樣到火花口；

17、 重復上述步驟打2個點，再按「平均+偏差」菜單完成後點「下一個試樣」確認、接受，標准化完成；

18、 點菜單中的「類型標准化」然後選「410」或「Q345任一選項，再根據所選的選項對應放入試樣到儀器火花口打點、激發，（也是要打2個點）；

19、 然後用我司購置的標准樣「測量」一次，然後看測出的數據與樣品盒貼的標准值偏差，當接近時證明OK！

20、 刪除剛才預測的數據，把客戶樣品打磨進行真正的送檢樣品測試分析了；

Ⅱ 光譜分析儀的測試標准參數及方法和注意事項是什麼

材質必須均勻。你的待測元素不均勻的話，多的地方和少的地方差別會較大。因為XRF光譜儀入射光線一般較窄，直徑1-5微米，也就是說照射到樣品的區域會很小，所以不均勻樣品檢測會不準確，當然主要也是看不均勻程度。
你的交錯規律排列指的什麼?如果是一層高分子，一層無機物，在一層高分子一層無機物，並且每層的厚度一定(比如第一層高分子都是10微米厚)。這樣的可以在一定程度上看成是均勻的，但是用X熒光光譜儀測量還是有問題，因為X熒光透過不同物質有無限厚(某元素的X熒光透射不出來的厚度，原因是自吸收)的問題。這樣誤差看你每層的厚度了，如果每層都很薄，比如幾個微米那麼影響會較小。如果每一層達到幾十比如50微米以上，那麼影響就會較大。
晶體成分沒什麼，只要是均勻分布就可以，因為即便有分光等現象，也是等概率的，因為是均勻分布。

Ⅲ 直讀光譜儀測試步驟方式

有很多很多朋友來電想在采購前了解下全譜直讀光譜儀操作步驟，便於對其有一個大概的認知，知道需要采購那些輔助設備，怎麼樣操作才能檢測精準。這樣在采購時心中有數，采購後直接上手操作，而不同廠家的光譜分析儀有所不同，下面就5代光譜分析儀操作。可以分為簡單兩步：制樣與一鍵激發。

全譜直讀光譜儀哪家好？在火花直讀光譜儀操作前，首先要准備好相關檢測使用輔助設備，一瓶純氬氣用於檢測使用，其次室內安放空調等降溫設備，以便夏天溫度過高影響檢測結果，其次還需要一台打磨機用於打磨樣品進行觀察，大致步驟如下。在對樣品進行打磨時，首先要盡可能的澆注的樣品沒有氣泡，這樣確保火花直讀光譜儀激發時折射的光譜精準。然後在使用切割機或者其他設備將樣品取出一個面進行打磨，在打磨的過程中樣品要與打磨機平台保持平衡，這樣在後期檢測時，確保沒有光線從兩者貼合處流出。zui後打磨時要依次使用不同目數砂紙進行打磨。

然後將打磨好的樣品放在全譜直讀光譜儀激發光遠處，因為在光譜分析儀交付給廠家前已經設定好材料曲線，後期只需點擊激發就可檢測，操作人員無需經驗也可操作。主要使用壓干固定住，打開儀器，點擊一鍵激發，等待30秒左右即可得結果。這樣即使企業操作人員交接替換也無需漫長的培訓交接工作。

Ⅳ 在光譜測量中常見的光譜有哪幾種，差別是什麼

每個元素的光譜都不一樣！你問的是光譜儀的分類吧？

Ⅳ 光譜共焦感測器的測量方法

德國米銥光譜共焦測量方法利用色差透鏡偏差這種物理現象的特點。通過使用特殊透鏡，延長不同顏色光的焦點光暈范圍，形成特殊放大色差，使其根據不同的被測物體到透鏡的距
離，會對應一個精確波長的光聚焦到被測物體上。通過測量反射光的波長，就可以得到被測物體到透鏡的精確距離。這一過程與攝影器材通過各種方法消減色差的過
程正好相反。
為了得到上述特殊的色差，需要在感測器探頭內使用若干特殊透鏡，用來根據所需量程將光線分解。最後使用一個凸透鏡，將感測器探頭射出的光線聚攏在一條軸線上，形成所謂的焦點軸線。如果不使用凸透鏡，感測器探頭射出的光將分散開來，測量也就無法進行了。

Ⅵ 光譜測量的問題

就是通過光柵把復合光分開，形成一個譜帶，再通過檢測器讀出每條譜線的強度，轉化成具體的測量值。

Ⅶ 光譜分析法

(一)紫外—可見光—近紅外分光光度計

紫外—可見光—近紅外分光光度計是對彩色寶石內所含致色雜質離子在不同波段選擇性吸收而進行檢測的儀器。其常用的檢測范圍為190~1100nm,最遠可檢測3000nm的區域。其原理是:利用一定頻率的紫外—可見光照射被分析的物質,引起分子中價電子的躍遷,紫外—可見光被選擇性地吸收了。一組隨波長變化的吸收光譜,反映了試樣的特徵。在紫外可見光的范圍內,對於一個特定的波長,吸收的程度正比於試樣中該成分的濃度,因此測量光譜可對某些成分的含量進行定性分析,根據所測吸收光譜與已知濃度的標樣的比較,可進行定量分析。

對不同產地同一品種的彩色寶石而言,內部所含的雜質離子可能存在差異,對這些寶石進行紫外—可見—近紅外范圍內的光譜測量,光譜中吸收峰位置的差異可將其特徵離子區分開來,通過這些特徵離子來判別其產地。此外,可見光吸收光譜還能直接反映致色因子的組成(包括缺陷、雜質等)。這里需要指出的是彩色寶石多數為中級晶族的礦物,具多色性,且有的品種很明顯,在測量紫外—可見光吸收光譜時需要盡可能多測量幾個不同的結晶方位,以便找出雜質離子與結晶方位的關系。如圖2-9為馬達加斯加安卓魯綠藍色與綠黃色藍寶石垂直光軸(c軸)和平行光軸的典型吸收光譜,它表明晶體在垂直光軸方向上比平行光軸方向對可見光的吸收要強,主要吸收峰的位置差異也解釋了藍寶石的二色性特徵。藍寶石在280~880nm范圍內包含Fe²⁺/Ti⁴⁺的吸收帶,同時含有較強的Fe³⁺和較弱的T³⁺i的吸收帶。鐵和鈦的不同價態在不同的結晶方位有異。其不同價態的譜峰強弱決定了藍寶石多色性的顏色變化和強弱。

圖2-9 馬達加斯加安卓魯綠藍色(上)與綠黃色(下)藍寶石垂直光軸(c軸)和平行光軸的吸收光譜

(二)傅立葉變換紅外光譜儀

紅外光譜屬於分子光譜,與核磁共振光譜、質譜、紫外光譜一樣,是確定分子組成和結構的有力工具。

人們習慣將紅外光譜區間劃分為三個區,即近紅外區(11000~4000cm^-1)、中紅外區(4000~400cm^-1)和遠紅外區(400~10cm^-1),對於大多數的物質來說,中紅外區的光譜包含的光譜信息最多。寶石學研究中常用到400~11000cm^-1的中紅外區和近紅外區光譜。

寶石在紅外光的照射下,引起晶格(分子)、絡陰離子團和配位基的振動能級發生躍遷,並吸收相應的紅外光而產生的光譜稱為紅外光譜。寶石材料在紅外區的電磁波譜吸收主要是由於礦物成分中的絡陰離子(基團)的振動而產生,每種基團都有其特徵的頻率范圍,根據光譜吸收帶的頻率可以判斷該礦物含有何種絡陰離子或其他基團(如H₂O),由吸收帶的強度還可以判斷基團的含量。如果一種礦物含有幾種基團,則光譜上會出現若干相應的特徵頻率吸收帶。

另外,礦物分子的振動與陽離子有關。絡陰離子與不同陽離子連接的鍵不同,使絡陰離子本身的鍵強或鍵長發生改變,從而導致振動頻率發生變化,這種變化比較明顯時,就可據此了解陽離子的種類及其相對含量。

固體樣品的測試方法有常規透射光譜法、顯微紅外光譜法、漫反射光譜法、衰減全反射光譜法、光聲光譜法、高壓紅外光譜法等。固體的常規透射光譜制樣方法分為壓片法、糊狀法和薄膜法。

圖2-10 利用傅立葉變化紅外光譜儀對寶石進行光譜測量

應該注意的是,紅外吸收光譜與紅外光入射樣品的方向有關。理想狀態下,紅外光譜應該採取定向採集,這樣可以控制由於採集方向不同而獲得不同光譜的現象。由於刻面寶石通常難以滿足這樣的條件,因此,為了更准確地確定某一樣品的產地,應盡可能從兩到三個不同的方向進行光譜採集。

紅外光譜為樣品官能團在紅外區域的特徵吸收提供了一種測試方法。不同產地同一品種的彩色寶石其紅外吸收峰的位置、形狀或強度可能存在某些差異。圖2-11中A為坦尚尼亞溫扎紅寶石的紅外吸收光譜,在5000~1500cm^-1波段可見3160cm^-1明顯的吸收峰,伴隨有3350c^-1m、3240cm^-1和2420cm^-1處的吸收;圖2-11中B為莫三比克紅寶石的紅外吸收光譜,在5000~1500cm^-1波段中可見3695cm^-1、3670cm^-1、3650cm^-1和3620cm^-1的一組吸收峰。又如剛玉晶體中常含有粘土礦物包體,圖2-12為最常見的幾種粘土礦物(水鋁石、綠泥石、高嶺石、針鐵礦)的典型紅外光譜,由於這些礦物的吸收峰特徵有差異,據此我們可以分析剛玉中包體的種類,從而找出其產地特徵的紅外鑒別指標。

圖2-13 NGTC北京實驗室使用拉曼散射光譜儀分析彩色寶石內的包體

Ⅷ 紅外光譜的測定方法與紫外光譜有何不同

1、原理不同

紅外光譜：吸收紅外光能量，引起具有偶極矩變化的分子的振動、轉動能級躍遷。

紫外光譜：吸收紫外光能量，引起分子中電子能級的躍遷，主要是引起最外層電子能級發生躍遷。

2、譜圖的表示方法不同

紅外光譜：相對透射光能量隨透射光頻率變化。

紫外光譜：相對吸收光能量隨吸收光波長的變化。

3、提供的信息不同

紫外光譜：吸收峰的位置、強度和形狀，提供分子中不同電子結構的信息。

紅外光譜：峰的位置、強度和形狀，提供功能團或化學鍵的特徵振動頻率。

4、表示單位不同

紫外光譜：一般用納米（nm）為單位。

紅外光譜：一般用微米（μm）為單位。

Ⅸ 發射光譜的基本概念和獲得發射光譜的基本測量方法

原子核外有很多不同的能級，核外電子接收和放出能量時，在不同的能級間躍遷。當所有的電子接收到較高能量後全部以躍遷到低能級的方式釋放能量時，在照片上就可得到一條連續的譜帶，這樣的譜帶就叫發射光譜。將一個電壓加在兩個相距較近的電極上時，發出的弧光就是連續光譜，產生發射光譜的電壓可從100多伏到上萬伏。熾熱的固體、液體和高壓激發氣體發出的光都是連續光譜。
測量普線的儀器一般用一種像顯微鏡樣的譜線測量儀器（具體名稱忘記了，可以向大學物理系的普物教研室查詢），標准物是鐵。將被測物質（無機物）的譜線與鐵的相對比即可得知。
發射光譜法已經很成熟，幾乎現在自然界中的物質都已經有了各自的發射光譜圖，查一下就可知道了。所以現在最多是將被測物的光譜圖與鐵的攝在一張相片（實際是底片）上，放在閱譜鏡下觀看。