1. 全站儀用測站點和後視點進行其他點的測量的方法叫什麼
1.這種方法叫做極坐標放樣；
2.此外全站儀還有角度測量；
3.極坐標放樣是全站儀用的最多的測量方法。
望採納，謝謝
標准工時的制定方法有多種，通常使用的方法有直接觀察和間接方法。
直接觀察主要有秒錶測量法、模特法、簡明工作因素法、視頻分析法。其中模特法和簡明工作因素法都是分解工作中員工的動作而定製的工時。
間接的度量有預定動作時間標准法、工作因素法等。
工時測量以及工時分析，所提到的都是基礎ie工作，方法很多，主要是解決效率和精準度的問題，關於這點，現在有很多精益專家都是用軟體輔助做，比如vioovi工時分析軟體就不錯的，樓主可以參考下。
3. α測量方法
我們知道，三個天然放射性系列中各有一個氣體核素（222Rn、220Rn和219Rn），它們是氡的放射性同位素，稱為射氣。以測量射氣及其短壽衰變子體產生的α粒子而建立起來的各種天然核輻射測量方法，總稱為α測量方法。其中射氣測量是一種瞬時測氡方法，其餘方法（包括徑跡測量、釙-210法、α卡法，活性炭法等），都是累積測氡方法。
12.2.1 射氣測量
12.2.1.1 射氣場的形成機制
岩、礦石中的鐳（226Ra、224Ra、223Ra）經α衰變可不斷生成射氣，其中對α測量最有意義的射氣是氡（222Rn）。氡的一部分可以析出到岩（礦）石的孔隙和裂隙中，成為自由氡。這樣就在岩（礦）體周圍形成一個氡濃度增高的地段。按照氣體分子運動的規律，氡從濃度高處向濃度低處擴散，從壓強大處向壓強小處滲流，從溫度高處向溫度低處移動。於是，氡就從岩（礦）體向各個方向遷移，從地下深處向地表遷移。在遷移過程中氡還要按其衰減規律不斷減少。因此，離開岩（礦）體後，氡的濃度不斷降低，這樣便形成了一個以岩（礦）體為中心，濃度由內向外，由深至淺逐漸降低的射氣場。射氣場的形成還受地下水、伴生氣體（氧、二氧化碳、氮）、岩石破碎程度、孔隙度、氣象條件等因素的影響。尤其是地下水的作用，可使鈾、鐳遷移至地表，並不斷衰變成氡。實踐證明，α測量方法的探測深度可達數百米，能提供較多的深部地質信息。
釷射氣（220Rn）和錒射氣（219Rn）也能形成各自的射氣場，但它們的半衰期短，所形成的場僅限於岩（礦）體附近很小的范圍。
12.2.1.2 射氣測量工作方法
根據地質任務和對測區研究程度的不同，可將射氣測量分為概查、普查和詳查三個階段。各階段的比例尺和測網布置與地面γ測量一致，不再贅述。
射氣測量的儀器稱為測氡儀，其工作原理與γ輻射儀類似，如圖12-9所示。先在測點上打深約0.5～1m的取氣孔，再將取氣器埋入孔中，用唧筒將土壤中的氡吸入測氡儀的探測器中，然後經光電倍增管轉換為電脈沖信號進行測量。測量完畢後立即排氣，然後移至下一測點，逐點進行測量。
圖12-9 射氣測量工作過程示意圖
不同地區觀測的射氣濃度有各自的底數，高於底數1.5～3倍的濃度值稱為異常。由於氡（222Rn）的半衰期比釷射氣（220Rn）長得多，錒射氣（219Rn）半衰期僅4s左右，其影響可不予考慮。因此，可用以下方法判斷異常的性質：①若在最初5～10min內儀器讀數不減小或讀數反而增加，則認為異常為氡引起；②若1min後讀數減小大約一半，則認為異常為釷射氣引起；③若讀數隨時間增大而減少，但每隔1min減小量不到原讀數的一半，則認為異常為氡、釷射氣共同引起。
射氣測量的重現性較差，但也應當進行一些檢查測量，以了解異常的變化趨勢是否改變，異常位置是否大致可靠等。
12.2.1.3 射氣測量數據的整理及圖示
野外工作中，在測點讀數的是測氡儀的計數率或指針偏轉的格數，應按下式將其換算為射氣濃度ρ（Bq／l）
勘查技術工程學
式中M為儀器的測程系數，用數字顯示式儀器時，M=1；I為儀器讀數（cpm或格）；JR為儀器標定系數（Bq／（L·cpm）或Bq／（L·格））。
鈾、釷混合異常點的讀數為222Rn和220Rn濃度之和。利用停止抽氣後t1時刻的讀數n1和t2時刻的讀數n2，可以按下式分別計算222Rn和220Rn的濃度ρ（Rn）和ρ（Th）。
勘查技術工程學
式中ρ1、ρ2分別為用停止抽氣後t1、t2時刻的讀數按（12.2-1）式計算的總濃度；P1、P2分別為 t 1、t 2 時刻222 Rn的增長率分別為 t 1、t 2 時刻220 Rn的衰減率。
解上述聯立方程組，得到
勘查技術工程學
根據（12.2-3）和（12.2-4）式可計算222Rn和220Rn濃度的比值K，即
勘查技術工程學
式中C=ρ2／ρ1。為方便起見，可根據（12.2-5）式做出K-C曲線量板或K-C值換算表。實際工作中，根據讀數算出C值後，就可利用量板或換算表直接得到K值。
利用統計方法還可以確定射氣底數和異常下限。
射氣測量的成果圖件有射氣濃度剖面圖、剖面平面圖、等線值平面圖，以及氡、釷射氣濃度比等值線平面圖等。
12.2.1.4 射氣測量的應用
與γ測量相比，射氣測量具有較大的探測深度，但儀器較笨重，工作效率較低。此外，氣候、地形、土壤層結構，以及某些物質（岩石、粘土、腐殖質等）的吸附作用，都能影響射氣異常，使之復雜化，給異常解釋造成困難。
射氣測量主要用於尋找浮土覆蓋下的鈾、釷礦體，圈定構造帶或破碎帶，劃分岩層接觸界線，勘查淺層裂隙水等。
12.2.2 α徑跡測量
12.2.2.1 α徑跡測量的原理
重帶電粒子（質子、α粒子、重離子、宇宙射線）或核輻射碎片射入固體絕緣材料中時，在它們通過的路徑上會造成輻射損傷，留下微弱的痕跡，其直徑為10 nm，長為10～100 nm左右，稱為潛跡。潛跡只有在電子顯微鏡下才能觀察到。如果把這種受到輻射損傷的材料放入強酸或強鹼溶液中浸泡，則損傷部分就會較快地發生化學反應，並溶解到溶液中。擴大後的潛跡直徑可達20μm左右，它們就是粒子射入物質中形成的徑跡，在光學顯微鏡下可觀測到粒子的徑跡。由此可見，採用某些固體絕緣材料能記錄重帶電粒子，這類材料稱為徑跡探測器。可作為徑跡探測器的材料包括雲母、石英等結晶固體，各種玻璃等非結晶固體，以及硝酸纖維（CN）、醋酸纖維（CA）、聚碳酸酯（PC）、稀丙基二甘醇碳酸酯（ADC）等。
實際工作中，為了測量α粒子形成的徑跡，要將探測器置於探杯內，並埋入地表土壤層中。記錄到的主要是鈾礦體及其原生暈和次生暈中的氡放出的α粒子。這些氡通過擴散、對流、抽吸，以及地下水滲濾等復雜作用趨於地表並進入探杯，就在探測器上留下了氡及其各代子核素發射的α粒子所形成的潛跡。此外，探杯所接觸的土壤層中的鈾，以及釷系和錒鈾系的α輻射體產生的α粒子也可被探測器接收。
記錄α粒子潛跡常用的探測器材料是醋酸纖維和硝酸纖維薄膜，與之適應的蝕刻劑主要是氫氧化鈉和氫氧化鉀溶液。
12.2.2.2 α徑跡測量工作方法、資料及圖示
α徑跡測量的工作程序是：①將探測器置於塑料杯底部，再按一定的網格，倒置在測點處30～40cm深的小坑中，上蓋土封閉（圖11-10）；②約20天後取出杯中的探測器進行蝕刻；③用光學顯微鏡辨認和計算徑跡的密度（單位為j／mm2）。
圖12-10 累積法野外埋片示意圖
當取得測區內大量徑跡數據後，可利用統計方法確定該地區的徑跡底數（正常場），據此劃分正常場、偏高場、高場和異常場。徑跡密度大於底數加均方差者為偏高場；加二倍均方差者為高場；加三倍均方差者為異常場。
α徑跡測量的成果圖件主要有：α徑跡密度剖面圖、剖面平面圖和等值線平面圖等。
12.2.2.3 α徑跡測量的應用及實例
α徑跡測量和射氣測量一樣，記錄的都是氡放出的α粒子，它們的差別僅在於前者採用長時間累積測氡方式，而後者採用瞬時測氡方式。因此，α徑跡測量與射氣測量的應用范圍一致，但其探測深度要大得多。這是因為，長期累積測量方式可使得深達200 m的鈾礦體中所含的氡都擴散到探測器薄膜上，並達到一定的濃度，從而大大提高了靈敏度，均化了外來干擾影響，增加了探測深度，提高了地質效果。
某地印支期花崗岩區的岩體主要由中粗粒斑狀黑雲母花崗岩組成。鈾礦化產於構造蝕變帶內，且與赤鐵礦化、綠泥石化密切相關。該區浮土較厚且覆蓋廣泛，γ測量效果很差。射氣測量和α徑跡測量都有異常顯示，且後者更為明顯（圖12-11）。位於 F1 上盤的徑跡密度峰值約200 j/mm2 ，寬20 m左右，並與峰值約50×3.7 Bq/L的射氣異常吻合，推測為淺部礦化引起。在F1 出露部位附近出現的徑跡異常峰值約100 j/mm2 ，寬30 m左右，與另一峰值約20×3.7 Bq/L的較弱射氣異常位置有明顯差距。推測射氣異常只是 F1 構造出露部位的反映，而α徑跡異常則是 F1 構造出露部位與深部礦化的綜合反映。經鑽孔揭露，在孔深95 m和180 m處分別見到兩層礦體，其中淺部礦體已達到工業品位。
圖12-11 某地地質物探綜合剖面圖
12.2.3 α卡法
α徑跡測量是最先使用的累積測氡方法，其探測深度大的優點是γ測量和射氣測量無法比擬的。但是，它最大的缺點是工作周期較長，干擾因素較多。α卡法是一種更先進的「短期」累積測氡方法。它是將α卡短期埋置後取出，測量卡上吸附的氡的子核素產生的α粒子，從而解決有關地質問題。如果將α卡做成杯狀，利用這種α杯收集氡的子核素，就稱為α杯法。α杯法測氡的靈敏度更高。
12.2.3.1 α卡工作原理
α卡是一種固體材料，固體表面的分子或原子未被其他相似分子或原子包圍時，會存在未飽和價鍵力（稱為范德華力），所以任何固體表面都有從周圍氣體中吸附分子、原子或離子的能力。這樣，將固體卡片（或塑料杯）埋在地下，其表面就會吸附氡的子核素，形成放射性薄層。同時，氡的子核素多是帶正電的，很容易附著在空氣中的塵埃上，形成放射性氣溶膠。α卡自身帶負電，在電場力作用下，正離子會迅速聚集在α卡上，形成放射性薄層。
雖然氡也能被固體物質吸附，但α卡對氡的吸附能力較小。因此，可認為氡不會附著在α卡上。
實際工作中使用的α卡可用鍍鋁聚酯薄膜、銅片、鋁片、橡皮或塑料製成。還有一種α卡由過氯乙烯細纖維製成，在製作過程中使其自身帶有數百伏的靜電（負）電壓，因而稱為靜電α卡。靜電α卡有較高的靈敏度，有利於發現微弱的異常。
12.2.3.2 α卡測量方法
α卡法與α徑跡測量野外工作方法是類似的，埋卡方法見圖12-10。α杯法只需埋置杯子，工作更為簡便。
α卡法探測對象是氡的子核素218Po、214Po和212Po等α輻射體。218Po系222Rn直接衰變而來，半衰期為3.05min，經十倍半衰期，即30min左右，218Po積累的原子核數達最大。生成的核若得不到補充，再經30min就衰變完畢。214Po是218Po經多次衰變而來，衰變系列中214Pb的半衰期（26.8min）最長，故需10倍214Pb的半衰期，即4.5h，系列才能達到平衡。若218Po得不到補充，整個系列經4.5h時消失。212Po是220Rn的子核素212Pb經兩次衰變而成，衰變系列中212Pb半衰期（10.6h）最長，故此系列需4.4d才能達到平衡。因此埋卡時間和測量時間不同，將得到不同的信息。埋0.5h後立即測量，探測的主要是218Po；埋卡4～5 h立即測量，得到的是218Po、214Po和212Po的貢獻。若放置0.5 h後再測量，得到的是214Po和212Po的貢獻。放置4 h後再測量，探測的則主要是212Po了。
根據上述分析，設取卡後立即測量取得的計數率為I1，其中222Rn的子核素（218Po、214Po等）引起的計數率為IRn，220Rn的子核素（212Po等）引起的計數率為ITh，4 h後第二次α測量獲得的計數率為I2。則有
勘查技術工程學
由於放射性系列平衡時，子核數量的變化應遵從半衰期最長的子核素衰變的規律，因此（12.2-7）式中的衰變常數λ應是212 Pb的衰變常數，λ=0.065/h。由於 t=4 h，≈1，故有ITh≈I2。代入（12.2-7）式，還可得到
勘查技術工程學
由（12.1-7）式和（12.1-8）式，有
勘查技術工程學
以上IRn+ITh、ITh、IRn、IRn／ITh四組數據在資料解釋中是有實用價值的。
野外工作中，靜電α卡埋置時間以4～6 h為宜，其他α卡埋置時間可大於12 h。同一地區埋卡時間應相同，取卡後應立即進行α測量。因為218Po、214Po等半衰期短，不盡快測量，它們會很快衰變掉。
由於α卡要有一定的總計數，因此當α卡上收集到的氡的子核素太少時，應適當延長測量時間，以保證數據的精度要求。找鈾礦時，異常幅度大，α卡的靈敏度可以低些，觀測時間可稍短。解決非鈾礦地質問題時，由於異常幅度小，應採用靈敏度高的方法工作，否則測量α卡的時間將予延長。找鈾礦時，220Rn（釷射氣）的子核素產生的α射線常視為干擾因素，但在處理非鈾礦地質問題時，220Rn的子核素和222Rn的子核素的α射線同樣有價值，因此220Rn的子核素的信息不能廢棄。
應當指出，氡的運移受多種因素的影響，規律比較復雜，使得測量結果重現性差。實踐表明，盡管重復觀測中數值會有改變，但異常的形狀、曲線的趨勢都是相似的。有時，重復測量中異常也會消失，說明該測點處氡的濃度變化很大，測點附近可能有構造存在。
條件允許時，在埋置α卡的坑中可同時進行孔中γ測量；還可將坑中的土樣取回進行鐳量測量。多種放射性測量資料的配合，有利於對α卡法異常做出正確的解釋。
根據α卡法測量所得的數據，可以繪制α卡測量剖面圖、剖面平面圖和等值線平面圖等。
12.2.3.3 α卡法的應用
α卡法比射氣測量靈敏度高，探測深度大，又比α徑跡測量生產周期短，因而在尋找鈾、釷礦床及與放射性核素有伴生或共生關系的礦床，勘查地下水、圈定構造破碎帶、劃分岩層接觸界線等方面都有廣泛的應用。
12.2.4 釙-210法
釙-210法是測量岩樣或土樣中放射性核素210Po放出的α粒子的一種α測量方法。
12.2.4.1 釙-210法工作原理
在鈾系中，氡（222Rn）之後有一個半衰期為22.3a的放射性核素210Pb。由於氡在遷移過程中不斷發生衰變，逐漸積累210Pb，長時間後就形成了一個與氡基本處於平衡的210Pb分散暈，這一210Pb暈就代表了該處長時間內氡濃度的平均值。210Pb暈的特點是，即使在近地表，210Pb在土壤中的濃度也不受氣候變化的影響。氡的數值則受氣候、溫度、季節的影響而變動。因此，測量土樣中210Pb的量可以更准確地反映取樣點的氡濃度。
但210Pb是一個弱的β輻射體，而其後210Bi（半衰期為5d）的子核素210Po有較強的α輻射，半衰期長達138.4d，且它是所有放射性核素中最易形成膠體的核素。賦存在土壤中的210Po常以膠體狀態沉澱或被吸附在土壤顆粒上或孔隙壁上不易流失，在土壤中形成穩定分布。因此測定210Po即可了解土壤中210Pb的情況，並間接推測母核素222Rn的分布規律。
210Po的化學性質與碲類元素相似，部分也與鉍相似。金屬釙及其氧化物易溶於濃鹽酸和濃硝酸中，生成PoCl和Po（NO3）4溶液。用電化學方法可以從這些液中將210Po置換沉積在某種電極上。根據標准電極電位低的金屬離子能置換標准電極電位高的金屬離子的性質，可選擇置換210Po的金屬。210Po的標准電極電位為0.66V，與它能發生置換反應的金屬有銅（0.34V）、鉍（0.23V）、銀（0.22V）、鎳（-0.25V）等。例如，銅置換210Po的電化學反應為
勘查技術工程學
能夠置換210Po的金屬可作為收集210Po的探測器。
由於電化學性質不同，鈾、釷、鉛、鉍等元素都不能像釙那樣被置換沉積在銅片上。釙的其他6個同位素都是短壽的（半衰期＜3min），只有210Po是長壽的。因此，這種置換方法一般都能有效地排除其他天然放射性同位素對210Po測量的干擾（僅Ra有時會成為干擾）。
12.2.4.2 釙-210測量方法
釙-210測量分為野外和室內兩部分。
野外工作中，首先要根據工作任務、地質和地球物理特徵，選擇地質條件有利，蓋層較厚和露頭不發育地區作為測區，按一定的工作比例尺布置測網。然後逐個測點挖取重約50 g的土壤樣品。取樣時要撥開地表腐殖層，取離地表數十厘米深處的土壤，同一地區取樣深度應一致。
室內工作包括樣品的化學處理和測定探測器的α射線計數率。簡要步驟如下。
1）將土壤乾燥、碾碎，過40目篩，稱取20 g備用。
2）取5 g細粒土樣，連同0.5 g抗壞血酸和預先准備好的帶浮圈的銅片，一起放入100 mL的燒杯內，加入含有2%～3%檸檬酸的2mol／L的HCl溶液20 mL。
3）在水平振動的搖床上振盪3～4 h，從燒杯中取出銅片，用清水洗凈，再用濾紙將銅片吸干，即製成樣片。
4）將樣片放置30min後，即可用α輻射儀進行測量，每個樣片的讀數時間不應少於10min。
5）若樣片放置時間超過數天，則按下式修正讀數
勘查技術工程學
式中：I為修正後的計數率；I1為實測計數率；λ為210Po的衰變常數，λ=5×10-3／d，t為樣片放置的天數。
6）每天工作前後要檢查儀器本底，還要用α工作源檢查α輻射儀的日常工作穩定性，以確保測量數據可靠。
釙-210法的資料整理與其他核測量方法相同。成果圖件有：釙量剖面圖、剖面平面圖、等值線平面圖、相對等值線平面圖等。
12.2.4.3 釙-210法的應用及實例
釙-210法只在野外取樣，分析工作全在室內進行，設備簡單，工作效率高，探測深度大，不受鈾、釷干擾，異常重現性好。因此，除用於尋找鈾、釷礦床外，還在地下水、地熱及油氣田普查中取得了良好的地質效果。
圖12-12為在某軍干休所測得的210Po曲線。該地段出露第四系更新統（Qp）的冰水堆積，曲線的低值異常寬約20 m，長約50 m。經綜合分析認為，它與下部自流井組中的構造破碎帶有關。鑽探發現，含水層位為自流井組馬鞍山段中的砂岩，地下水流量為76t／d。
圖12-12 1號供水井210Po測量剖面圖
4. 鋼筋斷後標距怎麼測量
鋼筋的伸長率我們一般只檢測標距伸長率，鋼筋的標距為5倍的鋼筋直徑，現在我們國產的鋼筋直徑都為五的倍數，較為簡單的方法是：在鋼筋樣品上用標距打點機在除了夾頭的全長范圍內每間隔1cm打點一個，待拉斷後根據鋼筋的拉前標距點數找出范圍，用游標卡尺量測距離（精確到0.25mm），斷後標距減去斷前標距長度除以斷前標距就是伸長率。
5. 全站儀後方交會法詳細步驟和高程測量的詳細步驟有嗎
1、角度測量（angle observation）
（1）功能：可進行水平角、豎直角的測量。
（2）方法：與經緯儀相同，若要測出水平角∠ AOB ，則：
1）當精度要求不高時：
瞄準 A 點——置零（ 0 SET ）——瞄準 B 點，記下水平度盤 HR 的大小。
2）當精度要求高時： —— 可用測回法（ method of observation set ）。
操作步驟同用經緯儀操作一樣，只是配置度盤時，按「置盤」（ H SET ）。
2、距離測量（ distance measurement ）
PSM 、PPM 的設置 —— 測距、測坐標、放樣前。
1）棱鏡常數（PSM ）的設置。
一般： PRISM=0 （原配棱鏡），-30mm （國產棱鏡）
2）大氣改正數（ PPM ）（乘常數）的設置。
輸入測量時的氣溫（ TEMP ）、氣壓（ PRESS ），或經計算後，輸入 PPM 的值。
（1）功能：可測量平距 HD 、高差 VD 和斜距 SD （全站儀鏡點至棱鏡鏡點間高差及斜距）
（2）方法：照準棱鏡點，按「測量」（ MEAS ）。
3、坐標測量（ coordinate measurement ）
（1）功能：可測量目標點的三維坐標（ X ， Y ， H ）。
（2）測量原理 任意架儀器，先設置儀器高為0，棱鏡高是多少就是多少，棱鏡拿去直接放在已知點上測高差，測得的高差為棱鏡頭到儀器視線的高差，當然，有正有負了，然後拿出計算器用已知點加上棱鏡高，再加上或減去（因為有正有負）測得的高差就是儀器的視線高啊，因為儀器高為0，所以這個數字就是你的測站點高程，進測站點把它改成這個數字就行了，改完測站點了一般情況下都要打一下已知點復核一下。。。
若輸入：方位角 ，測站坐標（ ， ）；測得：水平角 和平距 。則有：
方位角：
坐標：
若輸入：測站 S 高程 ，測得：儀器高 i ，棱鏡高 v ，平距 ，豎直角 ，則有：
高程：
（3）方法：
輸入測站 S （ X ， Y ，H ），儀器高 i ，棱鏡高 v ——瞄準後視點 B ，將水平度盤讀數設置為 ——瞄準目標棱鏡點 T ，按「測量」，即可顯示點 T 的三維坐標。
4、點位放樣 (Layout)
（1）功能：根據設計的待放樣點 P 的坐標，在實地標出 P 點的平面位置及填挖高度。
（2）放樣原理
1）在大致位置立棱鏡，測出當前位置的坐標。
2）將當前坐標與待放樣點的坐標相比較，得距離差值 dD 和角度差 dHR 或縱向差值Δ X 和橫向差值Δ Y 。
3）根據顯示的 dD 、dHR 或ΔX 、ΔY ，逐漸找到放樣點的位置。
5、程序測量（ programs ）
（1）數據採集 (data collecting)
（2）坐標放樣 (layout)
（3）對邊測量(MLM)、懸高測量(REM)、面積測量(AREA)、後方交會(RESECTION) 等。
（4）數據存儲管理。包括數據的傳輸、數據文件的操作（改名、刪除、查閱）。
§ 7.2 TOPCON GTS-312 全站儀使用簡介
一、儀器面板外觀和功能說明
面板上按鍵功能如下：
——進入坐標測量模式鍵。
◢ ——進入距離測量模式鍵。
ANG ——進入角度測量模式鍵。
MENU ——進入主菜單測量模式鍵。
ESC ——用於中斷正在進行的操作，退回到上一級菜單。
POWER ——電源開關鍵
◢ ◣ ——游標左右移動鍵
▲ ▼ ——游標上下移動、翻屏鍵
F1 、 F2 、 F3 、 F4 ——軟功能鍵，其功能分別對應顯示屏上相應位置顯示的命令。
顯示屏上顯示符號的含義：
V ——豎盤讀數；HR ——水平讀盤讀數（右向計數）；HL ——水平讀盤讀數（左向計數）；
HD ——水平距離； VD ——儀器望遠鏡至棱鏡間高差； SD ——斜距； * ——正在測距；
N ——北坐標，x ； E ——東坐標，y ； Z ——天頂方向坐標，高程H 。
二、全站儀幾種測量模式介紹
1、角度測量模式
功能：按 ANG 進入，可進行水平角、豎直角測量，傾斜改正開關設置。
第 1 頁
F1 OSET ：設置水平讀數為：0°00ˊ00"。
F2 HOLD ：鎖定水平讀數。
F3 HSET ：設置任意大小的水平讀數。
F4 P1↓： 進入第 2 頁。
第 2 頁
F1 TILT ：設置傾斜改正開關。
F2 REP ： 復測法。
F3 V% ： 豎直角用百分數顯示。
F4 P2↓： 進入第 3 頁。
第 3 頁
F1 H-BZ ：儀器每轉動水平角 90°時，是否要蜂鳴聲。
F2 R/L ：右向水平讀數 HR/ 左向水平讀數 HL 切換，一般用 HR 。
F3 CMPS ：天頂距 V/ 豎直角 CMPS 的切換，一般取 V 。
F4 P3↓：進入第 1 頁。
2、距離測量模式
功能：按 ◢ 進入，可進行水平角、豎直角、斜距、平距、高差測量及 PSM 、 PPM 、距離單位等設置。
第 1 頁
F1 MEAS ：進行測量。
F2 MODE ：設置測量模式， Fine/coarse/tragcking（精測/粗測/跟蹤）。
F3 S/A ： 設置棱鏡常數改正值（ PSM ）、大氣改正值（ PPM ）。
F4 P1 ↓：進入第 2 頁。
第 2 頁
F1 OFSET ：偏心測量方式。
F2 SO ：距離放樣測量方式。
F3 m/f/i ：距離單位米 / 英尺 / 英寸的切換。
F4 P2↓： 進入第 1 頁。
3、坐標測量模式
功能：按 進入，可進行坐標（ N ， E ， H ）、水平角、豎直角、斜距測量及 PSM 、 PPM 、距離單位等設置。
第 1 頁
F1 MEAS ：進行測量。
F2 MODE ：設置測量模式， Fine/Coarse/Tracking 。
F3 S/A ：設置棱鏡改正值（ PSM ），大氣改正值（ PPM ）常數。
F4 P1↓：進入第 2 頁。
第 2 頁
F1 R.HT ：輸入棱鏡高。
F2 INS.HT ：輸入儀器高。
F3 OCC ：輸入測站坐標。
F4 P2↓：進入第 3 頁。
第 3 頁
F1 OFSET ：偏心測量方式。
F2 ———
F3 m/f/i: 距離單位米 / 英尺 / 英寸切換。
F4 P3↓：進入第 1 頁。
4、主菜單模式
功能：按 MENU 進入，可進行數據採集、坐標放樣、程序執行、內存管理（數據文件編輯、傳輸及查詢）、參數設置等。
三、全站儀功能簡介
測量前，要進行如下設置——按 ◢ 或 ，進入距離測量或坐標測量模式，再按第 1 頁的 S/A （ F3 ）。
1、棱鏡常數 PRISM 的設置——進口棱鏡多為 0 ，國產棱鏡多為-30mm。（具體見說明書）
2、大氣改正值 PPM 的設置——按「 T-P 」，分別在「 TEMP. 」和「 PRES. 」 欄，輸入測量時的氣溫、氣壓。（或者按照說明書中的公式計算出 PPM 值後，按「 PPM 」直接輸入）。
說明： PRISM 、 PPM 設置後，在沒有新設置前，儀器將保存現有設置。
（一）角度測量
按 ANG 鍵，進入測角模式（開機後默認的模式），其水平角、豎直角的測量方法與經緯儀操作方法基本相同。照準目標後，記錄下儀器顯示的水平度盤讀數 HR 和豎直度盤讀數 V 。
（二）距離測量
先按 ◢ 鍵，進入測距模式，瞄準棱鏡後，按 F1 （ MEAS ），記錄下儀器測站點至棱鏡點間的平距 HD 、鏡頭與鏡頭間的斜距 SD 和鏡頭與鏡頭間的高差 VD 。
（三）坐標測量
1、按 ANG 鍵，進入測角模式，瞄準後視點 A 。
2、按 HSET ，輸入測站 O 至後視點 A 的坐標方位角 。
如：輸入 65.4839 ，即輸入了 。
3、按 鍵， 進入坐標測量模式。按 P↓， 進入第 2 頁。
4、按 OCC ，分別在 N 、 E 、 Z 輸入測站坐標（ X0 ,Y0 ,H0 ）。
5、按 P↓，進入第 2 頁，在 INS.HT 欄，輸入儀器高。
6、按 P↓，進入第 2 頁，在 R.HT 欄，輸入 B 點處的棱鏡高。
7、瞄準待測量點 B ，按 MEAS ，得 B 點的（ XB ,YB ,HB ）。
（四）零星點的坐標放樣（不使用文件）
1、按 MENU ，進入主菜單測量模式。
2、按 LAYOUT ，進入放樣程序，再按 SKP ，略過使用文件。
3、按 OOC.PT （ F1 ），再按 NEZ ，輸入測站 O 點的坐標（ X0 ,Y0 ,H0 ）；並在 INS.HT 一欄，輸入儀器高。
4、按 BACKSIGHT （ F2 ），再按 NE/AZ ，輸入後視點 A 的坐標（ xA , yA ）；若不知 A 點坐標而已知坐標方位角 ，則可再按 AZ ，在 HR 項輸入 的值。瞄準 A 點，按 YES 。
5、按 LAYOUT （ F3 ），再按 NEZ ，輸入待放樣點 B 的坐標（ xB , yB,HB ）及測桿單棱鏡的鏡高後，按 ANGLE（ F1 ）。使用水平制動和水平微動螺旋，使顯示的 dHR=0°00ˊ00"，即找到了 OB 方向，指揮持測桿單棱鏡者移動位置，使棱鏡位於 OB 方向上。
6、按 DIST ，進行測量，根據顯示的 dHD 來指揮持棱鏡者沿 OB 方向移動，若 dHD 為正，則向 O 點方向移動；反之若 dHD 為負，則向遠處移動，直至 dHD=0 時，立棱鏡點即為 B 點的平面位置。
7、其所顯示的 dZ 值即為立棱鏡點處的填挖高度，正為挖，負為填。
8、按 NEXT ——反復 5 、6 兩步，放樣下一個點 C 。後方交會法通常用在高精度測量設站中，因其具備足夠檢核條件而被廣泛應用。
這種方法對儀器本身精度要求、穩定性非常高。
6. 用全站儀進行後方交繪的測量步驟是什麼
不同型號的全站儀，其具體操作方法會有較大的差異。下面簡要介紹全站儀的基本操作與使用方法。
1.全站儀的基本操作與使用方法
1）水平角測量
（1）按角度測量鍵，使全站儀處於角度測量模式，照準第一個目標A。
（2）設置A方向的水平度盤讀數為0°00′00″。
（3）照準第二個目標B，此時顯示的水平度盤讀數即為兩方向間的水平夾角。
2）距離測量
（1）設置棱鏡常數
測距前須將棱鏡常數輸入儀器中，儀器會自動對所測距離進行改正。
（2）設置大氣改正值或氣溫、氣壓值
光在大氣中的傳播速度會隨大氣的溫度和氣壓而變化，15℃和760mmHg是儀器設置的一個標准值，此時的大氣改正為0ppm。實測時，可輸入溫度和氣壓值，全站儀會自動計算大氣改正值（也可直接輸入大氣改正值），並對測距結果進行改正。
（3）量儀器高、棱鏡高並輸入全站儀。
（4）距離測量
照準目標棱鏡中心，按測距鍵，距離測量開始，測距完成時顯示斜距、平距、高差。
全站儀的測距模式有精測模式、跟蹤模式、粗測模式三種。精測模式是最常用的測距模式，測量時間約2.5S，最小顯示單位1mm；跟蹤模式，常用於跟蹤移動目標或放樣時連續測距，最小顯示一般為1cm，每次測距時間約0.3S；粗測模式，測量時間約0.7S，最小顯示單位1cm或1mm。在距離測量或坐標測量時，可按測距模式（MODE）鍵選擇不同的測距模式。應注意，有些型號的全站儀在距離測量時不能設定儀器高和棱鏡高，顯示的高差值是全站儀橫軸中心與棱鏡中心的高差。
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3）坐標測量
（1）設定測站點度盤讀數為其方位角。當設定後視點的坐標時，全站儀會自動計算後視方向的方位角，並設定後視方向的水平度盤讀數為其方位角。
（3）設置棱鏡常數。
（4）設置大氣改正值或氣溫、氣壓值。
（5）量儀器高、棱鏡高並輸入全站儀。
（6）照準目標棱鏡，按坐標測量鍵，全站儀開始測距並計算顯示測點的三維坐標。
7. 特殊測量方法：（1）累積法：把尺寸很小的物體______起來，聚成可以用刻度尺來測量的數量後，再測量出它
| （1）累積法：把尺寸很小的物體累積起來，聚成可以用刻度尺來測量的數量後，再測量出它的總長度，然後除以這些小物 體的個數，就可以得出小物體的長度．如測量細銅絲的直徑，測量一頁紙的厚度． （2）替代法：有些物體長度不方便用刻度尺直接測量的，就可用其他物體代替測量． 如（a）怎樣用短刻度尺測量教學樓的高度，請說出兩種方法？ 方法一：先用細線（或細繩）測量大樓的高度，然後再測量細線（或細繩）的長度． 方法二：由於大樓不能分割或攀登，可以藉助於一長度可測的木桿或人自身的高度，根據 物體與影長構造出兩個相似三角形，然後利用相似三角形的性質求得大樓的高度． （b）怎樣測量學校到你家的距離？ 可以先測量你一步的步距長度，比如每個步距是L；然後數出從你家走都學校的步次數n，就可以得出你家到學 校的距離：s=nL． （c）怎樣測地圖上一曲線的長度？ 先用一條細棉線按照曲線走向對齊，再將棉線拉直，用刻度尺測出棉線的長度，最後根據地圖上的比例尺計算 出曲線的實際長度即可． 故答案為：（1）故答案為：累積；總長度；除以；個數． （2）（a）方法一：先用細線（或細繩）測量大樓的高度，然後再測量細線（或細繩）的長度． 方法二：由於大樓不能分割或攀登，可以藉助於一長度可測的木桿或人自身的高度，根據 物體與影長構造出兩個相似三角形，然後利用相似三角形的性質求得大樓的高度． （b） 可以先測量你一步的步距長度，比如每個步距是L；然後數出從你家走都學校的步次數n，就 可以得出你家到學校的距離：s=nL． （c） 先用一條細棉線按照曲線走向對齊，再將棉線拉直，用刻度尺測出棉線的長度，最後根據地圖 上的比例尺計算出曲線的實際長度即可． |
8. 經緯儀使用方法：請問後後前前那種測量角的方法，請說出詳細的操作步驟，和弊端。
首先整平對中儀器，前後站棱鏡或腳架整平對中
首先正鏡（盤左）精確對准後視棱鏡，水平角置零，並記錄，在倒鏡（盤右）精確對准後視棱鏡讀取水平角，並記錄。
轉動儀器正鏡（盤左）對准前視棱鏡 准確對准後記錄水平角，再倒鏡（盤右）精確對准前視棱鏡讀取水平角，並記錄
這種方法儀器測角精度較低，人為引起的誤差無法消除。
9. 利用全站儀後交測量法確定未知點，求具體操作方法與計算公式（最好有過程）稍微詳細點本人初學測量，謝謝
在P點設測站，A、B分別為目標。先測量A，輸入坐標及標高，瞄準後確定，保存後會提示測量另一點坐標，瞄準B，輸入坐標及標高，瞄準確定，當即顯示輸入儀高，輸入後確定就出現P點坐標了。後方交會最好多用幾個點來測，光兩點不是很准確，建議至少三點以上。希望對你有幫助！