微觀測量方法

1. 測量微觀距離的方法

400萬+工程師在用
從微觀到宏觀來說說距離測量中的知識點

2. 求：QJ2507-93碳素材料微觀結構參數測定方法

石墨化度的測量與計算方法-Graphite
一 實驗原理
理想石墨的晶體結構為密排六方,點陣常數a=0.2461nm,c=0.6708nm,即使是天然石墨,其晶體結構中也存在很多缺陷,點陣常數與理想石墨的相比也有差別。
所謂石墨化度,即碳原子形成密排六方石墨晶體結構的程度,其晶格尺寸愈接近理想石墨的點陣參數,石墨化度就愈高。
碳晶體的點陣參數可直接用來表徵其石墨化度。富蘭克林推導出人造石墨材料的晶格常數與石墨化度的關系式
g=[(0.3440-c0/2)/0.0086]×100%
其中:g為石墨化度,%;c0為六方晶系石墨c軸的點陣常數,nm。
當c0=0.6708nm時,g=100%;當c0=0.6880nm時,g=0%。
標准QJ2507-93規范了XRD測定炭素材料結構參數的方法.將由其測得的碳(002),(004)
面間距d002和d004值代入上式,可計算試樣的化度g。

二 實驗方法
1.樣品制備
將待測樣品粉末與少量標准Si粉末(一般取質量分數5%左右,如果石墨化程度高,則應多加一些硅粉,以使二者的衍射峰強度相差不多)充分混合,製作混合樣品,以Si峰作為儀器誤差的校準物。

2.測量
對於結晶較好的樣品,建議選擇石墨的(004)衍射峰和隨後出現的Si峰,測量范圍可選擇51-57;如果樣品結晶狀態不好,應當選擇石墨的(002)衍射峰和隨後的Si衍射峰,測量范圍為22-30(如果不做混合樣品,也可以預先測定標准Si的衍射角度)。
如：實驗參數：
22.0/30.0/0.02/1(sec), Cu(40kV,200mA)
發散1/2°,接收0.15°,防散射1/2°。

3.作Kα2去除
對於結晶狀態良好,石墨衍射峰可作Kα2分離的情況,可在數據預處理時對其去除,也可不去除,兩種情況所用衍射波長應當不同,程序根據選擇項自動處理波長的數值。實驗表明,Jade的峰形擬合命令會自動扣除Kα2,因此,擬合前不必作Kα2扣除和數據平滑,也不需要扣除背景。

4.數據預處理
衍射峰測量後,打開Jade,對所測衍射峰位作擬合,保存擬合數據備用。對於衍射峰很寬的情況,主要由於樣品中存在多種C軸長度的石墨晶體,因此可作多峰分離,每個分離的峰位數據都參與石墨化度的計算,最後取其平均值。

5.實例
不進行分峰的實例：

當峰形明顯漫散時，可將石墨峰進行多峰分離：

上面的兩個實例實際上是對同一數據進行兩種不同的處理，發現，計算結果稍有不同，石墨化度相差1%，結果相差很小。這是因為這個樣品的石墨化度很高，如果樣品的石墨化度很低時，必須做多峰分離，否則，計算結果會出現很大的誤差。

3. 在絕對貧困的測量方法中屬於微觀層次的方法包括

摘要 恩格爾系數法

4. 如何測量微觀層次和宏觀層次的交易費用

自新制度經濟學的創始人科斯1937年發現和創立交易費用理論以來,交易費用的測量就成為一個亟待解決的、事關新制度經濟學解釋力的極為重要的理論與現實問題。正如西蒙所說:「(交易成本)被隨意的用於分析,除了內省和常識外缺乏實證支持,這類做法在文獻中迅速擴散,使人覺得(交易成本分析)只是權宜的做法……除非(外生參數估計和理論檢驗所需的實證研究)得以開展,新制度經濟學及相關方法只能是人們基於信念或虔誠而做出的(選擇)。」①交易費用測量是一件難度很大的工作,貝納姆就說:「為了測定交易的機會成本而所需的機會成本可能很高。」②但是,20世紀70年代以來,在許多新制度經濟學家的努力下,交易費用的測量工作還是取得了一定的進展,進展主要體現在微觀和宏觀兩個層次的交易費用的測量上。

5. 表面粗糙度都有哪些測量方法

比較測量法：將被測表面與標准粗糙度樣板作比較，評定粗糙度等級。粗糙度樣板（又稱粗糙度標准塊），是以不同的加工方法（車、刨、平銑、立銑、磨等）製成的一組金屬塊。

比較法測量簡便，使用於車間現場測量，常用於中等或較粗糙表面的測量。方法是將被測量表面與標有一定數值的粗糙度樣板比較來確定被測表面粗糙度數值的方法。比較時可以採用的方法:Ra>1.6μm時用目測，Ra1.6~Ra0.4μm時用放大鏡，Ra。

比較法

表面經磨、車、鏜、銑、刨等切削加工，電鑄或其他鑄造工藝等加工而具有不同的表面粗糙度。有時可直接從工件中選出樣品經過測量並評定合格後作為樣塊。利用樣塊根據視覺和觸覺評定表面粗糙度的方法雖然簡便，但會受到主觀因素影響，常不能得出正確的表面粗糙度數值。

表面粗糙度測量是將表面粗糙度比較樣塊（簡稱樣塊）根據視覺和觸覺與被測表面比較，判斷被測表面粗糙度相當於那一數值，或測量其反射光強變化來評定表面粗糙度(見激光測長技術)。

以上內容參考：網路-表面粗糙度測量

6. 化學家測相對原子質量 是怎麼測算出來的 只有微觀測量的方法嗎

用質譜儀啊，出現峰值最高的即為相對原子質量

7. 在科學測量中，人們常常把對微觀量的測量轉化為對宏觀量的測量，用油膜法測分子的直徑就是一個典型的例子

8. 微觀韌性測試方法

金屬材料沖擊韌性數字測量儀
本實用新型的目的是提供一種金屬材料沖擊韌性數字測量儀，它是由機架、擺錘、擺錘桿、主軸、數裝置組或，它的特點是，在機架的下方、正對擺錘桿處安裝接近開關感測器及數字運算控制裝置和顯示器，它的主要特徵是採用金屬非接觸式感測器，實現數字顯示沖擊韌性的功能，它以可取消表盤使其結構得到簡化，沖擊韌性用數字顯示，精度高，同時設置了通訊介面，可實現計算機管理和聯網

斷裂韌性測量試驗機
斷裂韌性對應於某一部分鋼板出現裂紋,如果能夠利用該級別材料在規范中規定的吸收能,通過計算得到該材料的斷裂韌性,然後根據產生的裂紋大小以及外界載荷計算出此時的應力強度因子,比較後確定結構是否會發生破壞,就能對此時的船舶的安全性能進行評價。這在現實中具有重要意義。斷裂韌性K_(ⅠC)高速鋼的斷裂韌性主要取決於基體組織的彈性，而基體組織彈性又在很大程度上受馬氏體組織和其含碳量的影響.斷裂過程是沿著能量降低的方向，遵循阻力最小的途徑進行的。裂紋擴展的阻力由裂紋前緣金屬的性能和微觀的斷裂機制來決定。應力狀態、溫度、應變速度及介質對裂紋擴展的阻力有一定影響。它們是通過對性能和斷裂機制的影響來影響裂紋擴展阻力的。本節側重研究性能（組織）的影響。
裂紋前緣金屬的韌性愈好，則裂紋擴展的阻力愈大。韌性是斷裂過程所需能量的參量，而這種能量取決於材料的強度和塑性，它是材料強度和塑性的綜合表現。在保證一定強度的前提下提高塑性，對提高韌性和裂紋擴展的阻力具有重要的影響。

9. 請問微觀的力全部都可以直接測量嗎不用公式推。

直接測量是不可能的，都是用概率統計的思想來推導的，如果在我們已了解的各種微觀力，計算出來與實際表現出來宏觀的情況有差別，則科學家又會定義另一種微觀力來解釋，當它成立了則這種微觀力就出現了並被人們所接受，其實所有的微觀力都是這樣來的

10. 很多基本粒子的質量是怎麼測量的比如質子、中子、電子、中微子等等，它們的質量是怎麼測量的

早期的原子量測定 用 天然 氧元素 的原子量 等於 16 作為標准。1929年，發現天然氧元素是由 16O 17O 18O 三種同位素組成，並且 16O 的不純度很高。1960-61年，國際物理學會和化學學會採納了德國 質譜學家 馬陶赫 的建議，選擇 12C 作為原子量測定的新標准。認為 12C 具有12.000個原子質量單位，原子量為12。
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原子量的早期測定方法，我不知道。但是現代的測定方法主要有以下幾種：
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1） 利用核反應 的能量平衡求取
在一個核反應中，反應前後能量守恆，能量和質量之間有著愛因斯坦關系。如果反應前後的某些粒子的質量或能量已知，那麼就可以根據 守恆原理 求出 某1個 未知粒子的質量。例如 不帶電的中子的質量 通常就是這樣求得的。
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2）利用原子發射光譜中的超精細結構測定
原子可以發射光譜，光譜對於原子 就如同 指紋對於人。每種原子都有自己的特徵光譜。光譜記錄呈現若干個獨立的 峰。用高分辨能力的 光譜儀器觀察這些峰，會發現 所謂的 峰 並非單峰，而是若干個波長很近的 峰疊加在一起而成。這若干個小峰稱為光譜的超精細結構。小峰與小峰之間的波長差 決定於原子的質量。通過對小峰之間的波長差的測量，可以推算出 原子的質量。
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3）利用分子轉動光譜中的同位素位移。
這種方法的原理與 2）很相似，不再具體描述。
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4）質譜法
這是當代最為流行、測量精度最高的原子量測定方法。測量精度可達 10的 -18 克。在這種方法中，利用「質譜儀」(mass spectrometer) 測量微觀粒子的質量。其中的 「質」就是質量的意思。
世界上第一台質譜儀誕生於1919年。目前已經有多種不同類型的質譜儀，例如:單聚焦、雙聚焦、串列、四極、飛行時間、加速器 等類型。
質譜儀的工作原理中，主要是通過對微觀帶電粒子在電磁場中的運動規律的測量來得到微觀粒子的質量。帶電粒子在電場中 受到庫侖力，在磁場中受到洛侖茲力。由於力的作用，微觀粒子會具有加速度，以及與加速度對應的運動軌跡。微觀粒子質量不同時，加速度以及運動軌跡就會不同。通過對微觀粒子運動情況的研究，可以測定微觀粒子的質量。
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碳原子是中性粒子，不帶電，不會在電磁場中受到作用。但是在自然界中存在著大量種類的碳氫化合物，可以通過一定的技術手段讓碳以離子形式被注入到電磁場中。這樣就可以測定碳離子、或者碳氫集團離子等的質量。同時它們的電荷也很容易測定，每個電子的質量也很容易測定。這樣，就可以推出碳原子的質量。
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關於 阿伏加德羅常數的測定：
主要有：氣體動力學法、密立根油滴實驗法、布朗運動法、布拉格X射線衍射法等。這些方法都涉及很專業的知識。不再詳述。