『壹』 機電設備考試輔導：雜訊測量方法
二、雜訊測量方法
（一）主要參數
引起聽覺的可聽聲頻率在20--20000Hz之間，但在此范圍內的某一聲波可以有不同的聲壓或聲強。在聲學中採用成倍比的對數標度，即用「級」來度量聲壓和聲強，並稱為聲壓級、聲強級。此外，還有聲功率級。
聲波的聲壓級是聲波的聲壓與基準聲壓之比以10為底的對數的20倍。
聲波的聲強級是聲波的聲強與基準聲強之比以10為底的對數的10倍。
聲波的聲功率級是聲波的功率與基準功率之比以10為底的對數的10倍。聲功率根據測量的聲壓級換算得到。
進行雜訊測量時，也可以用人的主觀感覺進行度量，如響度級。響度是人耳對聲音強弱產生的主觀感覺。要確定某聲音的響度，選用頻率為1000Hz的純音作為標准。調節1000Hz純音的聲壓級，使它和所要確定的雜訊聽起來有同樣的響度，則
該雜訊的響度級值就等於這個純音的聲壓級(dB)值，單位為方(Phon)。例如，雜訊聽起來與頻率為1000Hz的聲壓級為80dB的基準純音一樣響，則該雜訊的響度級即為80方。
（二）常用雜訊測量感測器(電容傳聲器、壓電傳聲器)的構成及特點，
傳聲器的作用如同人的耳膜，由它將聲能(聲信號)轉換成電能(電信號)。其轉換過程是：首先由接受器將聲能轉換成機械能，然後由機電轉換器把機械能轉換成。電能。通常用膜片作為接受器來感受聲壓，將聲壓的變化變成膜片的振動。根據膜片感受聲壓情況的不同，傳聲器可分為三類：壓強式傳聲器，其膜片的一面感受聲壓；壓差式傳聲器，梁譽其膜片的兩面均感受聲壓，引起膜片振動的力取決於膜片兩面壓差的大小；壓強和壓租褲差組合式傳聲器。在雜訊測量中常用壓強式傳聲器。
電容式傳聲器利用電場耦合方式將膜片的振動轉換成電量。電容傳聲器的基本結構是一個電容器，它主要由感受聲壓的膜片和與其平行的金屬後極板(背板)組成。膜片和後極板在電氣上絕弊渣簡緣，構成一個以空氣為介質的電容器的兩個極。測量時，在兩電極間加直流電壓，即極化電壓。在極化電壓、負載不變的情況下，輸出交變電壓的大小和波形由作用在膜片上的聲壓決定。電容傳聲器屬於能量控制型感測器。電容傳聲器靈敏度高，動態范圍寬；輸出特性穩定，對周圍環境的適應性強，在—50C~-150C的溫度范圍內和0~100％的相對濕度下，性能變化小；電容傳聲器的外形尺寸也比較小。電容式傳聲器常與精密、標准聲級計聯用。
電傳聲器由具有壓電效應的壓電晶體來完成聲電轉換，它通過聲壓使屠體切片兩側產生電量相等的異性電荷，形成電位差。屬於能量轉換型感測器。壓電傳聲器具有結構簡單，成本低，輸出阻抗低，電容量大（可達1000pF)，靈敏度較高等優點。但性能受溫度、濕度影響較大。壓電傳聲器一般與普通聲級計聯用。
（三）聲級計的種類、組成、作用及校準
聲級計是雜訊測量中使用最為廣泛、最簡便的儀器。它不僅能測量聲級，還能與多種輔助儀器配合進行頻譜分析、記錄雜訊的時間特性和測量振動等。
聲級計按其用途分為一般聲級計、脈沖聲級計、積分聲級計和雜訊暴露計(雜訊計量計)等。按其精度分為0型聲級計(實驗室用標准聲級計)、1型聲級計(一般用途的精密聲級計)、2型聲級計(一般用途的聲級計)、3型聲級計(普級型聲級計)。按其體積分為台式聲級計、攜帶型聲級計和袖珍式聲級計。
聲級計由傳聲器、衰減(放大)器、計權網路、均方根值檢波器、指示表頭等組成。被測的聲壓信號通過傳聲器轉換成電壓信號，該電壓信號經衰減器、放大器以及相應的計權網路、外接濾波器，或者輸入外接的記錄儀器，或者經過均方根值檢波器直接推動以分貝標定的指示表頭。計權網路是基於等口向曲線設計出的濾波線路，分為A、B、C、D四種。通過計權網路測得的聲壓級稱為計權聲壓級。對應四種計權網路測得的聲壓級分別稱為A聲級(LA)、B聲級(LB)、C聲級(Lc)，和D聲級(LD)，分別記為dB(A)、dB(B)、dB(C)和dB(D)。A、B、C計權網路分別近似模擬了40方、70方、100方三條等響曲線，三種計權網路對低頻雜訊有不同程度的衰減，A衰減，B次之，C最弱。其中，A計權網路除對低頻雜訊衰減外，對高頻雜訊反應最為敏感，這正與入耳對雜訊的感覺相接近。故在對人．耳有害的雜訊測量中，都採用A計權網路。D計權網路是專為飛機雜訊測量設計的。
使用聲級計時，每次測量開始和結束都應該校準，兩次差值不應大於1dB。常用的校準方法除活塞發生器校準法外還有揚聲器校準法、互易校準法、靜電激勵校準法、置換單等。
（四）振動及雜訊的測量方法
一般情況下，採用振動分析法進行故障診斷總是先以振動總值法來判別異常振動。這是一種最直接的方法，把感測器放在設備應測量的部位，測量其振動速度。將測得振動速度的均方根值以表格或圖樣表示其趨向，對照「異常振動判斷基準」，判別實際測量值是否超過界限或極限規定值，以評價設備工作狀態的正常與否。
採用測振儀進行振動總值的檢測，當發現振動總值有較快增大，並有接近或超出允許界限值的趨向時，需要進一步採用頻譜分析法進行診斷。採用頻譜分析儀對實測振動信號進行頻譜分析，做出頻譜圖，與其正常譜圖(或稱原始譜)進行比較，尋找振源，診斷出故障部位和嚴重程度。還可由頻譜圖上出現新的譜線，查出設備是否發生了新的故障。
對滾動軸承的磨損和損傷進行診斷可採用專門的振動脈沖測量法。
設備中運動著的零部件都可能產生振動，發出聲波。這些不同聲強、不同頻率的聲波無規律的混合便形成雜訊。雜訊是設備的固有信息，當描述、其特性的特徵參數發生變化，並越過一定的范圍，便可判斷可能發生了故障。因此，可以根據雜訊信號的特徵量制定一定限值作為有無故障的標准，來判斷是否發生了故障。但要識別故障的性質，確定故障的部位及故障程度，就需對提取的雜訊信號做頻譜分析。
利用雜訊(或振動)信號特徵參數的變異及其程度進行故障判斷有三種標准，即絕對標准、相對標准和類比標准。在絕對標准中，利用測取的雜訊信號的特徵量值與標准特徵量值進行比較；在相對標准中，利用測取的雜訊信號的特徵量值與正常運行時的特徵量值進行比較；在類比標准中，利用同類設備在相同工況條件下的雜訊信號的特徵量值進行比較。
（五）常用測溫儀器、儀表的組成、特點及應用
熱電偶是基於熱電效應進行溫度測量的，由兩根不同材料的導體焊接而成。它的熱電動勢與熱電偶材料兩端溫度T、To有關，與熱電極長度、直徑無關。在冷端、溫度T不變，熱電偶材料已定的情況下，其熱電動勢只是被測溫度的函數。熱電偶與後續儀表配套可以直接測量出O-1800~C范圍內液體、氣體內部以及固體表面的溫度。具有精度高，測量范圍寬，便於遠距離和多點測量等優點。
常用熱電偶分為標准化熱電偶和非標准化熱電偶兩類。標准化熱電偶製造工藝比較成熟、性能優良且穩定，同一型號熱電偶具有互換性。非標准化熱電偶多用在一些特殊場合。實際使用的熱電偶有普通熱電偶、鎧裝熱電偶和薄膜熱電偶等。鎧裝熱電偶是特殊結構熱電偶，可以做得很細，很長，能夠彎曲。薄膜熱電偶是由兩種金屬薄膜採用真空蒸鍍、化學塗層或電泳等方法連接在一起的一種特殊結構的熱電偶。
在設備的溫度測量中，還經常使用熱電阻溫度計。熱電阻溫度計利用材料電阻率隨溫度而變化的特性進行溫度測量的，與電橋相配合，將溫度按一定函數關系轉換為電量。按敏感材料的不同有金屬熱電阻溫度計和半導體熱電阻溫度計兩種。
常用的金屬熱電阻有鉑熱電阻、銅熱電阻、鎳熱電阻等。其結構有普通型熱，電阻和鎧裝熱電阻。工業用普通型熱電阻的外型結構與普通型熱電偶的外型結構基本相同。鎧裝熱電阻的主要特點是體積小，響應速度快，耐振抗沖擊，感溫元件、連接導線及保護套管全封閉並連成一體，使用壽命長。
半導體熱電阻材料是將一些氧化物(如錳、鎳、銅和鐵的氧化物)按一定比例混合壓制而成。半導體熱電阻的溫度測量范圍在-100『C-300『C之間。其主要特點是電阻溫度系數大(比金屬熱電阻高10~100倍)，電阻率高，感溫元件可做得很小，可根據需要做成片狀、棒狀和珠狀(珠狀外型尺寸可小到3mm)，可測空隙、腔體、內孔等處的溫度。但其性能不夠穩定，互換性差，使其應用受到一定限制。
紅外測溫儀器是利用紅外輻射原理，採用非接觸方式，對被測物體表面進行觀測，並能記錄其溫度變化的設備。紅外測溫儀器的核心是紅外探測器，它能把入射的紅外輻射能轉變為便於檢測的電能。按對輻射口向應方式的不同，將紅外探測器分為光電探測器和熱敏探測器兩大類。兩種探測器在靈敏度、響應速度、是否需要製冷、使用是否方便等方面各不相同。紅外測溫儀器還必須包括紅外光學系統，用於匯聚被測對象的輻射通量，並將其傳輸到紅外探測器上。紅外光學系統與探測器一起決定該儀器的現場和空間解析度。實際應用中有反射式、折射式和折一反射式等不同類型的光學系統供選用。
除了紅外探測器和光學系統外，紅外測溫儀器還應包括信號處理系統(用以將電信號放大、處理成可記錄的信號)和顯示記錄系統(是最終將被測信號以表針指示、數字顯示或圖像等不同方式記錄、存儲下來的裝置)。
用於紅外測溫的儀器有很多種，比較常用的有紅外測溫儀和紅外熱像儀。紅外測溫儀是紅外測溫儀器中最簡單酌一種，用途廣泛，價格低廉，用於測量物體「點」的溫度，有多種紅外測溫儀供選用，它有了各有其的應用范圍和特點。
紅外熱像儀和紅外熱電視是目前使用的兩類熱成像系統。其中紅外熱像儀(光機掃描熱像儀>由光學與掃描系統、紅外探測器、視頻信號處理系統、顯示器等部分組成。被測對象的紅外輻射經光學系統匯聚、濾波，聚焦到紅外探測器上，其間
由光學一機械掃描系統將被測對象觀測面上各點的紅外輻射通量按時間順序排列，經紅外探測器變成電脈沖，通過視頻信號處理送到顯示器顯示出物體表面或近表面的熱像圖。熱像圖中包含了被測物體的熱狀態信息，因而通過熱像圖的觀察和分析，河以獲得物體表面或近表面層的溫度分布及其所處的熱狀態。這種測溫方法簡便、直觀、精確、有效，且不受測溫對象的限制。
只有光電探測元件製冷到很低的溫度才能降低熱雜訊，屏蔽背景雜訊，提高光電探測器的信噪比和探測率，得到較短的響應時間，因此要對探測器進行超低溫製冷。
三、溫度測量所能發現的故障
通過溫度測量不僅可以檢查工藝過程中的溫度變化，還可以掌握機件的受熱狀況。通過溫度測量所能發現的常見故障可歸納如下：
通過溫度測量可以發現軸承損壞，液壓系統、潤滑系統、冷卻系統和燃油系統等流體系統故障，內燃機、加熱爐等燃燒不正常引起的發熱量異常，污染物質積聚(如管道內有水垢，鍋爐或煙道內結灰渣、積聚腐蝕性污染物等)，保溫材料損壞，電器元件損壞(如電氣元件接觸不良，整流管、晶閘管等器件存在損傷，高壓輸電線的電纜接頭、絕緣子、電容器、變壓器以及輸變電網的電氣元件和設備的損壞)，非金屬部件缺陷，機件內部缺陷。還可進行裂紋探測(檢查裂紋及其發展過程，確定機件在使用中表面或近表面的裂紋及其位置等)。
四、常用的裂紋無損探測方法
常用的裂紋無損探側方法，如目視一光學探測法、滲透探測法、磁粉探測法、射線探測法、超聲波探測法、聲發射探測法、渦流探測法等的優缺點及適用范圍。
1、目視一光學檢測法。在目視法的基礎上，採用各種光學儀器采擴大和延伸其檢測能力，便形成了目視—光學檢測法。這種方法能發現破損、變形、松動、滲漏、磨損、腐蝕、變色、污*、異物以及動作異常等多種故障，簡單易行，常常是精密診斷前預檢的主要方法。還可以對滲透、磁粉或其他無損探測法發現的缺陷進行定性分析。
2、滲透探測法。是利用液體滲透的物理性能，首先使著色滲透液或熒光滲透液滲人機件表面開口的裂紋內，然後清除表面的殘液，用吸附劑吸出裂紋內的滲透液，從而顯示出缺陷圖像的一種檢驗方法。這種方法可以檢驗鋼鐵、有色金屬、塑料等製件表面上的裂紋，以及疏鬆、針孔等缺陷。該檢驗方法不需要大型儀器，操作方便，靈敏度高，適用於無電源、水源現場的檢驗。其缺點是不能檢驗機件的內部缺陷，對機件的表面粗糙度有一定要求，試劑對環境有一定污染。採用熒光滲透液時得需要紫外燈，而且必須在暗室操作。
3、磁粉探測法。這是一種利用鐵磁材料的磁性變化所建立的探測方法。這種探測法所用設備簡單，操作方便，檢測靈敏度較高。所顯示的磁粉痕跡與缺陷的實際形式十分類似，而且適用於各種形狀的鋼鐵機件，這種探測法可以發現鐵磁材料表面和近表面的裂紋，以及氣孔、夾雜等缺陷。其缺點是這種探測法不能探測缺陷的深度。進行磁粉探測後的被檢件具有剩磁，需要進行退磁處理，以便將被檢件的剩磁減少到最低限度。