測量較小工件方法

⑴ 普通車床零件測量五大量具與測量方法是什麼

普通車床用金屬直尺測量工件時，應將金屬直尺拿穩，用拇指貼靠工件。手指位置不對，易使金屬直尺不穩定，造成測量不準確。讀數時，應使視線與金屬直尺垂直，而不應傾斜，否則會影響測量的准確度。
1、金屬直尺
金屬直尺可直接測量工件尺寸。常用的金屬直尺刻有米制尺寸，它的長度規格有150mm、200mm、300mm、500mm等：它的讀數值為0.5mm。
普通車床用金屬直尺測量工件時，應將金屬直尺拿穩，用拇指貼靠工件。手指位置不對，易使金屬直尺不穩定，造成測量不準確。讀數時，應使視線與金屬直尺垂直，而不應傾斜，否則會影響測量的准確度。
普通車床金屬直尺起始端是測量的基準，應保持其輪廓完整，以免影響測量准確度。如果金屬直尺端部已經磨損，應以另一刻度線作為基準。
2、游標卡尺
游標卡尺在工廠中廣泛使用，它可以直接測量出工件的內徑、外徑、長度、深度等。游標卡尺的游標讀數值一般有0.1mm、上量爪用於測量工件的內表面(孔徑或槽寬)，深度尺用於測量工件的深度。測量時移動游標先使其得需要的尺寸，取得尺寸後。擰緊制動螺釘，讀出尺寸，以防測得的尺寸變動。
3、游標卡尺的使用方法
用游標卡尺測量時，應使量爪逐漸與工件表面靠近，最後達到輕微接觸。游標卡尺可以測量工件的外徑、內孔、長度、深度等尺寸，測量外徑的方法，測量長度的方法，測量工件深度的方法，測量工件內孔的方法，但這時必須注意。游標l卡尺讀出的尺寸應加上兩只量爪的厚度，測量兩孔中心距的方法，這時游標卡尺上讀出的尺寸應加上小的兩個半徑。
4、使用普通車床游標卡尺時應注意下列事項
1)使用前應擦凈量爪，並將兩量爪閉合，檢查尺身、游標零線是否重合，若不重台，應在測量後根據零線不重合誤差修正讀數。
2)測量時，不要用量爪用力壓工件，以免量爪變形或磨損，降低測量的精度。
3)游標卡尺僅用於已加工的光滑表面。表面粗糙的工件或正在工中的工件都不宜用游標卡尺測量，以免將量爪過快磨損。
5、千分尺
千分尺是工廠中最常用的精密量具。它的測量分度值一般的為0.01mm。但由於測微螺桿精度受到製造上的限制，因此其移動量通常為25mm，所以常用的千分尺測量范圍分為0～25m;25～50m;50～75m;75～100m等，每隔25mm為一檔規格;測量大於300mm的，每隔100mm為一檔規格;測量大於1000mm的。每隔500rr-m為一檔規格。干分尺的種類很多，有外徑千分尺、內徑千分尺、深度千分尺以及螺紋和公法線長度千分尺等。
(1)千分尺的結構形狀外徑千分尺的結構形狀，在尺架1左端裝有固定砧座2，右端有固定套筒6，固定套筒內有螺距為0.5mm的內螺紋，它與量桿4的外螺紋相配台。在固定套筒外圓柱面上有軸向間距為0.5mm的刻線，它就是主尺。轉動活動套筒7時，量桿便沿著套筒軸向方向移動，兩測量面接觸工件3，超過一定壓力時棘輪8就沿著棘輪爪的斜面滑動，發出嗒嗒響聲，這時可讀出工件尺寸。在活動套筒左端圓周上刻有等分為50格的刻度線，這就是副尺=轉動制動環5，可將量桿固定在某一位置，使量桿不致變位而影響讀數。
(2)千分尺的讀數原理及讀數方法由於固定套筒沿軸向刻度每小格為0.5mm，活動套筒圓周上分為50小格，量桿0.5mm，所以活動套筒每轉一同時必帶動量桿移動0.5mm。因此當活動套筒轉過一小格時(1/50周)，量桿移動的距離為0.5mm×l/50=0.05mm這就是為什麼用千分尺測量尺寸時可以讀到0.01mm的原理。

⑵ 機械領域中行為公差的測量一般使用到什麼儀器

根據測量的項目精度要求確定。精度要求高項目多的用三坐標測試儀，一般常用的有偏擺儀、平台、高度尺、深度尺、游標卡尺、直尺、塞規、芯軸等，根據測試項目確定。

⑶ 測量方法有哪些

1、按是否直接測量被測參數，可分為直接測量和間接測量。

直接測量：直接測量被測參數來獲得被測尺寸。例如用卡尺、比較儀測量。

間接測量：測量與被測尺寸有關的幾何參數，經過計算獲得被測尺寸。

2、按量具量儀的讀數值是否直接表示被測尺寸的數值，可分為絕對測量和相對測量。

絕對測量：讀數值直接表示被測尺寸的大小、如用游標卡尺測量。

相對測量：讀數值只表示被測尺寸相對於標准量的偏差。

3、按被測表面與量具量儀的測量頭是否接觸，分為接觸測量和非接觸測量。

接觸測量：測量頭與被接觸表面接觸，並有機械作用的測量力存在。如用千分尺測量零件。

非接觸測量：測量頭不與被測零件表面相接觸，非接觸測量可避免測量力對測量結果的影響。如利用投影法、光波干涉法測量等。

4、按一次測量參數的多少，分為單項測量和綜合測量。

單項測量；對被測零件的每個參數分別單獨測量。

綜合測量：測量反映零件有關參數的綜合指標。如用工具顯微鏡測量螺紋時，可分別測量出螺紋實際中徑、牙型半形誤差和螺距累積誤差等。

5、按測量在加工過程中所起的作用，分為主動測量和被動測量。

主動測量：工件在加工過程中進行測量，其結果直接用來控制零件的加工過程，從而及時防治廢品的產生。

被動測量：工件加工後進行的測量。此種測量只能判別加工件是否合格，僅限於發現並剔除廢品。

6、按被測零件在測量過程中所處的狀態，分為靜態測量和動態測量。

靜態測量；測量相對靜止。如千分尺測量直徑。

動態測量；測量時被測表面與測量頭模擬工作狀態中作相對運動。

水準測量原理

從驗潮站的高程零點，用水準測量的方法測定設立於驗潮站附近由國家設計里的水準原點的高程，作為全國高程式控制制網的起點。我國水準原點設立在山東青島市。從國家水準原點出發，用一、二、三、四等水準測量測定布設在全國范圍內的各等水準點。

一、二等水準測量稱為精密水準測量，為全國高程式控制制網的骨幹，三、四等水準網遍布全國各地，以上總稱為國家水準點。在國家水準點的基礎的上，為每項工程建設而進行工程水準測量或為地形圖測繪而進行圖根水準測量，同城為普通水準測量。

水準測量的原理是利用水準儀提供的水平視線，在豎立在欲測定高差的兩點上的水準尺上讀數，根據讀數計算高差。

⑷ 測量較小長度的工具(儀器)有哪些

長度測量工具 長度測量工具是指將被測長度與已知長度比較，從而得出測量結果的工具，簡稱測量工具。長度測量工具包括量規、量具和量儀。習慣上常把不能指示量值的測量工具稱為量規；把能指示量值，拿在手中使用的測量工具稱為量具；把能指示量值的座式和上置式等測量工具稱為量儀。
最早在機械製造中使用的是一些機械式測量工具，例如角尺、卡鉗等；16世紀，在火炮製造中已開始使用光滑量規；1772年和1805年，英國的瓦特和莫茲利等，先後製造出利用螺紋副原理測長的瓦特千分尺和校準用測長機；19世紀中葉以後，又出現了類似於現代機械式外徑千分尺和游標卡尺的測量工具；19世紀末期，出現了成套量塊。
繼機械測量工具之後出現的是一批光學測量工具。19世紀末，首先出現立式測長儀；20世紀初，出現測長機；到20年代，已經在機械製造中應用投影儀、工具顯微鏡、光學測微儀等進行測量；1928年出現氣動量儀，它是一種適合在大批量生產中使用的測量工具。
電學測量工具是30年代出現的。最初的是利用電感式長度感測器製成的界限量規和輪廓儀；50年代後期，出現了以數字顯示測量結果的坐標測量機；60年代中期，在機械製造中已應用帶有電子計算機輔助測量的坐標測量機；至70年代初，又出現計算機數字控制的齒輪量儀。至此，測量工具進入應用電子計算機的階段。
測量工具通常按用途分為通用測量工具、專類測量工具和專用測量工具三類；還可按工作原理分為機械、光學、氣動、電動和光電等類型，這種分類方法是由測量工具的發展歷史形成的。現代很多測量工具已經發展成為同時採用精密機械、光、電等原理，並與電子計算機技術相結合的測量工具，因此，這種分類方法僅適用於工作原理單一的測量工具。
通用測量工具是指可以測量多種類型工件的長度或角度的測量工具。這類測量工具的品種規格最多，使用也最廣泛，有量塊、角度量塊、多面棱體、正弦規、卡尺千分尺、百分表、多齒分度台、比較儀、激光干涉儀、工具顯微鏡、三坐標測量機等。
專類測量工具是指用於測量某種幾何參數、形狀和位置誤差等的測量工具。主要有直線度和平面度測量工具，如直尺、平尺、平晶水平儀、自準直儀等；表面粗糙度測量工具，如表面粗糙度樣塊、光切顯微鏡、干涉顯微鏡和表面粗糙度測量儀等；圓度和圓柱度測量工具，如圓度儀、圓柱度測量儀等；齒輪測量工具，常見的有齒輪綜合檢查儀、漸開線測量儀、周節測量儀、導程儀等；螺紋測量工具等。
專用測量工具是指僅適用於測量某特定工件的尺寸、表面粗糙度、形狀和位置誤差等的測量工具。常見的有自動檢驗機、自動分選機、單尺寸和多尺寸檢驗裝置等。
長度測量工具的組成結構主要有已知長度、定位瞄準、放大細分和顯示記錄等部分。量規基本上只有已知長度部分。在一些量具、量儀中，這幾部分也不是截然分開的，有的放大細分和顯示實際上是一個部分，例如百分表類測量工具；有的瞄準、放大細分和顯示等部分是一個部件，例如讀數顯微鏡等。
定位瞄準部分是用於確定被測長度與已知長度的相對位置，使兩者能正確地比較，從而得到准確的量值的機構。有接觸式和不接觸式兩種定位瞄準方法。
放大細分部分是把已知長度中的最小單位長度放大細分，使之能准確地分辨出已知長度與被測長度的微小差值的機構，主要有機械、光學、氣動、電學和光電等類型。
顯示記錄部分是將測量結果顯示、記錄出來的機構。常見的顯示記錄方法有刻度指示、記錄顯示、數字顯示和圖象顯示等。
設計測量工具，應盡可能遵守阿貝原則。它是德國的阿貝在19世紀60年代提出的。他認為，在長度測量中，被測長度應位於線紋尺刻度中心線的延長線上。按此原則設計的測量工具，由導軌直線度誤差引起的測量誤差是二階誤差，一般可以忽略不計，這樣就可以獲得精確的測量結果。
在測量工具設計中也可採用愛賓斯坦平行光學系統，來補償由於導軌誤差引起的測量誤差，或採用電子計算機自動修正由於導軌誤差和被測長度定位不正確等引起的測量誤差。除了阿貝原則外，設計時應考慮的還有測量鏈最短原則、基面統一原則等。
測量工具按檢定規程檢定合格後，方能使用。一般是利用長度標准器檢定，例如用量塊檢定千分尺和卡尺；用標准線紋尺檢定比長儀和測長機等。
利用兩台以上相同精度等級的測量工具相互對比，以確定其精確度。這種方法適用於評定一些精度等級很高的測量工具，例如激光干涉儀、激光干涉比長儀等，因為對於這類高精度的測量工具，沒有合適精度的長度標准器可供檢定之用。