游標卡尺測量屬於哪種測量方法

① 游標卡尺測量深度正確方法

深度游標卡尺是屬於游標卡尺類的一種,是一種用游標讀數的深度量尺，主要用於測量凹槽或孔的深度、梯形工件的梯層高度、長度等。

深度游標卡尺的常見量程
0~100mm、0~150mm、0~300mm、0~500mm常見精度:0.02mm、0.01mm(由游標上分度格數決定)

深度游標卡尺的使用方法
深度游標卡尺用於測量零件的深度尺寸或台階高低和槽的深度。如測量內孔深度時應把基座的端面緊靠在被測孔的端面上，使尺身與被測孔的中心線平行，伸入尺身，則尺身端面至基座端面之間的距離，就是被測零件的深度尺寸。它的讀數方法和游標卡尺完全一樣。
深度游標卡尺：
1-測量基座;2-緊固螺釘;3-尺框;4-尺身;5-游標。

測量時，先把測量基座輕輕壓在工件的基準面上，兩個端面必須接觸工件的基準面。測量軸類等台階時，測量基座的端面一定要壓緊在基準面，再移動尺身，直到尺身的端面接觸到工件的量面(台階面)上，然後用緊固螺釘固定尺框，提起卡尺，讀出深度尺寸。多台階小直徑的內孔深度測量，要注意尺身的端面是否在要測量的台階上 。當基準面是曲線時，測量基座的端面必須放在曲線的最高點上，測量出的深度尺寸才是工件的實際尺寸，否則會出現測量誤差。

使用注意事項
1.測量前，應將被測量表面擦乾凈，以免灰塵、雜質磨損量具。
2.卡尺的測量基座和尺身端面應垂直於被測表面並貼合緊密，不得歪斜，否則會造成測量結果不準。
3.應在足夠的光線下讀數，兩眼的視線與卡尺的刻線表面垂直，以減小讀數誤差。
4.在機床上測量零件時，要等零件完全停穩後進行，否則不但使量具的測量面過早磨損而失去精度，且會造成事故。
5.測量溝槽深度或當其他基準面是曲線時 ，測量基座的端面必須放在曲線的最高點上，測量出的深度尺寸才是工件的實際尺寸，否則會出現測量誤差。
6.用深度游標卡尺測量零件時，不允許過分地施加壓力，所用壓力應使測量基座剛好接觸零件基準表面，尺身剛好接觸測量平面。如果測量壓力過大，不但會使尺身彎曲，或基座磨損，還使測量得的尺寸不準確。
7.為減小測量誤差，適當增加測量次數，並取其平均值。即在零件的同一基準面上的不同方向進行測量。
8.測量溫度要適宜，剛加工完的工件由於溫度較高不能馬上測量，須等工件冷卻至室溫後，否則測量誤差太大。

② 測量方法有哪些

1、按是否直接測量被測參數，可分為直接測量和間接測量。

直接測量：直接測量被測參數來獲得被測尺寸。例如用卡尺、比較儀測量。

間接測量：測量與被測尺寸有關的幾何參數，經過計算獲得被測尺寸。

2、按量具量儀的讀數值是否直接表示被測尺寸的數值，可分為絕對測量和相對測量。

絕對測量：讀數值直接表示被測尺寸的大小、如用游標卡尺測量。

相對測量：讀數值只表示被測尺寸相對於標准量的偏差。

3、按被測表面與量具量儀的測量頭是否接觸，分為接觸測量和非接觸測量。

接觸測量：測量頭與被接觸表面接觸，並有機械作用的測量力存在。如用千分尺測量零件。

非接觸測量：測量頭不與被測零件表面相接觸，非接觸測量可避免測量力對測量結果的影響。如利用投影法、光波干涉法測量等。

4、按一次測量參數的多少，分為單項測量和綜合測量。

單項測量；對被測零件的每個參數分別單獨測量。

綜合測量：測量反映零件有關參數的綜合指標。如用工具顯微鏡測量螺紋時，可分別測量出螺紋實際中徑、牙型半形誤差和螺距累積誤差等。

5、按測量在加工過程中所起的作用，分為主動測量和被動測量。

主動測量：工件在加工過程中進行測量，其結果直接用來控制零件的加工過程，從而及時防治廢品的產生。

被動測量：工件加工後進行的測量。此種測量只能判別加工件是否合格，僅限於發現並剔除廢品。

6、按被測零件在測量過程中所處的狀態，分為靜態測量和動態測量。

靜態測量；測量相對靜止。如千分尺測量直徑。

動態測量；測量時被測表面與測量頭模擬工作狀態中作相對運動。

水準測量原理

從驗潮站的高程零點，用水準測量的方法測定設立於驗潮站附近由國家設計里的水準原點的高程，作為全國高程式控制制網的起點。我國水準原點設立在山東青島市。從國家水準原點出發，用一、二、三、四等水準測量測定布設在全國范圍內的各等水準點。

一、二等水準測量稱為精密水準測量，為全國高程式控制制網的骨幹，三、四等水準網遍布全國各地，以上總稱為國家水準點。在國家水準點的基礎的上，為每項工程建設而進行工程水準測量或為地形圖測繪而進行圖根水準測量，同城為普通水準測量。

水準測量的原理是利用水準儀提供的水平視線，在豎立在欲測定高差的兩點上的水準尺上讀數，根據讀數計算高差。

③ 測量方法的分類

1.直接測量和間接測量

按實測幾何量是否為欲測幾何量，可分為直接測量和間接測量。

1）直接測量

直接測量是指直接從計量器具獲得被測量的量值的測量方法。如用游標卡尺、千分尺。

（2）間接測量

間接測量是測得與被測量有一定函數關系的量，然後通過函數關系求得被測量值。如測量大尺寸圓柱形零件直徑D時，先測出其周長L，然後再按公式D/求得零件的直徑D，如圖2-4所示。

2.絕對測量和相對測量

按示值是否為被測量的量值，可分為絕對測量和相對測量。

（1）絕對測量絕對測量是指被計量器具顯示或指示的示值即是被測幾何量的量值。如用測長儀測量零件，其尺寸由刻度尺直接讀出。

（2）相對測量相對測量也稱比較測量，是指計量器具顯示或指示岀被測幾何量相對於已知標准量的偏差，測量結果為已知標准量與該偏差值的代數和。

一般來說，相對測量的測量精度比絕對測量的要高。

3.接觸測量和非接觸測量

按測量時被測表面與計量器具的測頭是否接觸，可分為接觸測量和非接觸測量

（1）接觸測量接觸測量是指計量器具在測量時，其測頭與被測表面直接接觸的測量。如用卡尺、千分尺測量公交。

（2）非接觸測量非接觸測量是指計量器具在測量是，其測頭與被測表面不接觸的測量。如用氣動量儀測量孔徑和用顯微鏡測量工件的表面粗糙度。

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從這個定義，我們就可以看出經典物理的基本假設：

1．時間是絕對的，其含義是時間流逝的速率與空間位置和物體的速率無關；

2．空間是歐幾里德的，也就是說歐幾里德幾何的假設和定律對空間是成立的；

3．經典物理的第三個假設，就是質點的運動可以用位置作為時間的函數來描述。

根據愛因斯坦的相對論，時間是相對的，空間也不是歐幾里德的，但是絕對時間和歐幾里德空間對低速運動（相對於光速）和宏觀世界是一個很好的近似，在相當高的精度上是正確的。因此在經典物理中使用這樣的假設是合理的。

根據第三個假設，如果我們知道質點的位置作為時間的函數，而且我們知道了質點的質量，那麼我們就知道了所能知道的關於這個質點的一切知識，由此可見，經典物理的任務就是找出質點的位置隨時間變化的函數。