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膜厚均勻性測量方法

發布時間:2023-07-06 17:06:49

A. 塑料薄膜厚度如何測量用什麼儀器好

對塗層厚度的檢測將有利於有效控制薄膜各層的厚度均勻性,但對於多層薄膜若想精確測量每一塗層的厚度,在相應的厚度檢測設備上就需要有非常大的投資,並隨著薄膜層數的增長而加大,給企業帶來較大的經濟負擔。比較經濟的方式是對部分價格昂貴的塗層材料進行塗層厚度的檢測,同時加強對薄膜整體厚度的測試以達到有效控制其他各層材料厚度均勻性的作用。
對於薄膜厚度測量,深圳大成精密一直持續加大研發投入和不斷致力於技術創新。大成精密光學干涉測厚儀專為透明薄膜開發的光學干涉測厚儀能夠良好地實現單層或多層透明薄膜的厚度測量。精度極其高,應用甚廣,尤其適合厚度要求達到納米級的透明多層物體的厚度測量。

B. 怎樣測量薄膜厚度

可以用高精度的塗層測厚儀PD-CT2,下面墊一塊鐵基體,薄膜太軟了不行,可以用平頭有的測厚規來測,但是精度不高

C. 塗層測厚儀測量厚度方法具體有那些

塗層測厚儀是一種攜帶型測厚儀,能快速、無損傷、精密地測量塗層、鍍層的厚度;可用於工程現場,也可用於實驗室,通過不同探頭的使用,更可滿足多種測量需求,塗層測厚儀廣泛應用於製造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域;是材料保護專業必備的儀器。塗層測厚儀它採用計算機技術,無損檢測技術等多項先進技術,無需損傷被測體就能jing確地測量出它的厚度。F型探頭可直接測量導磁材料(如鐵 、鎳)表面上的非導磁覆蓋層厚度(如: 油漆 、塑料 、搪瓷 、銅 、鋁、鋅 、鉻等)。可應用於電鍍層、油漆層、搪瓷層 、 鋁瓦 、銅 瓦 、巴氏合金瓦 、磷化層、紙張的厚度測量,也可用於船體油 漆及水下結構件的附著物的厚度測量。NF型探頭可測量非導磁金屬基體上的絕 緣覆蓋層厚度,如鋁、銅、鋅、無磁不銹鋼等材料表面上的油漆、塑料、橡膠塗層,也可測量鋁或鋁合金材料的陽極氧化層厚度。下面就為大家介紹塗層測厚儀測量厚度的5種方法:
1.磁性測厚法:適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為:鋼\鐵\銀\鎳。此種方法測量jing確
2.渦流測厚法:適用導電金屬上的非導電層厚度測量,此種方法較磁性測厚法精度低。
3.超聲波測厚法:目前國內還沒有用此種方法測量塗鍍層厚度的,國外個別廠家有這樣的儀器,適用多層塗鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合.但一般價格昂貴、測量精度也不高。
4.電解測厚法:此方法有別於以上三種,不屬於無損檢測,需要破壞塗鍍層,一般精度也不高,測量起來較其他幾種麻煩。
5.放射測厚法:此種儀器價格非常昂貴(一般在10萬RMB以上),適用於一些特殊場合。

D. 薄膜厚度測量的薄膜厚度的測量方法

隨著科技的進步和精密儀器的應用,薄膜厚度的測量方法有很多,按照測量的方式分可以分為兩類:直接測量和間接測量。直接測量指應用測量儀器,通過接觸(或光接觸)直接感應出薄膜的厚度,常見的直接法測量有:螺旋測微法、精密輪廓掃描法(台階法)、掃描電子顯微法(SEM);間接測量指根據一定對應的物理關系,將相關的物理量經過計算轉化為薄膜的厚度,從而達到測量薄膜厚度的目的。常見的間接法測量有:稱量法、電容法、電阻法、等厚干涉法、變角干涉法、橢圓偏振法。按照測量的原理可分為三類:稱量法、電學法、光學法。常見的稱量法有:天平法、石英法、原子數測定法;常見的電學法有:電阻法、電容法、渦流法;常見的光學方法有:等厚干涉法、變角干涉法、光吸收法、橢圓偏振法。

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