A. 平面度誤差的測量方法有幾種
平面度誤差的測量方法都是比較多,在測量的時候只不過多次的記住就完成了。
B. 平面控制測量的方法有哪些
平面控制測量的主要方法有三角測量、導線測量和衛星定位測量。
三角測量是用精密儀器觀測三角鎖(網)中所有三角形的內角,並精確測定起始邊的邊長和方位角,然後根據三角公式解算出各點的坐標。
為了限制誤差的碰枯鉛累積和傳播,保證測圖和施工的精度及速度,測量工作必須遵循「從整體到局部,先控制後碎部」的原則。即先進行整個測區的控制測量,再進行碎部測量。控制測量的實質就是測量控制點的平面位置和笑好高程。測定控制點的平面位置工作,稱為平面控制測量;測定控制點的高程工作,稱為高程式控制制測量。
C. 平面度與翹曲度的測量方法是什麼區別點是什麼
Core9038a平面度檢查儀是一款根據光學自準直原理設計的儀器,它可以精確地測量機床或儀器導軌的直線度誤差,在加熱的狀態下測量PCB翹曲度和PCB平面度,利用光學直角器和帶磁性座的反射鏡等附件。
一、指代不同
1、平面度:平面度是指基片具有的宏觀凹凸高度相對理想平面的偏差。
2、翹曲度:表述平面在空間中的彎曲程度,在數值上被定義為翹曲平面在高度方向上距離最遠的兩點間的距離。
二、測量方法不同
1、平面度:
(1)平晶干涉法:用光學平晶的工作面體現理想平面,直接以干涉條紋的彎曲程度確定被測表面的平面度誤差值。
(2)打表測量法:打表測量法是將被測零件和測微計放在標准平板上,以標准平板作為測量基準面,用測微計沿實際表面逐點或沿幾條直線方向進行測量。
(3)液平面法:液平面法是用液平面作為測量基準面,液平面由 「連通罐」內的液面構成,然後用感測器進行測量。
2、翹曲度:
採用注塑CAE進行設計質量預測,對翹曲變形模擬結果的評價一般直接用最大翹曲變形量來進行,有時也將總平均翹曲變形量。但對於不同材料、模具結構等造成翹曲變形的影響模式改變的因素,不同設計下各部分的翹曲變形嚴重程度也隨之改變。
平面度評定方法:
平面度誤差的評定方法有:三遠點法、對角線法、最小二乘法和最小區域法等四種。
1、三遠點法:是以通過實際被測表面上相距最遠的三點所組成的平面作為評定基準面,以平行於此基準面,且具有最小距離的兩包容平面間的距離作為平面度誤差值。
2、對角線法:是以通過實際被測表面上的一條對角線,且平行於另一條對角線所作的評定基準面,以平行於此基準面且具有最小距離的兩包容平面間的距離作為平面度誤差值。
3、最小二乘法:是以實際被測表面的最小二乘平面作為評定基準面,以平行於最小二乘平面,且具有最小距離的兩包容平面間的距離作為平面度誤差值。最小二乘平面是使實際被測表面上各點與該平面的距離的平方和為最小的平面。此法計算較為復雜,一般均需計算機處理。
4、最小區域法:是以包容實際被測表面的最小包容區域的寬度作為平面度誤差值,是符合平面度誤差定義的評定方法。
D. 平面度怎樣測量
平面度測量的常用方法有如下幾種:
1、平晶干涉法:用光學平晶的工作面體現理想平面,直接以干涉條紋的彎曲程度確定被測表面的平面度誤差值。主要用於測量小平面,如量規的工作面和千分尺測頭測量面的平面度誤差。
平面是由直線組成的,因此直線度測量中直尺法、光學準直法、光學自準直法、重力法等也適用於測量平面度誤差。測量平面度時,先測出若干截面的直線度。
再把各測點的量值按平面度公差帶定義(見形位公差)利用圖解法或計演算法進行數據處理即可得出平面度誤差。也有利用光波干涉法和平板塗色法測量平面誤差的。
2、打表測量法:打表測量法是將被測零件和測微計放在標准平板上,以標准平板作為測量基準面,用測微計沿實際表面逐點或沿幾條直線方向進行測量。打表測量法按評定基準面分為三點法和對角線法:三點法是用被測實際表面上相距最遠的三點所決定的理想平面作為評定基準面。
實測時先將被測實際表面上相距最遠的三點調整到與標准平板等高;對角線法實測時先將實際表面上的四個角點按對角線調整到兩兩等高。然後用測微計進行測量,測微計在整個實際表面上測得的最大變動量即為該實際表面的平面度誤差。
3、液平面法:液平面法是用液平面作為測量基準面,液平面由 「連通罐」內的液面構成,然後用感測器進行測量。此法主要用於測量大平面的平面度誤差。
4、光束平面法:光束平面法是採用准值望遠鏡和瞄準靶鏡進行測量,選擇實際表面上相距最遠的三個點形成的光束平面作為平面度誤差的測量基準面。
5、激光平面度測量儀:激光平面度測量儀用於測量大型平面的平面度誤差平面度測量現場。
6、利用數據採集儀連接百分表測量平面度誤差的方法。
測量儀器:偏擺儀、百分表、數據採集儀。
測量原理:數據採集儀可從百分表中實時讀取數據,並進行平面度誤差的計算與分析,平面度誤差計算工式已嵌入我們的數據採集儀軟體中,完全不需要人工去計算繁瑣的數據,可以大大提高測量的准確率。
(4)平面測量度的方法擴展閱讀:
平面度與公差原則關系 :
兩大公差原則 :獨立原則和包容原則
一、獨立原則:尺寸公差與形狀公差之間是獨立的
二、包容原則:尺寸公差與形狀公差之間是有關聯的
平面度誤差的評定方法有:三遠點法、對角線法、最小二乘法和最小區域法等四種。
1、三遠點法:是以通過實際被測表面上相距最遠的三點所組成的平面作為評定基準面,以平行於此基準面,且具有最小距離的兩包容平面間的距離作為平面度誤差值。
2、對角線法:是以通過實際被測表面上的一條對角線,且平行於另一條對角線所作的評定基準面,以平行於此基準面且具有最小距離的兩包容平面間的距離作為平面度誤差值。
3、最小二乘法:是以實際被測表面的最小二乘平面作為評定基準面,以平行於最小二乘平面,且具有最小距離的兩包容平面間的距離作為平面度誤差值。最小二乘平面是使實際被測表面上各點與該平面的距離的平方和為最小的平面。此法計算較為復雜,一般均需計算機處理。
4、最小區域法:是以包容實際被測表面的最小包容區域的寬度作為平面度誤差值,是符合平面度誤差定義的評定方法。
E. 平面度怎樣測量
1.平台測量:適用於面積較大的平面.就是找三個最遠的基準點,將其找平,再對平面地各個點進行測量.最大的差值即為平面度誤差.
2.刀口尺測量:適用於小平面測量.
F. 用高度規測量平面度跟平行度步驟
平面度一般用打表測量法,以下是方法:
打表測量法:打表測量法是將被測零件和測微計放在標准平板上,以標准平板作為測量基準面,用測微計沿實際表面逐點或沿幾條直線方向進行測量。
打表測量法按評定基準面分為三點法和對角線法:三點法是用被測實際表面上相距最遠的三點所決定的理想平面作為評定基準面,實測時先將被測實際表面上相距最遠的三點調整到與標准平板等高;對角線法實測時先將實際表面上的四個角點按對角線調整到兩兩等高。
然後用測微計進行測量,測微計在整個實際表面上測得的最大變動量即為該實際表面的平面度誤差。
操作注意事項
1、以探針去碰觸工件時應盡可能與工件的被測量面保持垂直的方向。正確有效的使用探針來碰觸量測工件,可以避免掉許多量測上不必要的誤差的產生。但是在實際碰觸取點時,至少需保持與垂直面角度在±30°以內。以防止探針打滑而造成量測的重復精度不佳的情況產生。再藉助系統的探針補償來實現數據的准確性。
2、注意探針的有效長度,以避免因長度不夠而造成測量上的很大的誤差。
(6)平面測量度的方法擴展閱讀:
用千分尺測出他的高低值,就是他的平行度,這是最簡單的一種。
還有一種就是把基準面放在平板上,用表來測量另一面的值也可以。
高度尺的示意圖:
1.主尺;2.緊固螺釘;3.尺框;4.基座;5.量爪;6.游標;7.微動裝置。
高度尺(如圖所示),用於測量零件的高度和精密劃線。
具體測量方法:
(一)它的結構特點是用質量較大的基座1代替固定量爪5,而動的尺框3則通過橫臂裝有測量高度和劃線用的量爪,量爪的測量面上鑲有硬質合金,提高量爪使用壽命。
(二)高度尺的測量工作,應在平台上進行。當量爪的測量面與基座的底平面位於同一平面時,如在同一平台平面上,主尺1與游標6的零線相互對准。
(三)所以在測量高度時,量爪測量面的高度,就是被測量零件的高度尺寸,它的具體數值,與游標卡尺(整數部分)和游標(小數部分)上讀出。應用高度尺劃線時,調好劃線高度,用緊固螺釘2把尺框鎖緊後,也應在平台上進行先調整再進行劃線。
G. 平面度測量方法
首先要在確定被測工件的表面及測量界限的基礎上,按照一定提取方案對測面進行點的提取。
在力合精密自主研發的Super DMlS幾何精密測量軟體中設置測量點數並生成三坐標測量平面的路徑,得到提取表面,對提取表面採用最小區域法進行擬合計算。
完成上述測量步驟後,輸入待測平面特徵名稱、下公差、上公差和公差理論值,並創建平面度的公差名稱和計算平面度誤差,進行平面度評估。
Super DMlS測量軟體擁有出色的公差計算功能,並且能實現圖形直觀化輸出報告,助您全面掌握工件平面度的形狀誤差,確保產品外觀達到製造質量要求。
H. 平面度測量方法
平面度測量方法如下:
1、大多數使用塞尺進行測量,塞尺測量是通過塞尺塞滿整個工件邊緣,從而得出數據進行測量,這種方法弊端很大,因為塞尺無法塞到工件中間位置,導致中間部位數據測量不到,而且塞尺測量容易刮花損壞工件,尤其是玻璃工件,更容易刮花。
2、影像測量儀測量,影像測量儀測量,是通過自動光學對焦掃描測量,影像測量儀雖然能達到所需的測量結果,但是效率慢,汽車剎車片、缸蓋、玻璃蓋板、剎車片手機鋼化膜等,在工廠都是大規模生產,全部都是全檢,測量速度要求高。
3、接觸式探針測量,接觸式探針測量是通過探針直接接觸到工件上進行量測,探針測量方法精密度要比影像儀測量更加精確,但是探針測量效率比較慢,而且探針測量一些軟性材料的工件或者易刮花的工件容易導致工件容易形變,探針測量准確度很高,但測量效率不是特別快。
4、激光測量儀測量,激光測量儀,採用非接觸式激光取點測量,不會順壞工件,效率快,激光測量分為兩種,單激光測量儀和三激光測量儀,單激光測量儀是一個激光頭進行激光取點測量,測量准,效率快;而三激光測量儀則是在速度上更進一步提升。
如果測量需要速度很快,則推薦使用三激光測量,三個激光頭測量取點,保證了測量速率,激光頭還可以根據需要繼續增加。
I. 平面度測量方法
平面度是指基片具有的宏觀凹凸高度相對理想平面的偏差。平面度測量是指被測實際表面對其理想平面的變動量。
測量方法:
1、塞尺測量法。塞尺主要用於間隙間距的測量,指蘆對平面度的測量只能進行粗測。塞尺使用前必須先清除塞尺和工件上的污垢與灰塵。使用時可用一片或數片重疊插入間隙,以稍感拖滯為宜。測量時動作要輕,不允許硬插。由於其精度不高,檢測效率較低,結果不夠全面,只能檢測零件邊緣。
2、液平面法。液平面法是用液平面作為測量基準面,液平搏逗段面由 「連通罐」內的液面構成,然後用感測器進行測量。基於連通器工作原理,適合測量連續或不連續的大平面的平面度,但測量時間長,且對溫度敏感,僅適用於測量精度較低的平面。
3、打表測量基譽法。打表測量法是將被測零件和測微計放在標准平板上,以標准平板作為測量基準面,用測微計沿實際表面逐點或沿幾條直線方向進行測量。