1. 我想知道有什麼辦法能測出電子產品的電壓 電流 就比方汽車大燈在不知道的情況下我要怎麼測電壓
一是根據電子電器產品元器件的標稱判斷,如:汽車前照燈拆下燈泡可看到標稱電壓和功率;
二是直接試驗,目前汽車標稱電系有兩種12V與24V,先用12V試驗正常工作為12V額定電壓,否則,用24V試驗正常工作為24V額定電壓;否則是,非汽車用電器或已損壞。
常用萬用電表直接測量的方法,測得該車載電器的電壓、電流。
三是經驗判斷,如:測量電阻的大小粗略的判斷;早期還有用劃火的方法火花的大小來判斷;由於不準確,現在基本不用了。
2. 電子產品防水檢測用什麼設備和方法檢測精準啊
電子產品防水檢測可以使用防水測試機設備或者氣密性檢測儀來做,根據產品有無透氣孔來採用合適的方法,對於有透氣孔的產品做防水測試,一般是採用負壓法也就是抽真空方法來檢查產品是否有泄漏;對於沒有透氣孔的產品,一般是配套做一個密封上下密閉內腔工裝治具,將產品放入,再通過對密閉內腔採用正壓法來檢查產品是否有泄漏。
防水測試機與氣密性檢測設備
3. 電子產品質量檢驗都檢測些什麼呀還有具體用些什麼方法,用什麼儀器
1、外觀:標識、表面是否銹蝕、開裂、變形。
2、技術性能:耐壓 用耐壓測試儀;絕緣電阻 用絕緣電阻測試儀或兆歐表;波形 用示波器;電流/電壓等用萬用表即可;
3、環境試驗驗:電磁兼容、振動、沖擊、高低溫、濕熱、溫升等需在專門檢驗機構做。
根據需要不同所需方法也不太一樣,需要根據產品類別,按照國家標准,沒有國家標准按企業標准檢測,具體方法由質量技術監督管理局制定,或者3C認證的一些檢測中心。
通常電子產品需要的檢測設備有:示波器,萬用表,推拉力計,扭力計,安規儀器,電橋等。
(3)電子產品測量方法擴展閱讀:
電子產品質量的環境條件:
電子產品在儲存、運輸和使用過程中,經常受到周圍環境的各種有害影響,如影響電子產品的工作性能、使用可靠性和壽命等。
影響電子產品的環境因素有:溫度、濕度、大氣壓力、太陽輻射、雨、風、冰雪、灰塵和沙塵、鹽霧、腐蝕性氣體、黴菌、昆蟲及其他有害動物、振動、沖擊、地震、碰撞、離心加速度、聲振、搖擺、電磁干擾及雷電等。
氣候環境條件:
溫度(℃):-80、-65、-55、-40、-25、-15、-5、+5、+15、+20、+25、+30、+40、+55、+60、+70、+85、+100、+125、+155、+200;
溫度變化速率 (℃/分):0.1、0.5、1、3、5,溫度變化速率(℃/秒):1、5;
相對濕度(%):10、50、75、90
壓力(毫巴):300000、50000、10000、5000、2000、1300、1060、840、700、530、300、200;
壓力變化速率(毫巴/秒):1、10;
周圍介質(水、空氣等)與產品的相對移動速度(米/秒):0.5、1、3、5、10、30、50;
降雨(毫米/秒):0.3、1、2、3、6、15。
生物環境條件:包括黴菌、昆蟲和動物等。
1、黴菌:對電子產品危害最大的菌種有黃麴黴、黑麴黴、土麴黴、出芽茁霉、宛氏擬青黴、繩狀青黴、赭色青黴、光孢短柄帚霉、綠色木霉、雜麴黴、球毛殼霉等。這些黴菌最適宜的發芽溫度為20~30℃,相應的相對濕度為80%~90%。
2、昆蟲:對電子產品危害最大的昆蟲有白蟻、蠹蟲、木蜂、蟑螂等,在熱帶地區尤為嚴重。
3、動物:對電子產品危害最大的動物有鼠、蛇、鳥等,在熱帶地區尤為嚴重。
機械活性物質環境條件:在熱沙漠區、砂質海濱區、和乾旱內陸區都會發生吹砂現象。在通常情況下,砂粒直徑為 0.01~0.1毫米,在砂質荒漠區砂粒平均直徑為0.18~0.30毫米。吹塵主要發生在工業煙灰區和乾旱風區。
灰塵的平均直徑在0.0001~0.01毫米間,在多灰塵的極端情況下,濃度可達6×10-9克/厘米3。吹砂和吹塵現象多數出現在氣溫高、相對濕度小的天氣條件下。通常用的試驗嚴酷度等級為:
砂 (克/厘米3):0.01、0.03、0.1、0.3、1、3、10;
塵(毫克/米2·時):1、3、10、30。
化學活性物質環境條件:
1、鹽霧:空氣中懸浮的氯化物液體微粒稱為鹽霧。鹽霧可隨風從海上深入到沿海30~50公里處。在船隻和海島上的沉降量每天可達 5毫升/厘米2以上。試驗常用的嚴酷度等級(毫升/厘米2·時)為:1、3、5、10。
2、臭氧:臭氧對電子產品有危害作用,其常用的試驗嚴酷度等級(毫克/米3)為:0.01、0.03、0.1、0.3、1、3、10、30。
3、二氧化硫,硫化氫,氨、氮和氧化物:在化學工業部門,包括礦井、化肥、醫葯、橡膠等的生產場所,空氣中含有許多腐蝕性氣體,其主要成分是二氧化硫,硫化氫、氨、氮的氧化物等。這些物質在潮濕的條件下可形成酸性、鹼性氣體,損壞各類電子產品。
試驗常用的嚴酷度等級 (毫克/米3)為0.01、0.03、0.1、0.3、1、3、10、30、100、300。
機械環境條件:
1、跌落:電子產品在使用、運輸過程中都會因不慎而跌落。通常試驗用的嚴酷度等級(米)為0.025、0.050、0.1、0.25、0.5、10、2.5、5.0、10.0。
2、搖擺:電子產品在裝船使用和運輸過程中,要承受船隻的搖擺運動。通常試驗用的嚴酷度等級(度/6秒)為±5、±10、±25、45。
3、恆加速度:電子產品在使用和運輸中會經受恆加速度力。通常用的試驗嚴酷度等級(米/秒2)為:20、50、100、200、500、1000。
4、振動:實際的振動條件比較復雜,可能是簡單的正弦振動,也可能是復雜的隨機振動,甚至可能是正弦振動疊加隨機振動。
5、沖擊和碰撞:電子產品在運輸和使用過程中常會因沖撞而受損。
6、雜訊:在織布車間、大型汽輪發電機車間、船舶主機艙等高雜訊場所,雜訊可達90~100分貝。噴氣發動機工作和火箭發射時,雜訊可達140~160分貝。常用的試驗嚴酷度等級(分貝)為140、160。
電氣環境條件:
1、雷電:濕熱帶地區雷暴頻繁,如印尼爪哇的茂物市年雷暴日(即出現聞雷聲或雷雨現象的天數)達 322天。雷電產生的雷電脈沖波形如圖。圖中T1、T2時間確定的原則是:與明線連接的電子設備,宜用T1=4微秒,T2=300微秒的波形進行試驗;
與電纜連接的電子設備,宜用T1=10微秒,T2=700微秒;與鋼軌或類似傳導體連接的電子設備,宜用T1=10微秒,T2=200微秒;模擬對直擊雷產生的反擊宜用T1=1.2微秒,T2=50微秒。試驗時,常用的電壓等級(千伏)為:1.5、4、5、6.5。
2、電氣設備的電磁場和機動車輛點火系統產生的電磁場,在距干擾源10米處測得40~1000兆赫頻率范圍為40分貝(微伏/米)。帶電機的電器產生的干擾電壓在 0.15~30兆赫范圍為66分貝(微伏);在30~300兆赫范圍為55分貝(微伏)。
當電機功率加大時,干擾電壓也將隨之增大。高頻設備產生的電磁場,在距干擾源 100米處測得的0.15~1000兆赫范圍的場強為34~54分貝(微伏/米)。
4. 怎麼測量電容的大小值
准備工具:被測電容一個、萬用表一個。
1、將萬用表打到標有F的電容擋上。
(4)電子產品測量方法擴展閱讀:
兩個相互靠近的導體,中間夾一層不導電的絕緣介質,就構成了電容器。當電容器的兩個極板之間加上電壓時,電容器就會儲存電荷。電容器的電容量在數值上等於一個導電極板上的電荷量與兩個極板之間的電壓之比。電容器的電容量的基本單位是法拉(F)。在電路圖中通常用字母C表示電容元件。
電容器在調諧、旁路、耦合、濾波等電路中起著重要的作用。晶體管收音機的調諧電路要用到它,彩色電視機的耦合電路、旁路電路等也要用到它。
隨著電子信息技術的日新月異,數碼電子產品的更新換代速度越來越快,以平板電視(LCD和PDP)、筆記本電腦、數碼相機等產品為主的消費類電子產品產銷量持續增長,帶動了電容器產業增長。
5. 瓷片電容的測量方法有哪些
瓷片電容已隨著各類電子產品走進人們的生活中,在選型中,遇到測量問題,該如何處理呢一般瓷片電容的測量方法:將萬用表置於R*10檔,用兩表筆分別接觸電容器引腳,測得電阻一般在幾百千歐至幾千千歐;若測得電阻很小甚至為零,說明電容內部已短路
當測量中發現萬用表的指針無法達到無窮大的位置時,指針所指的阻值就是該瓷片電容器的漏電電阻
指針距離阻值無窮大的位置越遠,說明瓷片電容器漏電越嚴重
有的電容器在測其漏電電阻時,指針退回無窮大的位置,然後又慢慢的向順時針方向擺動,擺動的越多說明陶瓷電容的漏電流越嚴重
瓷片電容的斷路測量
瓷片電容的容量范圍很寬,用萬用表判斷電容器的斷路情況時,首先要看電容量的大小
對於0.019UF以下的小容量電容器,用萬用表不能准確判斷其是否斷路,只能用其他儀表進行鑒別
對於0.01UF以上的瓷片電容,用萬用表測量時,必須根據瓷片電容容量大小,選擇合適的量程進行測量,才能正確的給以判斷
如測量300UF以上的陶瓷電容,可以選R*10檔或者R*1檔;如要測10~300UF陶瓷電容時可選用R*100檔;如要測0.4710UF的電容可選用R*1K檔
按照上述方法選好量程後,便可將萬用表的兩表筆分別接陶瓷電容的兩引腳
測量時,如指針不動,可將兩表筆對調後再測,如指針不動,說明瓷片電容斷路
用萬用表的歐姆檔測量瓷片電容的短路
用萬用表的兩表筆分別接電容器的兩引腳,如果指針所指示的阻值很小或者接近為零,而且指針不再退回無窮大的位置,說明瓷片電容已經被擊穿短路
需要注意的是在測量容量較大的電容器時,要根據電容量的大小,依照上述介紹的量程選擇方法來選擇適合的量程,否則可能會把瓷片電容的充電誤認為擊穿
選擇瓷片電容時,產品質量好壞直接關系我們的生活品質及生活安全
請選擇原廠正品出產,品質有保證並可安全使用
6. 電子產品高壓測試方法及相應的測試電壓是多少
測試方法
高壓通常是應用的在橫跨被測試絕緣材料的二個部件之間, 譬如測試設備(EUT)的一次側電路(Primary Circuit)和金屬外殼。 如果絕緣材料在兩個部件之間是足夠的, 那麼加在兩個由絕緣體分離的導體之間的大電壓只能產生非常小的電流流過絕緣體。 雖然這個小電流是可接受的, 但是空氣絕緣或固體絕緣不應該發生擊穿。因此,,需要注意這個電流是因為局部放電或擊穿的結果, 而不是由於電容聯結引起的。
另外一個例子是對介於電源的一次(Primary)和二次(Secondary)電路之間的絕緣材料進行測試。 這時所有輸出短接在一起。 耐壓測試儀的接地探針與短接在一起的輸出相連, 同時高壓探針與L 和N連接(L和N短接) (參見圖1) 。在hipot 測試期間EUT 不工作。 必須注意, 在進行型式測試期間, 理想的情況是先加低於規定的電壓的1/2, 然後逐漸上升,並且在10 秒中達到規定電壓,並且維護1 分鍾。 然而,大多數測試儀器, 直接輸出規定電壓或使用一個電子控制線路來實現電壓的爬升。
7. 電子產品的導電性能怎麼測試
摘要 測量一個產品的導電性能,測量電阻就可以啦。電阻決定了產品的導電性能是否良好。測量電阻的工具也很簡單,萬用表就可以。
8. 測量二、三極體的方法
普通二極體的檢測 (包括檢波二極體、整流二極體、阻尼二極體、開關二極體、續流二極體)是由一個PN結構成的半導體器件,具有單向導電特性。通過用萬用表檢測其正、反向電阻值,可以判別出二極體的電極,還可估測出二極體是否損壞。
1.極性的判別 將萬用表置於R×100檔或R×1k檔,兩表筆分別接二極體的兩個電極,測出一個結果後,對調兩表筆,再測出一個結果。兩次測量的結果中,有一次測量出的阻值較大(為反向電阻),一次測量出的阻值較小(為正向電阻)。在阻值較小的一次測量中,黑表筆接的是二極體的正極,紅表筆接的是二極體的負極。
2.單負導電性能的檢測及好壞的判斷 通常,鍺材料二極體的正向電阻值為1kΩ左右,反向電阻值為300左右。硅材料二極體的電阻值為5 kΩ左右,反向電阻值為∞(無窮大)。正向電阻越小越好,反向電阻越大越好。正、反向電阻值相差越懸殊,說明二極體的單向導電特性越好。
若測得二極體的正、反向電阻值均接近0或阻值較小,則說明該二極體內部已擊穿短路或漏電損壞。若測得二極體的正、反向電阻值均為無窮大,則說明該二極體已開路損壞。
3.反向擊穿電壓的檢測 二極體反向擊穿電壓(耐壓值)可以用晶體管直流參數測試表測量。其方法是:測量二極體時,應將測試表的「NPN/PNP」選擇鍵設置為NPN狀態,再將被測二極體的正極接測試表的「C」插孔內,負極插入測試表的「e」插孔,然後按下「V(BR)」鍵,測試表即可指示出二極體的反向擊穿電壓值。
三極體:以數字表為例:任意假設一腳是B極,將萬用表調到通斷檔(有二極體標志,能鳴響),紅表筆接B極,黑表筆分別另兩腳,能測通示值400-700時則所假設的B極正確,且此三極體是NPN的,反之,黑表接B極能通則是PNP管
9. 電子產品一般要做哪些測試
1、低溫試驗
按GB/T2423.1—89《電工電子產品環境試驗第二部分:試驗方法低溫試驗》;
GB/T2423.22—87《電工電子產品環境試驗第二部分:試驗方法溫度變化試驗方法》
進行低溫試驗及溫度變化試驗。
溫度范圍:-70℃~10℃。
2、高溫試驗
按GB/T2423.2—89《電工電子產品環境試驗第二部分:試驗方法高溫試驗》;
GB/T2423.22—87《電工電子產品環境試驗第二部分:試驗方法溫度變化試驗方法》
進行高溫試驗及溫度變化試驗。
溫度范圍:10℃~210℃。
3、濕熱試驗
按GB/T2423.3—93《電工電子產品環境試驗第二部分:試驗方法恆定濕熱試驗》;
GB/T2423.4—93《電工電子產品環境試驗第二部分:試驗方法交變濕熱試驗》
進行恆定濕熱試驗及交變濕熱試驗。
濕度范圍:30%RH~100%RH。
4、黴菌試驗
按GB/T2423.16—90《電工電子產品環境試驗第二部分:試驗方法長霉試驗》進行黴菌試驗。
5、鹽霧試驗
按GB/T2423.17—93《電工電子產品環境試驗第二部分:試驗方法鹽霧試驗》進行鹽霧試驗。
6、低氣壓試驗
按GB/T2423.21—92《電工電子產品環境試驗第二部分:試驗方法低氣壓試驗》;
GB/T2423.25—92《電工電子產品環境試驗第二部分:試驗方法低溫/低氣壓試驗》;
GB/T2423.26—92《電工電子產品環境試驗第二部分:試驗方法高溫/低氣壓試驗》;
進行低氣壓試驗,高、低溫/低氣壓試驗。范圍:70℃~100℃0~760mmHg20%~95%RH。
7、振動試驗
按GB/T2423.10—95《電工電子產品環境試驗第二部分:試驗方法振動試驗》進行振動試驗。
頻率范圍(機械振動台):5~60Hz(定頻振動5~80Hz),最大位移振幅3.5mm(滿載)。頻率范圍(電磁振動台):5~3000Hz,最大位移25mmP-P。
8、沖擊試驗
按GB/T2423.5—95《電工電子產品環境試驗第二部分:試驗方法沖擊試驗》進行沖擊試驗。沖擊加速度范圍:(50~1500)m/s2。
9、碰撞試驗
按GB/T2423.6—95《電工電子產品環境試驗第二部分:試驗方法碰撞試驗》進行碰撞試驗。
10、跌落試驗
按GB/T2423.7—95《電工電子產品環境試驗第二部分:試驗方法傾跌與翻到試驗》;
GB/T2423.8—95《電工電子產品環境試驗第二部分:試驗方法自由跌落試驗》進行跌落試驗。
(9)電子產品測量方法擴展閱讀
同一種產品,在不同的階段,測試條件也不一樣;一般而言,產品會經過研發、小批量試產、批量生產三個不同的階段。
1、研發階段,測試條件最嚴(應力最大)、測試延續的時候最短;
2、小批量試產階段,測試應力適中、測試時間適中;
3、批量生產階段,測試應力最小、測試時間較短。