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16角晶元測量方法

發布時間:2022-09-02 08:53:00

① 電路板上晶元壞了怎麼用萬用表測量

晶元是集成電路,一般的萬用表無法測量,把它拆下來用專用的測試台。在確保外圍電路都正常的情況下,在線測試它各個引腳的參考電平。負責任廠家都會在它的產品圖紙上標注各測試點的參考電壓或測試波形的。
此外,晶元類,如果有具體晶元手冊對應,還可以測測相關管腳的電阻。比如,電源腳和GND腳有沒有短路,差分對的內置匹配電阻是否正確等。

如何檢測數字晶元的好壞(限30字)

摘要 測量晶元好壞方法

③ 怎麼用萬用表測量主板晶元晶元上這么多個針角!

用萬用表測晶元要求太高了,若測電源,一般是有凹槽的邊上的兩個管腳,但不小心就會短路,一般5v左右;若測電阻的話,你要知道該晶元的內部管腳圖,不是專業的最好別動這個腦筋。

④ 用萬用表測量晶元的好壞如何測量

一、如果壞的話最常見的也是擊穿損壞,你可以用萬用表測量一下晶元的供電端對地的電阻或電壓,一般如果在幾十歐姆之內或供電電壓比正常值低,大部分可以視為擊穿損壞了,可以斷開供電端,單獨測量一下供電是否正常。如果測得的電阻較大,那很可能是其他埠損壞,也可以逐一測量一下其他埠。看是否有對地短路的埠。

二、專門具有檢測IC的儀器,萬用表沒有這個能力。一般使用萬用表都是檢測使用時的引腳電壓做大約的判斷,沒有可靠性。並且是在對於這款IC極其熟悉條件下做判斷。

(4)16角晶元測量方法擴展閱讀

萬用表是一種帶有整流器的、可以測量交、直流電流、電壓及電阻等多種電學參量的磁電式儀表。對於每一種電學量,一般都有幾個量程。又稱多用電表或簡稱多用表。萬用表是由磁電系電流表(表頭),測量電路和選擇開關等組成的。通過選擇開關的變換,可方便地對多種電學參量進行測量。其電路計算的主要依據是閉合電路歐姆定律。萬用表種類很多,使用時應根據不同的要求進行選擇。

萬用表的直流電流檔是多量程的直流電壓表。表頭並聯閉路式分壓電阻即可擴大其電壓量程。萬用表的直流電壓檔是多量程的直流電壓表。表頭串聯分壓電阻即可擴大其電壓量程。分壓電阻不同,相應的量程也不同。萬用表的表頭為磁電系測量機構,它只能通過直流,利用二極體將交流變為直流,從而實現交流電的測量

(參考資料 網路 萬用表)

⑤ 求教如何用萬用表檢測主板上的個個晶元好壞

主板維修檢修方法和IC好壞判斷方法一、 查板方法: 1.觀察法:有無燒糊、燒斷、起泡、板面斷線、插口銹蝕。 2.表測法:+5V、GND電阻是否是太小(在50歐姆以下)。 3.通電檢查:對明確已壞板,可略調高電壓0.5-1V,開機後用手搓板上的IC,讓有問題的晶元發熱,從而感知出來。 4.邏輯筆檢查:對重點懷疑的IC輸入、輸出、控制極各端檢查信號有無、強弱。 5.辨別各大工作區:大部分板都有區域上的明確分工,如:控制區(CPU)、時鍾區(晶振)(分頻)、背景畫面區、動作區(人物、飛機)、聲音產生合成區等。這對電腦板的深入維修十分重要。 二、排錯方法: 1.將懷疑的晶元,根據手冊的指示,首先檢查輸入、輸出端是否有信號(波型),如有入無出,再查IC的控制信號(時鍾)等的有無,如有則此IC壞的可能*極大,無控制信號,追查到它的前一極,直到找到損壞的IC為止。 2.找到的暫時不要從極上取下可選用同一型號。或程序內容相同的IC背在上面,開機觀察是否好轉,以確認該IC是否損壞。 3.用切線、借跳線法尋找短路線:發現有的信線和地線、+5V或其它多個IC不應相連的腳短路,可切斷該線再測量,判斷是IC問題還是板面走線問題,或從其它IC上借用信號焊接到波型不對的IC上看現象畫面是否變好,判斷該IC的好壞。 4.對照法:找一塊相同內容的好電腦板對照測量相應IC的引腳波型和其數來確認的IC是否損壞。 5.用微機萬用編程器(ALL-03/07)(EXPRO-80/100等)中的ICTEST軟體測試IC。

⑥ 晶元怎麼看哪個是第16角

此圖中左下腳為1腳,向右到8腳,和1腳對應的是16腳,和8腳對應9腳。

⑦ 用萬用表檢測IC晶元的幾種簡易方法

用萬用表檢測IC晶元的幾種簡易方法
1.離線檢測
測出IC晶元各引腳對地之間的正,反電阻值.以此與好的IC晶元進行比較,從而找到故障點.
2.在線檢測
1)直流電阻的檢測法同離線檢測一樣但要注意:
(a)要斷開待測電路板上的電源;
(b)萬能表內部電壓不得大於6V;
(c)測量時,要注意外圍的影響.如與IC晶元相連的電位器等.
2)直流工作電壓的測量法測得IC晶元各腳直流電壓與正常值相比即可.但也要注意:
(a)萬能表要有足夠大的內阻,數字表為首選;
(b)各電位器旋到中間位置;
(c)表筆或探頭要採取防滑措施,可用自行車氣門芯套在筆頭上,並應長出筆尖約5mm;
(d)當測量值與正常值不相符時,應根據該引腳電壓,對IC晶元常值有無影響以及其它引腳電壓的相應變化進行分析;
(e)IC晶元引腳電壓會受外圍元器件的影響.當外圍有漏電,短路,開路或變質等;
(f)IC晶元部分引腳異常時,則從偏離大的入手.先查外圍元器件,若無故障,則IC晶元損壞;
(g)對工作時有動態信號的電路板,有無信號IC晶元引腳電壓是不同的.但若變化不正常則IC晶元可能已壞;
(h)對多種工作方式的設備,在不同工作方式時IC腳的電壓是不同的.
3)交流工作電壓測試法用帶有dB檔的萬能表,對IC進行交流電壓近似值的測量.若沒有d檔,則可在正表筆串入一隻0.1-0.5μF隔離直流電容.該方法適用於工作頻率比較低的IC.但要注意這些信號將受固有頻率,波形不同而不同.所以所測數據為近似值,。
4)總電流測量法通過測IC電源的總電流,來判別IC的好壞.由於IC內部大多數為直流耦合,IC損壞時(如PN結擊穿或開路)會引起後級飽和與截止,使 總電流發生變化.所以測總電流可判斷IC的好壞.在線測得迴路電。
阻上的電壓,即可算出電流值來.

⑧ 晶元的好壞怎麼測量

在不清楚晶元電路和工作原理的情況下,可以用對地阻抗法測量
在電路完全放電狀態下,用萬用表200K歐檔(最好用4位半的),測量其各引腳的對當阻抗,並與好的相比較。如果方便的話,將其正負電源與主線路切斷,並測量其對地阻抗,這可以測量出大部分的問題!

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