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熒光線測量儀使用方法

發布時間:2022-08-22 16:42:32

❶ 澄明度檢測儀操作流程是什麼

1.目的
建立YB-Ⅱ型澄明度檢測儀使用、維護保養標注操作規程。規范對YB-Ⅱ型度檢測儀表的使用。
2.適用范圍
使用於YB-Ⅱ型澄明度檢測儀的使用和維護保養的操作。
3.責任者
儀器操作人員和儀器管理人員。
4.內容
4.1規格及技術參數
電源:AC220v±10%,50HZ。
燈管:22W.
照度范圍:1000-4000LX。
時限范圍:1-79S任意設定。
儀器重量:約12.5KG。
外形尺寸:703mm×175mm×513mm。
4.2使用方法
4.2.1將檢測白板正向放入燈箱內,保護電器箱內電器元件。
4.2.2啟動電源開關,此時熒光燈亮。
4.2.3啟動照度開關,此時照度顯示為數字「00」表示照度0×100LX.
4.2.4將儀器配備的照度感測器插頭插入面板孔,掀開光電池保護蓋,將其放在平行與傘柵邊緣,檢品檢驗位置,測定照度,同時旋轉儀器上部的照度調節旋鈕至所需照度為止。照度調好後,拔下插頭,關閉照度開關。
4.2.5.根據所測要求,用儀器面板上的拔盤開關,設定所需檢測的時間。
4.2.6.在檢測樣平的同時,按動計時微觸開關,提示燈每秒閃爍一次,而且開始與終止有聲響報警。
4.2.7.測試完畢後,關上總電源開關,拔掉電源插頭。
4.3注意事項
該儀器使用前一定要檢查電源插座的地線是否可靠接地,檢品盤內若有葯水應及時清除,以防流入電源箱內造成其他事故。
打開電源後,如若燈管不亮首先檢查保險管和電源,調節儀器燈管旋鈕時禁止旋轉360度最大隻能旋轉180度,以防止燈管接觸不良

❷ 現場X熒光測量方法

隨著X熒光儀器、設備及工作方法的不斷改進和完善,野外X熒光測量已經成為一種在現場快速評價及查證異常的有效方法。表4-5列出了部分化學元素在各類岩石中的平均含量及野外X熒光測量的分析檢出限,對於大多數元素,檢出限值已經低於其豐度值。因而,應用X熒光測量,可以在野外測定單個元素含量或測定某一個地球化學元素組的元素總量來解決找礦問題,也可以僅僅測量某能量范圍的X射線照射量率來圈定地球化學偏高的場,從而研究含礦構造、含礦有利層位等。總之,該方法已經受到地質工作者,尤其是地球化學工作者的重視,正在成為他們的一種有力的工具。

表4-5 部分化學元素的豐度值及野外X熒光測量的分析檢出限

*右列數據為存在干擾元素時的檢出限。 (據周蓉生等,1994)

(一)野外儀器

野外儀器是一種攜帶型的,表4-6列出了幾種市面上可購的儀器以及它們的性能指標。

表4-6 幾種攜帶型X熒光儀的型號和性能指標

續表

(二)野外工作方法

X熒光測量結果,可以用兩種方式表示:單位時間的X射線計數率及目標元素含量。為求取含量,一般採用相對測量法。即用相同的儀器先測一組標樣,獲得工作曲線,如圖4-12所示。它是待測元素含量與相應特徵X射線照射量率(或特散比值)之間的關系曲線。在野外現場獲得特徵X射線強度後,即可從工作曲線上查出相應的元素含量。為避免基體效應的影響,標准樣品應具有與待測樣品相同或相近的物質成分。基本程序為:

圖4-12 工作曲線示意圖

1.測區基本地質情況的了解

在進行野外現場X射線熒光分析工作之前,首先要對測區的基本地質情況有一個基本的了解(包括基本岩石類型及其分布情況、地質構造的發育及分布、礦化蝕變類型、不同元素及元素組合分布特點等)。在此基礎上,再根據地質學基礎理論知識,並結合已經掌握的基本地質情況綜合考慮,來確定野外現場X射線熒光分析元素及元素組合的種類。

2.儀器工作性能檢查和工作狀態的調節

儀器工作性能檢查有:三性檢查、儀器穩定性檢查;它需要每天工作開始和工作結束都應進行,並在工作中亦應注意檢查,一旦發現儀器性能有重大變化,要及時檢查原因,排除故障,並重新製作標准曲線。一般根據測量條件,選擇已知含量的單元素或岩礦露頭作為檢查標准。

工作狀態調查包括測量時間、測量元素的能量、測量元素的道址確定。因為熒光儀工作性能的好壞,將直接決定最終工作的成敗。所以開展工作前,必須保證所使用的X射線熒光儀工作性能穩定正常;並按儀器操作說明書完成測試參數的設置准備工作(完成各種目標元素微分譜的測量,並根據所測目標元素的微分譜來對目標元素的測量道址進行設置等)。

3.工作區測網的布置

與其他物化探方法一樣,X射線熒光現場測量也按一定的網度進行工作。由於X射線熒光方法具有現場快速、低成本和X射線穿透深度和作用范圍較小的特點,一般都要求加密測網。按常用的計算方法,以成圖比例尺分母的1/100(單位:m)為線距的基礎上再加密一倍。例如作1:10000的測量,一般線距為100m,而X射線熒光方法取線距為50m。點距在外圍找礦時取5m,異常點加密到1m。詳查工作取線距5~10m,點距0.2~0.5m。在需要作圈定礦化邊界和元素定量(或近似定量)測定時,常採用加密測量,取點距5~10cm。必要時作多線測量,取線距10cm。類似於刻槽取樣。

具體的測網密度布置,在不同的地質找礦、地質勘探階段,在不同地區,不同的地質條件下可以不同。均可以按照放射性物探方法或在其他物化探方法測網布置要求的基礎上進行必要的加密即可。

4.工作曲線的建立

刻槽取樣時,標准曲線的建立是在原生露頭上選擇有礦化的地段,該地段的岩性對於該礦區具有代表性;選平均含量不同的5~10處,長度一般50~200cm,在每段上進行精確的X射線熒光剖面測量,求全長測點的平均熒光強度,然後按測線長度進行刻槽取樣,取樣深度1~1.5cm,進行化學分析,確定待測目標元素含量,作為工作曲線。

塊狀樣品時,選擇有代表性的塊狀礦石樣品,含量從低到高,10塊左右,有近似的測量平面,有足夠的飽和厚度。對其進行待測目標元素特徵X射線強度的精確測量,再對礦石進行化學分析,同樣可以建立目標元素熒光與含量關系的標准曲線。

一般情況下一個礦區,礦石類型區別不大,建立一條標准曲線即可。如果出現不同類型,應當另外建立標准曲線,保證曲線與測量對象岩性和基體成分相一致。

5.測點上X射線熒光的測量工作

為了保證測量數據的可靠性,所選測點應具有一定的代表性,在測點上除了完成必須的地質工作和其他的測量方法所需的工作外,還應進行一定精度要求的現場X熒光測量。這種X射線熒光測量方法有兩種:一是直接在所選測點上將探測器放置平穩後進行直接測量,但測量前必須對測量位置的岩石表面進行必要的清理,使測點表面是新鮮的和較為平整的,以保證整個測量過程中探測器、激發源和樣品之間距離的一致性。二是用隨儀器配置的碎樣加工工具,採集有代表性的測點樣品進行粉碎到一定粒度後,將樣品放在樣品杯中放置於探測器的探測窗口上進行測量。這種方法可以提高被測樣品的測量精度和數據的可信度。

6.測量數據的整理和相應圖件的編制

為了保證測量數據的精確度和准確度,減少統計誤差帶來的影響,必須對測量所獲取數據資料進行審核以減少測量誤差,保證數據的可信度,提高地質異常解釋評價的質量。

根據不同的工作目的,X射線熒光測量數據可以編繪成各種相應的地質圖件,如X射線熒光測量等值線圖、X射線熒光強度頻率分布直方圖、各種勘探工程的X射線熒光測量剖面圖等。

(三)影響因素及修正

1.礦化不均勻

無論是原生礦床或是次生礦床,礦石和脈石之間是不可能呈均勻分布,礦化不均勻總是存在的,也是一種隨機過程。在岩礦露頭沿一條測線逐點進行待測目標元素含量測量,探測器所放置的位置,對於每個測點來講可能正好在礦石上,完全是隨機的,一條測線的平均含量,對於整個礦床來講,也是隨機量,所以測線平均含量,應當服從統計規律。整個礦床只要測線按一定的格式均勻布置,每條測線上的測點按照一定點距進行測量,礦化不均勻影響可以降低到最小。

2.岩石礦表面不平度

岩礦石表面高低不平對含量測量影響明顯,下列方法可克服不平度影響(葛良全等,1997):

(a)以元素特徵X射線強度與散射強度的比值代替特徵X射線強度計算含量,散射射線能量盡可能靠近特徵熒光能量。

(b)採用最佳激發源與樣品之間的距離。

(c)在探測器照射立體角內應盡量平整,即在測量前對測線上的岩礦石適當修理平整。

(d)測點距不要太大,有利於減小不平度的影響。

3.濕度

岩礦石受潮,主要孔隙中充水,會使吸收系數和散射系數增大,造成的影響基本呈線性變化。一般講,只要測量岩礦石的濕度與標准樣品相接近,濕度影響可以忽略不計,但其對低能量影響明顯。

❸ 熒光分光光度計使用求助

一般儀器軟體支持十幾小時時間掃描是不多,如果廠家不能提供你就只有自己想辦法了。如果你動手能力強,可以把儀器檢測到的螢光信號提出來(把信號線引出來,測電壓值),自己編一個小軟體,可以在EXCEL上連續顯示數據,就可以完成你的實驗了。應該不是太難的

❹ 測量儀器怎麼使用方法

工具:電池,測量儀。

1、首先在測試之前,要在測量儀器里安裝電池。

❺ 怎麼使用atp生物熒光檢測儀,有人懂嗎

ATP生物熒光檢測儀操作使用方法,供大家參考:
1、開機預熱,30秒後即進入工作狀態;
2、將一體化試劑采樣棉簽棒從超凈管中拔出准備采樣;
3、對被測物進行采樣;
4、采樣完後放進超凈管中旋緊密封;
5、按壓一體化試劑棒頂部使密封腔內試劑自動流入超凈管中與棉簽棒上標本發生ATP反應;
6、按壓儀器頂部橙黃色按鈕使試劑艙蓋自動彈開;
7、將正在發生反應的一體化試劑插入儀器試劑艙接受檢測;
8、經過十幾秒檢測時間儀器完成標本檢測,自動顯示、存儲、傳輸ATP檢測結果。

❻ 紅外線水平儀的使用方法

一:首先打開 開關 ,(開關是在側面)激光水平儀三線還是五線的。水平儀上應該有一個自動校正系統(上面有水珠校正,水珠在圈子裡就可以了。)不平的話它會自動發出聲音的,水平之後就沒有聲音了。


四:為避免由於水平儀零位不準引起的測量誤差,因此在使用前必須對水平儀的零位進行校對或調整。

拓展資料:

使用注意事項:

一、測量前,應認真清洗測量面並擦乾,檢查測量表面是否有劃傷、銹蝕、毛刺等缺陷。

二、檢查零位是否正確。如不準,對可調式水平儀應進行調整,調整方法如下:將激光水平儀放在平板上,讀出氣泡管的刻度,這時在平板的平面同一位置上,再將激光水平儀左右反轉180°,然後讀出氣泡管的刻度。若讀數相同,則激光水平儀的底面和氣泡管平行,若讀數不一致,則使用備用的調整針,插入調整孔後,進行上下調整。

❼ 跪求 FMS -2 熒光儀 使用方法

熒光儀
利用調制熒光技術把作用光信號與熒光信號區分開,在測定時,給植物材料施加一個脈沖調制光束,該脈沖光使植物葉片產生一個脈沖的熒光信號,當有自然光存在時,
產品詳細信息
熒光儀
利用調制熒光技術把作用光信號與熒光信號區分開,在測定時,給植物材料施加一個脈沖調制光束,該脈沖光使植物葉片產生一個脈沖的熒光信號,當有自然光存在時,X55/FMS-2的濾光系統只允許三種形式的光信號到達檢測器。1. 具有熒光波長的自然光;2. 由自然光誘導出的非脈沖熒光信號;3. 由脈沖調制光束誘導出的脈沖熒光信號。

脈沖熒光信號的大小可以反映出葉片生理狀況,所以由脈沖調制光束誘導出的脈沖熒光信號便用來作為光系統II光能利用效率大小的探針。FMS2屏棄前兩種光信號,通過對第三種光信號的分析和處理可以得到Fo, Fm, Fs, Fo', Fm', Fv/Fm,ΦPSⅡ, qP, qNP, NPQ, ETR, PAR, TL熒光參數,並可以准確記錄葉綠素熒光誘導動力學曲線。

該系統具有溫度補償式電子系統,可更換充電電池供電,整合式光源,配有光量子探頭及溫度探頭整合式葉夾,可與計算機聯用也可離線單獨使用,隨帶的強功能軟體可使用戶隨意設置系統的調制光、光化光、脈沖光,並按用戶設定的順序測定各種所需熒光參數。用戶也可以根據各種實驗要求,自編六種不同的程序下載到儀器中,並可將儀器帶到田間,只須簡單按下「RUN」鍵,便可進行各種熒光參數的測定。可以與英國Hansatech公司生產的各種氧電極及PP-Systems公司生產的CIRAS-2攜帶型光合儀聯用,同時測定溫度、光照及CO2控制條件下的光合及熒光。

主要技術指標:

● 體積:18×10×10cm,重量:1.7 Kg。

● 594 nm 的調制光束,4種可調頻率。

● 0-3,000μmol·m-2·s-1(50個可調梯度)可調光化光。

● 0-20,000μmol·m-2·s-1 (99個可調梯度) 可調脈沖光。

● 730 nm.用於激發PSI的遠紅光。

● 樣品採集速率: 每秒10 - 20,000 次,由用戶設置確定。

● 強功能WINDOWS軟體。

● 光合有效輻射測定范圍:PAR 0-2000μmol·m-2·s-1

● 葉溫測定范圍: -10 –90 度。

● 內存 256Kb。

X55/FMS-2脈沖調制式熒光儀基本配置:

1. 箱子 1個

2. 背包 1個

3. 主機 1台

4. 光纜 1根

5. 光量子/溫度探頭葉夾 1套

6. 暗適應夾 10個

7. 開放式光纖適配器 1個

8. 密閉式光纖適配器 1個

9. 傳輸線 1根

10. 充電電池 5塊

11. 充電器 1個

12. 充電器電源 1個

13. 操作手冊 1本

14. 軟體 2盤

❽ 紅外線測溫槍如何使用

只要把「槍口」對准待測物體,「槍尾」的顯示屏里就能用數字直接報告那個物體的溫度。

原理:在自然界中,一切溫度高於絕對零度的物體都在不停地向周圍空間發出紅外輻射能量。物體的紅外輻射能量的大小及其按波長的分布 —— 與它的表面溫度有著十分密切的關系。因此,通過對物體自身輻射的紅外能量的測量,便能准確地測定它的表面溫度,這就是紅外輻射測溫所依據的客觀基礎。

光學系統匯聚其視場內的目標紅外輻射能量,視場的大小由測溫儀的光學零件及其位置確定。紅外能量聚焦在光電探測器上並轉變為相應的電信號。

該信號經過放大器和信號處理電路,並按照儀器內置的演算法和目標發射率校正後轉變為被測目標的溫度值。除此之外,還應考慮目標和測溫儀所在的環境條件,如溫度、氣氛、污染和干擾等因素對性能指標的影響及修正方法。

(8)熒光線測量儀使用方法擴展閱讀:

物體發射率對輻射測溫的影響:自然界中存在的實際物體,幾乎都不是黑體。所有實際物體的輻射量除依賴於輻射波長及物體的溫度之外,還與構成物體的材料種類、制備方法、熱過程以及表面狀態和環境條件等因素有關。

因此,為使黑體輻射定律適用於所有實際物體,必須引入一個與材料性質及表面狀態有關的比例系數,即發射率。根據輻射定律,只要知道了材料的發射率,就知道了任何物體的紅外輻射特性。

影響發射率的主要因素:材料種類、表面粗糙度、理化結構和材料厚度等。

當用紅外輻射測溫儀測量目標的溫度時首先要測量出目標在其波段范圍內的紅外輻射量,然後由測溫儀計算出被測目標的溫度。單色測溫儀與波段內的輻射量成比例;雙色測溫儀與兩個波段的輻射量之比成比例。

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