西藏光學測量分析系統使用方法

⑴ 光學測量

給你介紹幾種常用的：

1、激光三角法測距。

利用激光良好的方向性，以及幾何光學成像的比例特性，將一束激光照射到物體上，在與激光光束成一定角度的位置用光學成像系統檢測照射到物體的光斑，這樣鏡頭-光斑、鏡頭平面到激光光束的連線、光斑到鏡頭平面與激光光束交點構成一三角形，而鏡頭-光斑的像、鏡頭平面以及過光斑的像的激光光束平行線與鏡頭平面的交點成一個與前面所描述的三角形相似的三角形。用光電感測器陣列檢測到光斑的像的位置，則可以根據三角形性質計算出光斑位置。這種測量方法適合距離較短的情況。

目前的激光三坐標測量機（抄數機）一般都採用激光三角法測距。

2、光速法測距。

利用光速不變原理，檢測激光發射與反射光反射回來的時間差，從而計算出距離。為了提高精度，可以將激光調制上一個低頻信號，利用測量反射光的相位差來測得反射時間差。這種方法一般用於遠距離測量。

目前各種激光測距儀一般用這種方法測量。

3、激光干涉法測距。

這是一種相對測量， 它無法測得一個物體離儀器的絕對距離，但可以測得兩被測物體的相對距離。它的原理是一台邁克爾遜干涉儀，利用反射鏡距離變化時干涉條紋的變化來測量，反射鏡從物體A運動到物體B，干涉條紋變化的數量反映了其距離。這種測量要求條件較高，但是可以精確測量，它也是目前所有測量手段中最精確的一種。

4、光學圖象識別技術測量位移。

其所用原理與三角法相似，但是可以不用激光，而是直接對移動物體拍照，利用前後兩幅圖片中物體在圖片中的位移來計算物體真實的位移。、

這種技術在光電滑鼠中大量使用。

5、光柵測量位移。

利用光柵形成的莫爾條紋，計算莫爾條紋變化量即可計算出位移量。

這是目前應用最多的技術，光柵尺大量應用於工業上的行程測量。

6、激光衍射法測量細絲、小孔直徑和狹縫寬度。

測量衍射斑的大小就可以計算出孔或縫的尺寸。

7、激光掃描法測量物體外尺寸。

其本質就是利用光的直線傳播原理和激光的良好方向性，通過測量物體影子的尺寸來間接得到物體尺寸。

8、激光多普勒測量位移。

利用多普勒頻移原理測量物體的速度，對速度進行積分就得到位移。

9、激光全息法、散斑法測量位移。

原理十分復雜，我就不講了，你有興趣的話可以自己查資料。

⑵ 光學垂准儀的使用方法

激光垂准儀是利用光學準直原理，將與視准軸重合的可見激光產生的鉛垂線來對准基準點從而進行定位的儀器，常用作控制軸線向上投測的工具。在高層建築、高塔、煙囪、電梯、大型機構設備的施工安裝等場合有著廣泛的應用。
1.安置、對中、整平
將三腳架安置在測站點上，儀器安裝在三腳架的基座強制中心孔內，鎖緊基座固定鈕，使儀器穩固。
調節三腳架高度，使望遠鏡目鏡大致與人眼等高。打開對點激光開關，調節對點調焦手輪，使激光聚焦在測站點上。調節三腳架，使圓水泡氣泡居中。轉動儀器照準部，使長水準器與任意兩個腳螺旋的連線平行，以相反的方向等量旋動這兩個腳螺旋，使氣泡居中。將儀器照準部轉動90?，旋動第三個腳螺旋，使氣泡居中。用上述方法反復調整，直到儀器轉動到任意位置，氣泡最大偏離值不超過四分之一格值為止。
將儀器照準部轉動 180?檢查對中情況，若有偏離，松開中心螺旋，將整個儀器在架頭上平移，直至激光斑與測站點精確對中。
轉動照準部，確認儀器轉動到任意位置，長水準器氣泡居中，如有偏離，重復以上步驟。
確認對中，整平完成後，可將對點激光關閉以節省用電。
2.照準
在目標處放置網格激光靶。
轉動望遠鏡目鏡使分劃板十字絲清晰，再轉動調焦手輪使激光靶在分劃板上成像清晰，並盡量消除視差，即當觀測者輕微移動視線時，十字絲與目標之間不能有明顯偏移。否則，應繼續上述步驟直至無視差。
3.向上垂准
A.光學垂准
如果儀器已經校正好，當儀器整平後，視准軸同豎軸同軸誤差≤5°，可以作為垂准線，一次觀測可保證垂准精度。
但為提高垂准精度，應將儀器照準部旋轉180?，通過望遠鏡獲得第二個觀測值，取其中數（中點）為測量值。
B.激光垂准
打開垂准激光開， 會有一束激光從望遠物鏡中射出，並聚焦在激光靶上，激光光斑中心處的讀數既為觀測值。同樣建議用戶通過旋轉照準部，對徑讀數的方法提高垂准精度。
如需要通過望遠鏡目鏡讀數時，一定要在目鏡外裝上濾色片，減少激光對人眼的傷害。
為了正確合理地使用和保管儀器，保證垂准精度，延長儀器的使用壽命，請注意以下事項
1.儀器從包裝箱內取出應小心，一手握提手，一手托住三角基座，不要用力拉激光外罩和望遠鏡筒部
2.觀測時，用兩手轉動照準部下半部分的圓盤來轉動儀器，不要用力推提手或激光外罩部分
3.使用時，應避免陽光直接照射在儀器上
4.儀器暴露在外面的光學鏡片上有灰塵時，可用軟毛刷輕輕刷去，有水氣或油污時，可用檫鏡紙或干凈的絨布輕輕地檫凈
5.冬天室內外溫差大，儀器在拿到室外或室內時應間隔一段時間後再開箱
6.儀器不使用時，應放在儀器包裝箱內，箱內放適量的乾燥劑，箱子放在乾燥，清潔，通風良好的房間內‍

⑶ 光學儀器如何進行使用

光學儀器如何進行使用？內窺鏡和其他的用於微創手術的醫療光學儀器在每次使用之前必須進行消毒。現今藉助高壓滅菌進行消毒，其中，光學儀器在高於3bar的壓力和高於130℃的溫度下用熱蒸汽進行處理。

這種類型的用於微創手術的光學儀器例如由DE 195 07 205C2公開。

為了確保，即使在高壓滅菌的高度熱負荷下也沒有濕氣侵入儀器殼體中，由實踐得知，用作玻璃罩和/或端部透鏡的在端側的端窗通過焊接或釺焊流體密封地與儀器殼體連接。

為了將端窗焊接到儀器殼體的相應的窗框中，端窗具有金屬的邊緣塗層，由此端窗可藉助錫或金焊料焊接到為此設置的窗框中。在焊接到窗框中時相應的端窗被液態的焊料浴包圍。在端窗基本在焊料浴中浮動的位置中，難以使端窗精確地布置窗框的中間。端窗的偏心位置此時自動地導致在端窗和窗框之間的焊料層的厚度不同。

由於對儀器殼體、窗框和焊料使用的材料的熱膨脹系數不同，尤其在端窗偏心放置在窗框中的情況下始終會出現顯著的應力，該顯著的應力會導致端窗上形成裂紋和/或應力破裂以及由此導致不密封。

技術實現要素：

在此基礎上，本發明的目的是，提供用於微創手術的光學儀器，在其中端窗可低應力地固定在對應的窗框中。

根據本發明，該目的的實現方案的特徵在於，在每個窗框的面對相應的端窗的內周面上構造至少兩個從窗框沿徑向向內突出的區段。

通過構造分開的從窗框沿徑向向內突出的各個區段，在焊接期間相應的端窗保持在窗框的中間，因為基於沿徑向向內突出的區段基本沒有留下空間用於端窗的偏心布置。因此，該構造使得，在端窗的需要焊接的整個周邊上可形成厚度基本均勻的焊料邊緣。通過圍繞相應的端窗的厚度均勻的焊料邊緣可明顯降低在釺焊和冷卻時出現的作用到相應的端窗上的應力，從而在端窗上不再出現應力裂紋或應力破裂。

通過本發明的優選的實施方式提出，在每個窗框上構造三個或四個沿徑向向內突出的區段。

已經發現，三個或四個沿徑向向內突出的區段的構造方式特別有效，從而確保端窗在相應的窗框中的居中布置，並且另一方面提供足夠的自由空間來形成厚度基本均勻的焊料邊緣。

當然根據本發明也可在對應的窗框上設置多於四個沿徑向向內突出的區段。

此外，通過本發明提供，在每個窗框的沿徑向向內突出的區段的徑向內表面和對應的端窗之間留有用於構造焊料層的間隙。在窗框和端窗之間留有的間隙確保在周邊完全包圍端窗的焊料邊緣的構造方式，該焊料邊緣確保流體密封的密封。

為了形成沿徑向向內突出的區段，根據本發明提出，從窗框沿徑向向內突出的每個區段都構造成波形的前拱起部。

由於波形的前拱起部實現了在窗框和端窗之間的焊料邊緣構造成特別薄的區域的基本僅點狀的構造方式。

窗框的沿徑向向內突出的區段的波形構造一方面足以使端窗置於窗框的中間且另一方面確保厚度基本均勻的焊料邊緣的構造，由此明顯降低了由於使用材料的熱膨脹系數不同而形成可能的應力。

為了確保端窗在對應的窗框中的居中位置，根據本發明提出，一個窗框的所有的波形的前拱起部具有相同的拱起半徑。當然可能的是，在具有多個端窗的光學儀器中每個窗框的波形的前拱起部的拱起半徑與同一光學儀器的其他窗框的拱起半徑不同。

根據本發明還可通過以下方式降低由於使用材料的熱膨脹系統不同而可能出現的應力，即，沿徑向向內突出的區段均勻地在相應的窗框的內周上分布地布置。這是指，例如在使用三個區段的情況下該三個區段以120°以及在四個區段的情況下該四個區段以90°彼此錯開地在窗框的內周上分布地布置。

為了形成用於容納端窗的窗框，通過本發明提出，儀器殼體的遠端和/或近端形成窗框。遠端和/或近端的殼體內壁直接作為窗框的構造方式尤其應用在筒體直徑很小、例如小於10mm的光學儀器中。

最後，通過本發明的可替代的實施方式提出，窗框構造成可固定在儀器殼體的遠端和/或近端上的單獨的構件。窗框作為可固定在遠端和/或近端的殼體內壁上的單獨的構件的構造方式尤其應用在筒體直徑較大、例如為10mm以及更大的光學儀器中。

附圖說明

本發明的其他特徵和優點根據僅示例性地示出依據本發明的用於微創手術的光學儀器的實施例的相應附圖獲得，本發明不限於該實施例。在附圖中示出：

圖1示出了根據現有技術的構造成內窺鏡的用於微創手術的光學儀器的示意性縱剖面；

圖2示出了根據本發明的光學儀器的遠端的經剖切的前視圖；以及

圖3示出了根據圖2的細節III的放大示意圖。

具體實施方式

圖1的繪圖示意性地示出了構造成內窺鏡的用於微創手術的光學儀器1的構造。光學儀器1具有中空的儀器殼體2，各種光學元件、例如透鏡3和光纖束4布置在中空的儀器殼體中。

儀器殼體2在遠端5以及近端6處分別經由端窗7流體密封地封閉，端窗布置在周邊完全包圍端窗7的窗框8中。

在圖1示出的光學儀器1中，遠端的端窗7構造成端部透鏡9並且近端的端窗7構造成在目鏡單元11中的玻璃罩10。

內窺鏡和其他的醫療光學儀器1在每次使用之前必須進行消毒。現今藉助高壓滅菌進行消毒，其中，光學儀器1在高於3bar的壓力和高於130℃的溫度下用熱蒸汽進行處理。

為了確保，即使在高壓滅菌的高度熱負荷下也沒有濕氣侵入儀器殼體2中，用作玻璃罩10和/或端部透鏡9的在端側的端窗7尤其通過熱接合工藝、例如焊接或釺焊流體密封地與儀器殼體2連接。通常，粘結方法不適用於接合端窗7，因為粘結連接不能長時間地承受高壓滅菌的熱負荷。

在對光學儀器1進行高壓滅菌時，由於使用的材料的熱膨脹系數不同，在與儀器殼體2焊接或釺焊的端窗7中會出現顯著的應力，該顯著的應力會導致端窗7形成裂紋和/或應力破裂以及由此導致不密封。

該應力在根據現有技術的光學儀器1中會通過以下方式出現，即，在焊接到窗框8中時相應的端窗7被液態的焊料浴包圍且僅藉助焊接芯軸固緊。為了使端窗7焊接到儀器殼體2的相應的窗框8中，端窗7具有金屬的邊緣塗層，由此端窗可藉助錫或金焊料焊接到為此設置的窗框8中。

在端窗7基本在焊料浴中浮動的位置中，尤其在成角度的光學系統中很難的是，使端窗7精確地布置窗框8的中間。端窗7的偏心位置此時自動地導致在端窗7和窗框8之間的焊料層的厚度不同，從而在釺焊時會出現不同的熱膨脹以及在後續冷卻時會出現不同的熱收縮。

為了構造用於容納端窗7的窗框8，原則上提供兩種不同的實施方式。

優選在儀器殼體2的筒體直徑很小、例如直徑小於10mm的光學儀器1中，尤其在儀器殼體2的遠端5處儀器殼體2的殼體內壁直接形成窗框8。

在儀器殼體2的筒體直徑較大、例如筒體直徑為10mm以及更大的光學儀器1中，尤其在儀器殼體2的遠端5處窗框8構造成單獨的構件，單獨的構件可固定在儀器殼體2的遠端的殼體內壁上，如在圖2中示出地。

下面根據附圖圖2和圖3闡述窗框8的構造。

為了提供可使端窗7低應力地固定在對應的窗框8中的光學儀器1，在每個窗框8的面對相應的端窗7的內周面上構造至少兩個從窗框8沿徑向向內突出的區段12。

如尤其從圖3中可見，沿徑向向內突出的區段12優選構造成窗框8的波形的前拱起部13。向內突出的區段12的徑向高度的尺寸如此確定，即，在每個窗框8的沿徑向向內突出的區段12的徑向內表面14和對應的端窗7之間留有用於構造焊料層的間隙15。

通過構造分開的從窗框8沿徑向向內突出的各個區段12，在焊接期間相應的端窗7保持在窗框8的中間，因為基於沿徑向向內突出的區段12以及在區段12的徑向內表面14和端窗7的外周之間的僅很小的間隙15基本沒有留下空間用於端窗7的偏心布置。因此，該構造使得，在端窗8的需要釺焊的整個周邊上可形成厚度基本均勻的焊料邊緣。通過圍繞相應的端窗7的厚度均勻的焊料邊緣可明顯降低在釺焊和冷卻時出現的作用到相應的端窗7上的應力，從而在端窗7上不再出現應力裂紋或應力破裂。

在圖2示出的實施方式中，窗框具有四個構造成波形的前拱起部13的沿徑向向內突出的區段12。當然也可在每個窗框8上僅設置三個或多於四個的沿徑向向內突出的區段12。

在附圖圖2中波形的前拱起部13與窗框8以及與端窗7成比例地增大且未按尺寸比例示出，從而可清楚地示出沿徑向向內突出的區段12的構造。

如還由圖2可看出，沿徑向向內突出的四個區段12以90°彼此錯開地均勻地在窗框8的內周上分布地布置。沿徑向向內突出的區段12在窗框8的內周上的均勻分布降低了應力的出現，因為由此使得焊料邊緣更加均勻地形成在端窗7的周邊上，即使沿徑向向內突出的區段12為其他數量時以相應的角間距的均勻分布也是有利的。

為了確保端窗7在對應的窗框8中的居中位置，窗框8的所有波形的前拱起部13具有相同的拱起半徑r。

當然也可在具有多個端窗7的光學儀器1中使每個窗框8的波形的前拱起部13的拱起半徑r與相同光學儀器1的其他窗框8的拱起半徑r不同。

因此，光學儀器1的如前所述地構造的窗框8的特徵是，基於從窗框8沿徑向向內突出的區段12的構造，需要焊接到窗框8中的端窗7可始終位於窗框8的中間。這同時確保在窗框8和端窗7之間構造有厚度基本均勻的焊料邊緣，由此在釺焊和冷卻時出現的作用到相應的端窗7上的應力可明顯減小，從而在端窗7上不再出現應力裂紋或應力破裂。

附圖標記列表

1 光學儀器

2 儀器殼體

3 透鏡

4 光纖束

5 遠端

6 近端

7 端窗

8 窗框

9 端部透鏡

10 玻璃罩

11 目鏡單元

12 區段

13 前拱起部

14 內表面

15 間隙

r 拱起半徑

⑷ 測量系統分析方法有哪些

「計量型」測量系統分析通常包括偏倚(Bias)、穩定性(Stability)、線性(Linearity)、以及重復性和再現性(Repeatability&Reprocibility，簡稱R&R)。在測量系統分析的實際運作中可同時進行，亦可選項進行，根據具體使用情況確定。

⑸ 六西格瑪培訓測量系統分析步驟是怎麼樣的

六西格瑪工具之測量系統分析步驟
測量系統分析是六西格瑪系統的重要工具，在「DMAIC」模式的各個階段，均會用到測量系統分析，如下圖所示:

根據被測量對象的性質和測量系統分析需要，可以選用不同的測量系統分析方法。

一、根據測量對象的性質，測量系統分析可分為兩類:
1、連續數據測量系統分析
連續數據測量系統分析對象為連續測量數據，如質量、長度、時間、高度、溫度等。

2、離散數據測量系統分析
離散數據的測量系統分析對象為離散數據，如「合格」、「不合格」、「通」「止」等。

二、連續數據測量系統分析方法
有多種連續數據測量系統分析方法，可根據分析需要進行選擇，一些使用較為廣泛的連續數據測量系統分析方法如下:
1、方差分析法
方差分析法是分析連續數據的重要測量系統分析方法之一。
①方差分析法的要求:
•選擇能夠代表整個過程范圍的10個被測量部品；
•選擇2-3名測量人員；
•每人對每個部品測2-3次。

②方差分析法的特點:
•可以識別部品、人員、測量儀器的誤差；
•可以識別人員和部品交互作用影響。

2、平均值和極差分析法
平均值和極差分析法是另一種常用連續數據測量系統分析方法。
①平均值和極差分析法的要求
•選擇能夠代表整個過程范圍的10個部品；
•選擇2-3個測量人員；
•每人對每個部品測量2-3次。

②平均值和極差分析法的特點
•可以識別測量人員、測量儀器、被測量部品的誤差。
•無法識別人員和部品交互作用的影響。

3、部品內偏差分析法
部品內偏差分析法是對平均值極差分析法的擴展，主要用於在被測量對象形狀特殊，需進行多次測量才能確定其尺寸的場合，計算誤差時去除部品本身的偏差。

4、部品內偏差分析法的要求
•選擇能夠代表整個過程范圍的5個部品；
•選擇2-3個測量人員；
•每人測定每個部品時同時記錄最大值和最小值；
•每人對每個部品尺寸重復測量2-3次。
特點：
①、可以用於特殊形狀部品（如圖形）的測量系統分析；
②、可以識別測量人員、測量儀器、被測部品的誤差。
5、簡略法
簡略法是一種簡單的測量系統分析方法，可以迅速對測量系統做出評價。
•選擇能夠代表整個過程范圍的5個部品；
•選擇兩個測量人員；
•每人測量每個部品1次。
特點：
①、可以識別測量系統總誤差；
②、無法區分測量人員誤差和測量儀器誤差。
6、即時法
即時法是分析自動測量系統的方法。
•選擇能夠代表整個過程范圍的10個部品；
•只有一名 操作人員；
•重復測量每個部品2-10次。
特點：
可以確定自動測量系統的重復性誤差。
三、離散數據分析方法
離散數據有專用的測量系統分析方法，可以識別一致性、再現性和重復性誤差。

⑹ 光學經緯儀使用方法

光學經緯儀就是一個望遠鏡加上一個標尺，相當與人眼直接觀察（當然是通過望遠鏡），沒什麼原理可言。
1、將經緯儀調平；
2、通過望遠鏡對准要觀測的物體1，讀出度盤刻度數值1；
3、旋轉望遠鏡，對准要觀測的物體2，讀出度盤刻度數值2；
4、計算：刻度2-刻度1=兩物體間的夾角（包括水平角和垂直角）。

原理和方法在參考資料里

⑺ 量測系統分析中的大樣法是怎樣用的求完整解析及公式計算方法

大樣法分適用於計數型量具。 比如，1.首先第1個人將50個產品測量完，然後第2個人再將這50個產品測完，一直到第3個也測量完。前提是這50個產品不能有明顯的標示，也就是盲測。
2.這3個人將這50個產品第1次測量完了，再反過來測量第2次、第3次....
3最後要據其結果算出結果，即大樣法中的kappa值。

測量系統分析(Measurement Systems Analysis,MSA) 數據是通過測量獲得的，對測量定義是:測量是賦值給具體事物以表示他們之間關於特殊特性的關系。這個定義由C.Eisenhart首次給出。賦值過程定義為測量過程，而賦予的值定義為測量值。

基本內容

從測量的定義可以看出，除了具體事物外，參於測量過程還應有量具、使用量具的合格操作者和規定的操作程序，以及一些必要的設備和軟體，再把它們組合起來完成賦值的功能，獲得測量數據。這樣的測量過程可以看作為一個數據製造過程，它產生的數據就是該過程的輸出。這樣的測量過程又稱為測量系統。它的完整敘述是:用來對被測特性定量測量或定性評價的儀器或量具、標准、操作、夾具、軟體、人員、環境和假設的集合，用來獲得測量結果的整個過程稱為測量過程或測量系統。

測量系統分析，是指用統計學的方法來了解測量系統中的各個波動源，以及他們對測量結果的影響，最後給出本測量系統是否合符使用要求的明確判斷。測量系統必須具有良好的准確性和精確性。他們通常由偏倚和方差等統計指標來表徵。偏倚用來表示多次測量結果的平均值與被測質量特性基準值(真值)之差，其中基準值可通過更高級別的測量設備進行若干次測量取其平均值來確定。波動是表示在相同的條件下進行多次重復測量結果分布的分散程度，常用測量結果的標准差σms或過程波動PV表示。這里的測量過程波動是指99%的測量結果所佔區間的長度。通常測量結果服從正態分布N(u，σ^2)，99%的測量結果所佔區間的長度為5.15σ。

目的

1. 確定所使用的數據是否可靠:

2. 評估新的測量儀器

3. 將兩種不同的測量方法進行比較

4. 對可能存在問題的測量方法進行評估

5. 確定並解決測量系統誤差問題

⑻ 光學合象水平儀的使用方法

光學合像水平儀的使用方法：

將合像水平儀安置在被檢驗的工作面上，由於被檢驗面的傾斜而引起兩氣泡的不重合，則轉動度盤，一直到兩氣泡重合為止，此時即可得出讀數。被檢件的實際傾斜度。

合像水平儀是具有一個基座測量面，以測微螺旋副相對基座測量面調整水準器氣泡，並由光學原理合像讀數的水準器式水平儀。

工作原理

合象水平儀是利用棱鏡將水準器中的氣汽象符合放大，來提高讀數的精確度，利用杠桿、微動螺桿這一套傳動機構來提高讀數的靈敏度。所以被測量件傾斜0.01毫米／米時，就可精確的在合象儀中讀出。（在合象水平儀中水準器主要是起指零的作用。）

可通過以下進行計算：

實際傾斜度＝刻度值X支點距離X刻度盤讀數

列如：刻度盤讀數為5格，對此種合像水平儀而言，刻度值和支點距離為定值，

即刻度值為0.01mm/m支點距離為165mm

則：實際傾斜度＝0.01/1000X165mmX5=0.00825mm

以上內容參考：網路－合像水平儀

⑼ 影像測量儀器怎麼使用方法

CNC影像測量儀的機械結構包括：測量平台、Z軸、顯微鏡、CCD、光源、電控系統和計算機。影像測量儀是一種廣泛應用於以二坐標測量為目的機械、電子、儀表、五金、塑膠等行業的高精度、高科技測量儀器，集光、機、電、計算機圖像技術於一體，又稱精密影像式測繪儀。 影像測量儀一般分為二維影像測量儀、二次元、自動影像測量儀、全自動影像測量儀、二次元影像測量儀、2.5D影像測量儀、影像測繪儀、類影像測量儀以及齒輪影像測量儀等。 影像測量儀能夠進行精密零部件的微觀檢測與質量控制，彌補了傳統投影儀的不足，對各種復雜工件的輪廓和表面形狀尺寸、角度及位置可以進行有效的測量。並且將測量數據進行統計以及圖表轉化等。

影像測量儀是一種由高解析度CCD彩色攝像器、連續變倍物鏡、彩色顯示器、視頻十字線發生器、精密光學尺、多功能數據處理器、2D數據測量軟體與高精密工作台結構組成的高精度光電測量儀器。[1]

2工作原理編輯
CNC影像測量儀通過計算機配備圖像採集卡，接收由顯微鏡和CCD獲取的圖像數據；光源在不同工件、不同測量要求下，保證計算機獲取到高質量的圖像數據；計算機通過USB介面向電控系統發送命令來移動測量平台和Z軸，使得需要測量的區域移動到顯微鏡的可視區域內；安裝在計算機上的精密測量軟體利用圖像處理技術對獲取的數據進行處理，完成對工件的測量。